存储装置、纠错存储系统、芯片和车辆制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种存储装置、纠错存储系统、芯片和车辆，存储装置，包括：第一存储器和第二存储器，第一存储器和第二存储器中的一个存储可纠错数据，第一存储器和第二存储器中的另一个用于存储可纠错数据对应的校验数据；在第一存储器和第二存储器中还包括可存储空间的情况下，可存储空间能够用于存储不可纠错数据，其中，可存储空间是第一存储器和第二存储器中剔除可纠错数据和校验数据所占用的存储空间之外的存储空间。空间之外的存储空间。空间之外的存储空间。

【技术实现步骤摘要】
存储装置、纠错存储系统、芯片和车辆


[0001]本专利技术涉及数据处理
，具体而言，涉及一种存储装置、纠错存储系统、芯片和车辆。

技术介绍

[0002]可纠错系统中，校验数据区和ECC数据区存在一起。
[0003]具体地，以32，7汉明码为例，一行为39比特，由32比特数据和7比特校验数据组成。
[0004]当应用中的数据无需ECC校验时，普通数据只能存储到32位，33至39位之间的数据无法被利用到，因此，存在存储空间的浪费。

技术实现思路

[0005]本专利技术旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
[0006]为此，本专利技术的第一方面在于，提供了一种存储装置。
[0007]本专利技术的第二方面在于，提供了一种纠错存储系统。
[0008]本专利技术的第三方面在于，提供了一种芯片。
[0009]本专利技术的第四方面在于，提供了一种车辆。
[0010]有鉴于此，本专利技术的第一方面提供了一种存储装置，包括：第一存储器和第二存储器，第一存储器和第二存储器中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储装置，其特征在于，包括：第一存储器和第二存储器，所述第一存储器和所述第二存储器中的一个用于存储可纠错数据，所述第一存储器和所述第二存储器中的另一个用于存储所述可纠错数据对应的校验数据；在所述第一存储器和所述第二存储器中还包括可存储空间的情况下，所述可存储空间能够用于存储不可纠错数据，其中，所述可存储空间是所述第一存储器和所述第二存储器中除去所述可纠错数据和所述校验数据所占用的存储空间之外的存储空间。2.根据权利要求1所述的存储装置，其特征在于，所述第一存储器具有第一存储分区，所述第一存储分区用于存储所述可纠错数据，所述第一存储分区的容量为第一数值，所述第一存储分区的容量小于或等于所述第一存储器的容量；所述第二存储器具有第二存储分区，所述第二存储分区用于存储所述校验数据，所述第二存储分区的容量为第二数值；所述第二数值≥所述第一数值/第三数值；其中，所述第三数值的取值为以下中的一种：2、4、8。3.根据权利要求2所述的存储装置，其特征在于，所述第一存储器具有第三存储分区，所述第二存储器具有第四存储分区；其中，所述第三存储分区和所述第四存储分区的访问地址连续。4.根据权利要求3所述的存储装置，其特征在于，所述第一存储分区的访问地址和所述第三存储分区的访问地址具有不同的地址段；和/或所述第二存储分区的访问地址与所述第四存储分区的访问地址具有不同的地址段。5.根据权利要求1至4中任一项所述的存储装置，其特征在于，在不存在所述可纠错数据和所述校验数据的情况下，所述第一存储器和所述第二存储器还能用于存储所述不可纠错数据。6.根据权利要求5所述的存储装置，其特征在于，所述存储装置为用于错误检查和纠错的存储装置。7.一种纠错存储系统，其特征在于，包括：如权利要求1至6中任一项所述的存储装置。8.根据权利要求7所述的纠错存储系统，其特征在于，还包括：控制电路；第一多路选择器，所述第一多路选择器的第一输入端与所述控制电路连接，所述第一多路选择器的输出端与所述存储装置中的第一存储器、第二多路选择器的第一输入端和编码电路的输入端连接；所述编码电路，所述编码电路的输出端与所述第二多路选择器的第二输入端连接；所述第二多路选择器，所述第二多路选择器的输出端与所述存储装置中的第二存储器连接；解码电路，所述解码电路的输入端与所述第一存储器和所述第二存储器连接，所述解...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚建平，黄虹，宋成鸣，
申请(专利权)人：上海美仁半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：