一种射频接口适配器制造技术

本实用新型专利技术的目的在于提供一种射频接口适配器，包括主机适配接口单元、通用开关控制模块，所述通用开关控制模块用于接收上位机的控制指令，所述主机适配接口单元包括依次连接的小信号分配调理单元、大功率信号合成衰减单元，所述通用开关控制模块与小信号分配调理单元连接，所述大功率信号合成衰减单元与待测产品端连接；所述小信号分配调理单元包括若干个测试支路，所述测试支路上设置有电子开关。本实用新型专利技术通过大功率信号合成衰减单元对信号进行预处理并输出到小信号分配调理单元进一步处理，并输出到对应的仪器测试接口进行后续的测试。完成了待测产品的射频通路与内部测试设备的测试拓扑的构建，简化了测试拓扑的形态，具有较好的实用性。具有较好的实用性。具有较好的实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种射频接口适配器


[0001]本技术属于航管测试设备的
，具体涉及一种射频接口适配器。

技术介绍

[0002]目前在机场内或飞机大修厂对JZXWYD机进行功能检查及性能指标定量检测，需要将故障定位到LRU（LRM）级。射频适配接口主要用于完成待测产品的射频通路与检测设备的测试拓扑的构建，对待测信号进行调理，以满足检测设备的最佳测试条件，保障检测精度。为简化测试拓扑的形态，射频适配接口可设计为专门针对某一类待测产品或某一机型的所有待测设备，在体积允许的情况下尽量保证其通用性。在测不同产品时，可不用更换射频适配接口或仅更换一次射频适配接口即可完成所有的测试任务。考虑到进一步集成测试系统的需要，射频适配接口需考虑其小型化，因此不应过于复杂。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种射频接口适配器，通过大功率信号合成衰减单元对信号进行预处理并输出到小信号分配调理单元进一步处理，并输出到对应的仪器测试接口进行后续的测试。
[0004]本技术主要通过以下技术方案实现：
[0005]一种射频接口适配器，包括主机适配接口单元、通用开关控制模块，所述通用开关控制模块用于接收上位机的控制指令，所述主机适配接口单元包括依次连接的小信号分配调理单元、大功率信号合成衰减单元，所述通用开关控制模块与小信号分配调理单元连接，所述大功率信号合成衰减单元与待测产品端连接；所述大功率信号合成衰减单元包括从前至后依次连接的功合器和固定衰减器、第一同轴开关、耦合器，所述功合器用于接收并合成待测产品输出的多路天线接口信号，所述第一同轴开关分别连接小信号分配调理单元、耦合器，用于输出RF_X1信号至小信号分配调理单元，所述耦合器的输出端与小信号分配调理单元连接，用于输出功率信号RF_X2至小信号分配调理单元；所述小信号分配调理单元分别对应设置有RF_X1信号测试支路、RF_X2信号测试支路，所述RF_X2信号测试支路与第三电子开关连接，所述第三电子开关与第四电子开关连接，所述第四电子开关与功率频率计连接；所述RF_X1信号测试支路与第五电子开关连接，所述第五电子开关与矢网port2端口连接，用于相位一致性测试。
[0006]为了更好地实现本技术，进一步地，所述大功率信号合成衰减单元还包括从前至后依次设置的第一环形器、第二环形器、第二同轴开关，所述第一环形器与第二环形器之间并联有固定衰减器、程控衰减器；所述耦合器的输出端还与第一环形器连接，所述小信号分配调理单元还设置有RF_X3信号测试支路，用于输出待测产品的Ω信号，所述第二同轴开关分别与RF_X3信号测试支路、激励器连接。
[0007]为了更好地实现本技术，进一步地，所述RF_X3信号测试支路上依次设置有第三环形器、第四环形器，所述第三环形器与第三环形器之间并联设置有程控衰减器和固定
衰减器，第四环形器与第二电子开关连接，所述第二电子开关依次连接放大器、第三电子开关。
[0008]为了更好地实现本技术，进一步地，所述小信号分配调理单元还包括ΩL信号测试支路、ΩR信号测试支路、
△
信号测试支路、Σ信号测试支路；所述ΩL信号测试支路、ΩR信号测试支路分别依次与第一电子开关、第二电子开关连接，所述
△
信号测试支路、Σ信号测试支路分别与第六电子开关、第七电子开关连接，所述第六电子开关分别与第七电子开关、第五电子开关连接，所述第七电子开关与第八电子开关连接，所述第八电子开关与矢网port1端口连接。
[0009]为了更好地实现本技术，进一步地，所述小信号分配调理单元还包括外部源测试支路，所述外部源测试支路上设置有第九电子开关，所述第九电子开关分别与第五电子开关、第八电子开关连接，所述第八电子开关与第九电子开关之间依次设置有第一N
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FET开关、第二N
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FET开关、第二放大器、第三放大器。
