【技术实现步骤摘要】
内存时钟相位确定方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及计算机
，特别是涉及一种内存时钟相位确定方法、一种内存时钟相位确定装置、一种电子设备以及一种可读存储介质。
技术介绍
[0002]目前，在定制板卡时，特别是板卡上常常会使用贴片式内存，对内存工作需要使用的一些参数进行调试需要花费很多时间。一些最基本的参数，例如，颗粒大小，硬件的行列地址线，颗粒的类型、bank(内存库)数等，因为参数比较固定，按照硬件及颗粒实际情况填写即可。
[0003]然而，一些比较复杂的参数，例如，内存的内存时钟相位，以为内存时序测试起来比较复杂，不能一蹴而就，参数就需要不断的试错，才能找到最合适的取值。
[0004]现有技术中，内存本身对时序要求较高，对于硬件走线不一样的板卡，有时无法训练出稳定的参数，而且对于贴片颗粒内存以及DDR(Double Data Rate，双倍数据速率)2内存无法做到自动训练的目的。综上所述，内存的内存时钟相位的参数调试费时耗力，而且对于贴片颗粒内存以及DDR2内存无法自动训练。<...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种内存时钟相位确定方法，其特征在于，包括：根据内存时钟相位的预设待测试值集合中的第一待测试值和第二待测试值，分别对内存进行第N组测试，得到对应的第一测试结果和第二测试结果；其中，所述N为大于等于1的整数；根据所述第一测试结果和第二测试结果中报错的数量以及所述第一待测试值和第二待测试值，确定第N+1组测试的内存时钟相位的待测试值；根据所述第N+1组测试的内存时钟相位的待测试值，确定通过测试的内存时钟相位的目标值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一测试结果和第二测试结果中报错的数量以及所述第一待测试值和第二待测试值，确定第N+1测试的内存时钟相位的待测试值包括：比较所述第一测试结果和第二测试结果中报错的数量；在两个测试结果中报错的数量不相等的情况下，将所述第一待测试值和第二待测试值的平均值，以及所述第一待测试值和第二待测试值中报错数量少的待测试值，作为所述第N+1组测试的内存时钟相位的两个待测试值；在两个测试结果中报错的数量相等的情况下，将所述第一待测试值和第二待测试值的平均值，作为第N+1组测试的内存时钟相位的待测试值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在两个测试结果中报错的数量不相等的情况下，所述根据所述第N+1组测试的内存时钟相位的待测试值，确定通过测试的内存时钟相位的目标值包括：根据所述第N+1组测试的内存时钟相位的两个待测试值，分别对所述内存进行测试，得到对应的两个测试结果；在所述两个测试结果中报错的数量相等的情况下，将所述第N+1组测试的两个待测试值的平均值，作为第N+2组测试的内存时钟相位的待测试值；根据所述第N+2组测试的内存时钟相位的待测试值，确定所述目标值。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在两个测试结果中报错的数量相等的情况下，所述根据所述第N+1组测试的内存时钟相位的待测试值，确定通过测试的内存时钟相位的目标值包括：根据所述第N+1组测试的内存时钟相位的待测试值，对所述内存进行测试，得到所述第N+1组测试的测试结果；在所述第N+1组测试的测试结果表明测试不通过的情况下，按照与所述第N+1组测试的待测试值的差值的绝对值从小到大的顺序，在所述预设待测试值集合中依次确定第N+y组测试的内存时钟相位的待测试值；其中，所述y为大于等于2的整数；根据所述第N+y组测试的内存时钟相位的待测试值，确定所述目标值。5.根据权利要求1
‑
4中任一项所述的方法，其特征在于，所述N＝1，在所述第一待测试值和第二测试值中的一个为所述预设待测试值集合中的最大值，另一个为所述预设待测试值集合中的最小值。6.一种内存时钟相位确定装置，其特征在于，包括：测试模块，用于根据内存时钟相位的预设待测试值集合中的第一待测试值和第二待测
试值，分别对内存进行第N组测试，得到对应的第一测试结果和第二测试结果；其中，所述N为大于等于1的整数；待测试值确定模块，...
【专利技术属性】
技术研发人员：余涛，段志伟，
申请(专利权)人：龙芯中科西安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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