【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路测试，尤其涉及一种芯片分选防呆方法、一种芯片分选防呆系统、一种芯片分选防呆装置、一种芯片分选设备及一种存储介质。
技术介绍
1、芯片分选（分bin）指的是将一个芯片测试出来的数据按照一定规则分成若干个小组，每组代表一个bin。在芯片制造和测试过程中，往往会出现一些不完美的情况。比如，某些芯片出现了一些小问题，这些问题并不影响整个芯片的性能。但如果这些芯片直接混在一起，则会增加测试和分析的难度。此时可以通过芯片分选解决该问题。
2、在实际应用中，芯片分选通常是根据芯片测试数据的一些特定参数进行的。比如功耗、频率、温度等。通过将测试数据按照这些参数进行分类，可以得到若干个bin，每个bin代表一组具有相似属性的芯片。分类后，可以对芯片进行更精细的测试和分析，以便找出其中的问题或者优化设计。
3、目前而言，在基于分选机完成针对芯片成品的分类后，需人工根据tray（托盘）条码信息区分放置储位，即通过人工判定已测品属于哪一个bin项，再手动取出tray放置到不同标签标识的储位内，存在由于人工误判、错放成品导致造成混料赔偿风险的风险。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种芯片分选防呆方法、一种芯片分选防呆系统、一种芯片分选防呆装置、一种芯片分选设备及一种存储介质，用于解决或部分解决现有相关方法中由于存在人工误判导致芯片成品错放风险的技术问题。
2、本专利技术提供了一种芯片分选防呆方法，所述方法应用于本专利技术所提供的芯片分选防呆系统，
3、获取芯片批次信息，并读取放置在所述分选机的空tray的tray条码信息；
4、通过所述分选机结合预设分选设置以及所述批次信息装满所述空tray，获得满载tray，并产生满载报警，所述满载报警用于提醒现场人员将所述满载tray放入所述分选机对应的分选储位系统；
5、当所述满载tray被放入第一分选储位系统时，对所述tray条码信息进行信息比对；
6、若信息比对成功，则向所述分选机发出继续分选指令。
7、可选地，所述芯片分选防呆系统还包括服务器，在所述获得满载tray之后，所述方法还包括：
8、针对所述满载tray生成满tray map图，并将所述满tray map图写入所述服务器。
9、可选地，所述第一分选储位系统包括扫码器以及触发开关，所述当所述满载tray被放入第一分选储位系统时，对所述tray条码信息进行信息比对，包括：
10、当所述满载tray被放入第一分选储位系统时，通过所述触发开关触发所述扫码器对所述tray条码信息进行条码识别，获得条码识别结果；
11、从所述服务器中调取所述满tray map图，并将所述条码识别结果与所述满traymap图进行信息匹配，获得信息匹配结果。
12、可选地，所述方法还包括：
13、当所述信息匹配结果表征信息比对失败时，向所述分选机发出条码异常指令，以供所述分选机基于所述条码异常指令进行异常报警，所述异常报警用于提醒所述现场人员确定是否将所述满载tray放入正确的分选储位系统。
14、可选地，所述方法还包括：
15、当所述满载tray被放入第二分选储位系统时，基于所述第二分选储位系统对所述tray条码信息进行信息比对，并在信息比对成功之后，向所述分选机发出继续分选指令。
16、可选地，针对每一个所述分选机对应的分选储位系统，所述方法还包括：
17、每隔预设时间段，获取在所述预设时间段内放入所述分选储位系统的若干个满载tray以及各个所述满载tray对应的tray条码信息；
18、从所述服务器中读取在所述预设时间段内存储的若干个满tray map图；
19、按照所述若干个满载tray在所述分选储位系统中的累加叠放时间顺序，对各条所述tray条码信息与各个所述满tray map图逐一进行一对一条码比对；
20、当条码比对均成功时，向所述分选机发出继续分选指令；
21、当存在条码比对失败情况时，向所述分选机发出条码异常指令，以供所述分选机基于所述条码异常指令进行异常报警。
22、可选地，所述通过所述分选机结合预设分选设置以及所述批次信息装满所述空tray，获得满载tray，包括：
23、结合预设分选设置，通过所述分选机根据所述批次信息对待分选芯片进行分选，并将分选好的芯片装入所述空tray；
24、当装入所述空tray的芯片数量达到预设分选设置所对应的满载数量时，停止芯片装入，获得满载tray。
25、本专利技术还提供了一种芯片分选防呆装置，所述装置应用于本专利技术所提供的芯片分选防呆系统，其中，所述芯片分选防呆系统包括至少一个分选储位系统，每一个所述分选储位系统对应至少一个分选机；所述装置包括：
26、信息读取模块，用于获取芯片批次信息，并读取放置在所述分选机的空tray的tray条码信息；