[0010]为了更好地实现本技术，进一步地，所述通用开关控制模块包括FPGA主控芯片、接口转换芯片、通用串行总线，所述FPGA主控芯片通过接口转换芯片与上位机连接，且通过通用串行总线与主机适配接口单元连接。
[0011]本技术通过大功率信号合成衰减单元对信号进行功率调节和合成的预处理操作，处理成较小功率信号后送入小信号分配调理单元，所述小信号分配调理单元用于接收通用开关控制模块的驱动控制信号，对预处理后的射频信号进行进一步进行合成、功率调节、通道切换的处理，进而引出到仪器测试接口进行指标测试，或是形成询问应答回路。
[0012]本技术的有益效果如下：
[0013]（1）本技术通过大功率信号合成衰减单元对信号进行预处理并输出到小信号分配调理单元进一步处理，并输出到对应的仪器测试接口进行后续的测试。完成了待测产品的射频通路与检测设备的测试拓扑的构建，简化了测试拓扑的形态，具有较好的实用性。
[0014]（2）本技术采用模块化的设计思路，通过功能划分为通用接口控制和主机射频接口两部分，可独立安装、调试，互不影响。同时，采用通用的接口设计，使通用开关控制模块可以与不同的主机射频接口适配，满足多种型号待测产品的测试；
[0015]（3）本技术基于大功率信号与小功率信号的区分，将主机射频接口单元划分为两部分，大功率部分采用射频同轴开关，小功率部分采用电子开关，极大的降低了接口适配器的体积，利于接口适配器的小型化设计。
附图说明
[0016]图1为本技术的整体结构原理图；
[0017]图2为主机适配接口单元的整体结构原理图；
[0018]图3为大功率信号合成衰减单元的结构原理图；
[0019]图4为小信号分配调理单元的结构原理图；
[0020]图5为通用开关控制模块的结构原理图。
具体实施方式
[0021]实施例1：
[0022]一种射频接口适配器，如图1
‑
图4所示，包括主机适配接口单元、通用开关控制模块，所述通用开关控制模块用于接收上位机的控制指令，所述主机适配接口单元包括依次连接的小信号分配调理单元、大功率信号合成衰减单元，所述通用开关控制模块与小信号分配调理单元连接，所述大功率信号合成衰减单元与待测产品端连接；所述大功率信号合成衰减单元包括从前至后依次连接的功合器和固定衰减器、第一同轴开关、耦合器，所述功合器用于接收并合成待测产品输出的多路天线接口信号，所述第一同轴开关分别连接小信号分配调理单元、耦合器，用于输出RF_X1信号至小信号分配调理单元，所述耦合器的输出端与小信号分配调理单元连接，用于输出功率信号RF_X2至小信号分配调理单元；所述小信号分配调理单元分别对应设置有RF_X1信号测试支路、RF_X2信号测试支路，所述RF_X2信号测试支路与第三电子开关连接，所述第三电子开关与第四电子开关连接，所述第四电子开关与功率频率计连接；所述RF_X1信号测试支路与第五电子开关连接，所述第五电子开关与矢网port2端口连本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频接口适配器，其特征在于，包括主机适配接口单元、通用开关控制模块，所述通用开关控制模块用于接收上位机的控制指令，所述主机适配接口单元包括依次连接的小信号分配调理单元、大功率信号合成衰减单元，所述通用开关控制模块与小信号分配调理单元连接，所述大功率信号合成衰减单元与待测产品端连接；所述大功率信号合成衰减单元包括从前至后依次连接的功合器和固定衰减器、第一同轴开关、耦合器，所述功合器用于接收并合成待测产品输出的多路天线接口信号，所述第一同轴开关分别连接小信号分配调理单元、耦合器，用于输出RF_X1信号至小信号分配调理单元，所述耦合器的输出端与小信号分配调理单元连接，用于输出功率信号RF_X2至小信号分配调理单元；所述小信号分配调理单元分别对应设置有RF_X1信号测试支路、RF_X2信号测试支路，所述RF_X2信号测试支路与第三电子开关连接，所述第三电子开关与第四电子开关连接，所述第四电子开关与功率频率计连接；所述RF_X1信号测试支路与第五电子开关连接，所述第五电子开关与矢网port2端口连接，用于相位一致性测试。2.根据权利要求1所述的一种射频接口适配器，其特征在于，所述大功率信号合成衰减单元还包括从前至后依次设置的第一环形器、第二环形器、第二同轴开关，所述第一环形器与第二环形器之间并联有固定衰减器、程控衰减器；所述耦合器的输出端还与第一环形器连接，所述小信号分配调理单元还设置有RF_X3信号测试支路，用于输出待测产品的Ω信号，所述第二同轴开关分别与RF_X3信号测试支路、激励器连接。3.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：李堤阳，杨博，翟曦，
申请(专利权)人：成都能通科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：