存储装置及其数据恢复方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种存储装置及其数据恢复方法。存储装置包括存储器、控制器及电源。控制器包括第一检测模块、重试模块以及重启模块。所述第一检测模块用于判断存储器是否异常。所述重试模块用于执行预定次数的重试操作。所述重启模块用于控制存储器断电，并在预设时间后控制存储器上电。在预设时间内存储器完成放电操作，以避免控制器循环执行重试操作，并提高所述存储器的使用寿命。所述存储器的使用寿命。所述存储器的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
存储装置及其数据恢复方法


[0001]本专利技术涉及数据存储
，特别是涉及一种存储装置及其数据恢复方法。

技术介绍

[0002]存储器在出现异常时，例如特征配置异常、重置状态异常以及存在不可纠正的错误代码(Uncorrectable error checking code，UECC)，现有技术通常采用软件流程进行异常处理，例如，重新执行特征配置、重新执行重置操作行以及利用试错表(retry table)对UECC进行纠错。但是在上述方法均无法移除存储器的异常时，则存储器会重复执行异常处理，进而影响存储器的使用寿命。

技术实现思路

[0003]鉴于上述状况，本专利技术提供一种存储装置及其数据恢复方法，旨在解决现有技术中在异常无法消除时影响存储器使用寿命的问题。
[0004]本专利技术提供了一种存储装置，包括存储器、控制器以及电源；所述控制器包括：
[0005]所述第一检测模块用于判断所述存储器是否异常；
[0006]所述重试模块用于执行预定次数的重试操作；以及
[0007]所述重启模块用于控制所述存储器断电，且在预设时间后控制所述存储器上电；其中，在所述预设时间内所述存储器完成放电操作。
[0008]本专利技术还提出了一种存储装置的数据恢复方法，所述存储装置包括存储器、控制器以及电源；所述控制器包括第一检测模块、重试模块以及重启模块；所述数据恢复方法包括：
[0009]所述第一检测模块判断所述存储器是否异常；
[0010]在所述存储器异常时，所述重试模块执行预定次数的重试操作；
[0011]所述第一检测模块在所述重试操作后判断所述存储器是否维持异常；
[0012]在所述存储器维持异常时，所述重启模块控制所述电源停止输出所述供电电压给所述存储器；以及
[0013]所述重启模块在预设时间后控制所述电源输出所述供电电压给所述存储器；其中，在所述预设时间内所述存储器完成放电操作。
[0014]上述存储装置及其数据恢复方法，通过所述重试模块限制重试次数，可避免所述控制器循环执行重试操作，以提高所述存储器的使用寿命，且根据最后一次重试操作后所述存储器维持异常时对所述存储器进行断电并重启，可消除所述存储器读取过程中的异常。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本专利技术实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅
是本专利技术的实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0016]图1为本专利技术较佳实施方式的存储装置的模块示意图。
[0017]图2为图1中所述控制器的模块示意图。
[0018]图3为本专利技术较佳实施方式的数据保护方法的流程图。
[0019]图4为图3中S12步骤的细化流程图。
[0020]主要元件符号说明
[0021]存储装置
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ1[0022]存储器
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
10
[0023]控制器
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20
[0024]电源
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40
[0025]通信总线
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50
[0026]第一检测模块
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21
[0027]重试模块
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22
[0028]重启模块
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23
[0029]步骤
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S11
‑
S15
[0030]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。
具体实施方式
[0031]下面将结合本专利技术实施方式中的附图，对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅是本专利技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本专利技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施方式，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中设置的元件。当一个元件被认为是“设置在”另一个元件，它可以是直接设置在另一个元件上或者可能同时存在居中设置的元件。
[0033]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0034]下面将结合附图对本专利技术的存储装置及其数据保护方法的具体实施方式进行说明。
[0035]请参阅图1，其为存储装置1的模块示意图。所述存储装置1包括存储器10、控制器20、电源40以及通信总线50。
[0036]所述存储器10用于存储数据。所述存储器10为非易失性存储器，例如内嵌式存储器(Embedded Multimedia Cards,EMMC)、存储卡(Storing card，SD)、U盘(U disk)、只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)以及闪存中的至少一种，但并不局限于此。
[0037]所述控制器20可基于外部装置(例如，主机、CPU或AP)的请求来控制所述存储器
10。例如，所述控制器20可基于外部装置的请求，发送数据到所述存储器10进行存储，或读取所述存储器10内存储的数据。所述控制器20可基于外部装置的请求，与所述存储器10交换数据DATA。在本专利技术的至少一个实施方式中，所述控制器20与所述存储器10均可使用一个芯片、一个包或一个模块来实现。
[0038]所述电源40，用于输出供电电压给所述存储器10以及所述控制器20。在本专利技术的至少一个实施方式中，所述电源40可根据所述存储器10以及所述控制器20的需求输出不同的所述供电电压。
[0039]所述通信总线50用于建立所述存储器10以及所述控制器20之间的数据通信。
[0040]请一并参阅图2，其为所述控制器20的模块示意图。所述控制器20包括第一检测模块21、重试模块22以及重启模块23。
[0041]所述第一检测模块21，用于判断所述存储器10是否异常。
[0042]在本专利技术的至少一个实施方式中，所述第一检测模块21在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储装置，包括存储器、控制器以及电源；所述控制器包括第一检测模块、重试模块以及重启模块；其特征在于，所述控制器包括：所述第一检测模块用于判断所述存储器是否异常；所述重试模块用于执行预定次数的重试操作；以及所述重启模块用于控制所述存储器断电，并在预设时间后控制所述存储器上电；其中，在所述预设时间内所述存储器完成放电操作。2.如权利要求1所述的存储装置，其特征在于，在所述存储器存在异常时，所述重试模块执行所述预定次数的所述重试操作；在每次所述重试操作后所述第一检测模块检测所述存储器是否维持异常；在最后一次所述重试操作后所述存储器维持异常时，所述重启模块控制所述电源停止输出供电电压给所述存储器，以实现所述存储器断电操作，并在所述预设时间后控制所述电源输出所述供电电压给所述存储器，以实现所述存储器上电操作。3.如权利要求1所述的存储装置，其特征在于，所述重试模块还用于判断所述存储器是否执行指定操作；在所述存储器执行所述指定操作时，所述重试模块设定所述预定次数为一次；在所述存储器未执行所述指定操作时，所述重试模块进一步判断所述存储器是否执行纠错操作；在所述存储器执行所述纠错操作时，所述重试模块设定所述预定次数为所述纠错操作对应的额定次数；其中，所述额定次数可根据所述纠错操作采用的纠错表中的检测参数数量进行设定。4.如权利要求1所述的存储装置，其特征在于，所述第一检测模块在所述存储器执行指定操作时根据所述存储器提供的状态码判断所述存储器是否异常；所述第一检测模块用于在所述存储器执行纠错操作时通过读取数据是否为错误码判断所述存储器是否存在异常。5.如权利要求4所述的存储装置，其特征在于，所述第一检测模块进一步地在所述存储器维持异常...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏益新，
申请(专利权)人：中山市江波龙电子有限公司，
类型：发明
国别省市：