【技术实现步骤摘要】
一种用于低电压电源的保护系统
[0001]本公开属于电源
,具体涉及一种用于低电压电源的保护系统。
技术介绍
[0002]随着芯片的集成度越来越高,从90nm到现在的5nm,制程变小,能耗比降低,性能越来越强,电压也越来越低。电压低的同时,芯片电源脚的耐压性也随着下降,这也导致在芯片测试过程中,一个过压毛刺或者静电都有可能击穿芯片电源脚。常规的芯片电源脚保护,都是通过DPS128HC电源卡利用自带的编程钳位或者量程钳位通过自检电压动态调节来限制芯片异常过电压,从而实现电源保护。但这种保护有一个缺点,即限制电压的反应速度不够快,在ATE未反应钳位电压的时间里,一些脆弱的芯片,可能已经被击穿损坏。
技术实现思路
[0003]针对现有技术中的不足,本公开的目的在于提供一种用于低电压电源的保护系统,该系统对于异常过电压的反应时间短,能够为芯片提供更加迅速的保护,从而降低电源脚损坏的可能性。
[0004]为实现上述目的,本公开提供以下技术方案:
[0005]一种用于低电压电源的保护系统,包括:TVS继 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于低电压电源的保护系统,其特征在于,所述保护系统包括:TVS继电器电路,TVS继电器电路连接被保护芯片的电源脚和接地脚,TVS继电器电路还连接有测试机;其中,所述TVS继电器电路包括继电器和TVS1以及TVS2,继电器分别连接TVS1和 TVS2的正极,TVS1和TVS2的负极连接。2.根据权利要求1所述的系统,...
【专利技术属性】
技术研发人员:李茂,卢旭坤,付立川,袁俊,
申请(专利权)人:上海利扬创芯片测试有限公司,
类型:新型
国别省市:
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