【技术实现步骤摘要】
一种高强度铜基表面镀复合层的键合丝
[0001]本技术涉及一种高强度铜基表面镀复合层的键合丝。
技术介绍
[0002]键合丝是连接芯片与外部封装基板和/或多层线路板的主要连接方式,键合丝发展趋势,从应用方向上主要是线径细微化、高车间寿命以及高线轴长度;从化学成分上,主要包括铜线在半导体领域大幅度取代金线,而银线和银合金在LED以及部分IC封装应用上取代金线。
[0003]然而,半导体封装用键合丝材料有键合金丝、键合银丝、键合铜丝、镀钯键合铜丝等。每种材料都有其特点和适应性,金线导电,散热,可靠性都很好,但是价格昂贵;键合银丝导电、导热性是金属中最好的;而键合铜丝存在被腐蚀的问题。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是针对现有技术缺陷,而提供一种高强度铜基表面镀复合层的键合丝。
[0005]为了实现上述本技术的目的,采取如下技术方案:
[0006]一种高强度铜基表面镀复合层的键合丝,所述键合丝包括铜芯与复合层;所述铜芯的圆周表面镀覆一层复合层,并经超细拉伸制成直径为Ф15~50μm的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高强度铜基表面镀复合层的键合丝,其特征在于:所述键合丝包括铜芯(1)与复合层(2);所述铜芯(1)的圆周表面镀覆一层复合层(2),并经超细拉伸制成直径为Ф15~50μm的复合层键合丝;其中,所述复合层为银钯复合层。2.根据权利要求1所述的高强度铜基表面镀复合层的键合丝,其特征在于:所述银钯复合层的厚度为:200~300nm。3.根据权利要求1所述的高强度铜基表面镀复合层的键合丝,其特征在于:所述铜芯...
【专利技术属性】
技术研发人员:张贺源,李天祥,
申请(专利权)人:深圳金斯达半导体材料有限公司,
类型:新型
国别省市:
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