一种幅相一致性测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种幅相一致性测试系统，包括port1端口、port2端口、发射模块、返回模块、采样电路、DDS信号源、控制电路、本振及时钟电路，采样电路分别与发射模块、返回模块连接，所述发射模块、返回模块分别连接port1端口、port2端口，所述发射模块、返回模块分别与DDS信号源连接，所述控制电路与采样电路连接，所述发射模块、返回模块分别包括定向耦合器和混频器，所述定向耦合器通过混频器与采样电路连接，所述发射模块、返回模块的定向耦合器分别连接port1端口、port2端口，所述本振及时钟电路与混频器连接。本实用新型专利技术可以实现幅相一致性测试，测试成本较低，具有较好的实用性。具有较好的实用性。具有较好的实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种幅相一致性测试系统


[0001]本技术属于幅相一致性测试的
，具体涉及一种幅相一致性测试系统。

技术介绍

[0002]幅相一致性测试卡主要针对TR组件等通道间的幅相一致性、隔离度、驻波等参数测试，其主体设计思路为借鉴矢量网络分析仪的工作原理，在功能上适度裁剪，以满足对数字TR组件等测试需求。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种幅相一致性测试系统，旨在实现幅相一致性测试。
[0004]本技术主要通过以下技术方案实现：
[0005]一种幅相一致性测试系统，包括port1端口、port2端口、发射模块、返回模块、采样电路、DDS信号源、控制电路、本振及时钟电路，所述采样电路分别与发射模块、返回模块连接，所述发射模块、返回模块分别连接port1端口、port2端口，所述发射模块、返回模块分别与DDS信号源连接，所述控制电路与采样电路连接，所述发射模块、返回模块分别包括定向耦合器和混频器，所述定向耦合器通过混频器与采样电路连接，所述发射模块、返回模块的定向耦合器分别连接port1端口、port2端口，所述本振及时钟电路、DDS信号源分别与混频器、定向耦合器连接。
[0006]为了更好地实现本技术，进一步地，所述发射模块包括从前至后依次连接的第一定向耦合器、第二定向耦合器以及从前至后依次连接的第一混频器、第二混频器，所述第一定向耦合器、第二定向耦合器分别通过第一混频器、第二混频器与采样电路连接，所述第一定向耦合器与DDS信号源连接，且第二定向耦合器与port1端口连接，所述第一混频器与本振及时钟电路连接。
[0007]为了更好地实现本技术，进一步地，所述发射模块包括第三定向耦合器、第四定向耦合器、第三混频器和第四混频器，所述第三定向耦合器、第四定向耦合器分别连接port2端口、DDS信号源，所述第三定向耦合器的输出端与第四定向耦合器连接，所述第三定向耦合器、第四定向耦合器分别通过第三混频器、第四混频器与采样电路连接，所述第四混频器与本振及时钟电路连接。
[0008]为了更好地实现本技术，进一步地，所述混频器的型号为ADE
‑
11X。
[0009]为了更好地实现本技术，进一步地，定向耦合器的型号为SCBD
‑
10
‑
63HP+。
[0010]为了更好地实现本技术，进一步地，所述采样电路为AD芯片，且型号为ADS6445。
[0011]为了更好地实现本技术，进一步地，所述控制电路通过PXIe总线与嵌入式控制器连接。所述嵌入式控制器为现有技术，故不再赘述。
[0012]本技术的有益效果如下：
[0013]本技术可以实现幅相一致性测试、驻波测试、隔离度测试，本技术针对待测产品的测试需求，选择适当的芯片，测试成本较低，具有较好的实用性。
附图说明
[0014]图1为本技术的整体结构示意图；
[0015]图2为本振及时钟电路的结构示意图。
具体实施方式
[0016]实施例1：
[0017]一种幅相一致性测试系统，如图1所示，包括port1端口、port2端口、发射模块、返回模块、采样电路、DDS信号源、控制电路、本振及时钟电路，所述采样电路分别与发射模块、返回模块连接，所述发射模块、返回模块分别连接port1端口、port2端口，所述发射模块、返回模块分别与DDS信号源连接，所述控制电路与采样电路连接，所述发射模块、返回模块分别包括定向耦合器和混频器，所述定向耦合器通过混频器与采样电路连接，所述发射模块、返回模块的定向耦合器分别连接port1端口、port2端口，所述本振及时钟电路、DDS信号源分别与混频器、定向耦合器连接。所述采样电路、DDS信号源、控制电路、本振及时钟电路均为现有技术且不是本技术的主要改进点，故不再赘述。
