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本公开提供了一种内存测试方法、装置、设备及存储介质，涉及内存测试技术领域。该方法包括获取多个无交集的内存测试单元；利用多个内核对各个内存测试单元进行测试，得到各个内核对各个内存测试单元的测试时间；根据各个内核对各个内存测试单元的测试时间，为...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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