27、芯片分选模块，用于通过所述分选机结合预设分选设置以及所述批次信息装满所述空tray，获得满载tray，并产生满载报警，所述满载报警用于提醒现场人员将所述满载tray放入所述分选机对应的分选储位系统；
28、信息比对模块，用于当所述满载tray被放入第一分选储位系统时，对所述tray条码信息进行信息比对；
29、指令发出模块，用于当信息比对成功时，向所述分选机发出继续分选指令。
30、本专利技术还提供了一种芯片分选设备，所述设备包括处理器以及存储器：
31、所述存储器用于存储程序代码，并将所述程序代码传输给所述处理器；
32、所述处理器用于根据所述程序代码中的指令执行如上任一项所述的芯片分选防呆方法。
33、本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储程序代码，所述程序代码用于执行如上任一项所述的芯片分选防呆方法。
34、从以上技术方案可以看出，本专利技术具有以下优点：
35、提供了一种芯片分选防呆系统及其方法。所述芯片分选防呆系统包括至少一个分选储位系统，每一个分选储位系统对应至少一个分选机；获取芯片批次信息，并读取放置在分选机的空tray的tray条码信息；通过分选机结合预设分选设置以及批次信息装满空tray，获得满载tray，并产生满载报警，满载报警用于提醒现场人员将满载tray放入分选机对应的分选储位系统；当满载tray被放入第一分选储位系统时，对tray条码信息进行信息比对；若信息比对成功，则向分选机发出继续分选指令。从而在芯片分选时通过增加分选储位系统、满载报警以及信息比对等有效防呆技术手段，解决了现有芯片分选技术中存在的由于人工误判导致芯片成品错放风险问题。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种芯片分选防呆方法，其特征在于，应用于芯片分选防呆系统，所述芯片分选防呆系统包括至少一个分选储位系统，每一个所述分选储位系统对应至少一个分选机；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的芯片分选防呆方法，其特征在于，所述芯片分选防呆系统还包括服务器，在所述获得满载tray之后，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的芯片分选防呆方法，其特征在于，所述第一分选储位系统包括扫码器以及触发开关，所述当所述满载tray被放入第一分选储位系统时，对所述tray条码信息进行信息比对，包括：
4.根据权利要求3所述的芯片分选防呆方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求4所述的芯片分选防呆方法，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求2至5任一项所述的芯片分选防呆方法，其特征在于，针对每一个所述分选机对应的分选储位系统，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的芯片分选防呆方法，其特征在于，所述通过所述分选机结合预设分选设置以及所述批次信息装满所述空tray，获得满载tray，包括：
8.一种芯片分选防呆
9.一种芯片分选设备，其特征在于，所述设备包括处理器以及存储器：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质用于存储程序代码，所述程序代码用于执行权利要求1-7任一项所述的芯片分选防呆方法。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片分选防呆方法，其特征在于，应用于芯片分选防呆系统，所述芯片分选防呆系统包括至少一个分选储位系统，每一个所述分选储位系统对应至少一个分选机；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的芯片分选防呆方法，其特征在于，所述芯片分选防呆系统还包括服务器，在所述获得满载tray之后，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的芯片分选防呆方法，其特征在于，所述第一分选储位系统包括扫码器以及触发开关，所述当所述满载tray被放入第一分选储位系统时，对所述tray条码信息进行信息比对，包括：
4.根据权利要求3所述的芯片分选防呆方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求4所述的芯片分选防呆方法，其特征在于，还包括：
6.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：蓝春合，卓葵，郑广源，雷垒，段波，
申请(专利权)人：上海利扬创芯片测试有限公司，
类型：发明
国别省市：
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