[0018]优选地，所述发射模块包括从前至后依次连接的第一定向耦合器、第二定向耦合器以及从前至后依次连接的第一混频器、第二混频器，所述第一定向耦合器、第二定向耦合器分别通过第一混频器、第二混频器与采样电路连接，所述第一定向耦合器与DDS信号源连接，且第二定向耦合器与port1端口连接，所述第一混频器与本振及时钟电路连接。
[0019]优选地，所述发射模块包括第三定向耦合器、第四定向耦合器、第三混频器和第四混频器，所述第三定向耦合器、第四定向耦合器分别连接port2端口、DDS信号源，所述第三定向耦合器的输出端与第四定向耦合器连接，所述第三定向耦合器、第四定向耦合器分别通过第三混频器、第四混频器与采样电路连接，所述第四混频器与本振及时钟电路连接。
[0020]优选地，所述混频器的型号为ADE
‑
11X。
[0021]优选地，定向耦合器的型号为SCBD
‑
10
‑
63HP+。
[0022]优选地，所述采样电路为AD芯片，且型号为ADS6445。
[0023]优选地，所述控制电路通过PXIe总线与嵌入式控制器连接。
[0024]幅相一致性测试是通过Port1端口发送一定频率的射频信号给待测设备，待测设备将响应后的信号经Port2端口送回，将发送和接收的射频信号经定向耦合器耦合后，送入采样电路进行采集分析，从而得出返回通道与发射通道幅度与相位的差异，逐一切换返回通道，从而间接的对返回通道的幅度和相位的一致性进行比较。本技术的工作原理与网络分析仪一致，更多的针对待测产品的测试需求，选择适当的芯片，测试成本较低，具有较好的实用性。
[0025]实施例2：
[0026]一种幅相一致性测试系统，如图1所示，借鉴了矢网的工作原理，通过DDS信号源产生扫频信号或者定频信号，可选择性的通过Port1或者Port2输出到待测设备，再经待测设
备响应后，通过Port1或者Port2返回系统。系统通过混频器将定向耦合器耦合过来的发射信号或者反射信号下变频为中频信号，通过采样电路对中频信号进行采样分析，从而获取待测设备的S参数。
[0027]所述本振及时钟电路用于为系统中的各类芯片提供时钟、本振等信号，也可接收外部提供的本振信号供混频器使用。参考时钟电路用于提供高稳定的参考时钟，同时也可接收外部参考时钟。控制电路用于对系统内的各类芯片进行控制，读取AD芯片的采样数据，并通过PCIe总线上传给嵌入式控制器。优选地，如图2所示，所述本振及时钟电路包括时钟分配器以及从前至后依次连接的时钟发生器、PLL芯片、低通滤波器、功放，所述PLL芯片与时钟分配器连接，用于输出时钟信号，所述功放输出本振信号。
[0028]驻波测试为单通道测试，将DDS发射的射频信号与待测设备反射回来的射频信号经定向耦合器耦合后进行采样分析，从而计算出待测设备的驻波比。
[0029]幅相一致性测试是通过Port1端口发送一定频率的射频信号给待测设备，待测设备将响应后的信号经Por本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种幅相一致性测试系统，其特征在于，包括port1端口、port2端口、发射模块、返回模块、采样电路、DDS信号源、控制电路、本振及时钟电路，所述采样电路分别与发射模块、返回模块连接，所述发射模块、返回模块分别连接port1端口、port2端口，所述发射模块、返回模块分别与DDS信号源连接，所述控制电路与采样电路连接，所述发射模块、返回模块分别包括定向耦合器和混频器，所述定向耦合器通过混频器与采样电路连接，所述发射模块、返回模块的定向耦合器分别连接port1端口、port2端口，所述本振及时钟电路、DDS信号源分别与混频器、定向耦合器连接。2.根据权利要求1所述的一种幅相一致性测试系统，其特征在于，所述发射模块包括从前至后依次连接的第一定向耦合器、第二定向耦合器以及从前至后依次连接的第一混频器、第二混频器，所述第一定向耦合器、第二定向耦合器分别通过第一混频器、第二混频器与采样电路连接，所述第一定向耦合器与DDS信号源连接，且第二定向耦合器与port1端口连接，所述第一混频器与本振及...

【专利技术属性】
技术研发人员：李堤阳，杨曦盛，赵俊，
申请(专利权)人：成都能通科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：