一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，包括精磨棒，精磨棒放置在驱动结构内部，驱动结构用于带动精磨棒转动，驱动结构一侧设置有电机，电机用于带动驱动结构工作；检测结构，检测结构设置在精磨棒远离驱动结构的一端，检测结构用于检测精磨棒的直径、圆跳动和真圆度。该装置通过电机带动连接带工作，连接带在带动转动轴在外筒内部转动，进而带动放置在放置槽内部的精磨棒进行转动，方便通过激光发射器和激光接收器自动检测精磨棒及成品刀具的直径、圆跳动和真圆度，检测效率高，误差小。误差小。误差小。

【技术实现步骤摘要】
一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器


[0001]本技术涉及测量设备
，尤其涉及一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器。

技术介绍

[0002]随着精密轴类零件加工精度要求越来越高，对作为精密轴类零件毛坯料的研磨棒自身精度提出更高的要求，衡量研磨棒自身精度的关键技术指标有研磨棒的直径、直线度、圆度等，为了适应后续的精密轴类零件的加工，研磨棒直径规格粗细不等，种类繁多；研磨棒一般采用无心磨床对外表面进行磨削加工，以使得加工后的研磨棒具有符合要求的表面粗糙度、圆度及直径等技术指标。
[0003]传统研磨棒直径的检测方法，一般采用螺旋测微仪或游标卡尺等测量工具，由人工采取抽检方式，对研磨棒进行接触式测量，但是这种检测方法工作效率低，且人工检测误差较大。

技术实现思路

[0004]本技术目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，包括精磨棒，所述精磨棒放置在驱动结构内部，所述驱动结构用于带动精磨棒转动，所述驱动结构一侧设置有电机，所述电机用于带动驱动结构工作；
[0005]检测结构，所述检测结构设置在精磨棒远离驱动结构的一端，所述检测结构用于检测精磨棒的直径、圆跳动和真圆度。
[0006]优选的，所述驱动结构包括滚动机构，所述滚动机构通过连接带与电机连接，所述滚动机构靠近精磨棒一端连接有放置壳，所述放置壳用于放置精磨棒。
[0007]优选的，所述滚动机构包括转动轴和外筒，所述转动轴位于外筒内部，且转动轴可在外筒内部转动，所述转动轴靠近精磨棒一端开设有放置槽。
[0008]优选的，所述检测结构包括激光发射器和激光接收器，所述激光发射器和激光接收器分别设置在精磨棒两侧。
[0009]优选的，所述滚动机构一侧通过螺钉与连接筒可拆卸连接，所述滚动机构远离精磨棒一端位于连接筒内部。
[0010]优选的，所述连接筒远离检测结构一端连接有重量块。
[0011]优选的，所述连接筒一侧连接有第一高度尺，所述第一高度尺用于调节连接筒的高度。
[0012]优选的，所述激光接收器一侧连接有第二高度尺，所述第二高度尺用于调节激光接收器的高度。
[0013]优选的，所述驱动结构和连接筒下方均设置有支架，所述支架上方开设有V型槽。
[0014]优选的，所述驱动结构和检测结构均固定在安装板上方。
[0015]上述技术方案具有如下优点或有益效果：
[0016]本技术通过电机带动连接带工作，连接带在带动转动轴在外筒内部转动，进而带动放置在放置槽内部的精磨棒进行转动，方便通过激光发射器和激光接收器自动检测精磨棒及成品刀具的直径、圆跳动和真圆度，检测效率高，误差小。
附图说明
[0017]图1为本技术一实施例的测量仪的俯视图；
[0018]图2为图1测量仪中驱动结构的结构示意图；
[0019]图3为图2驱动结构中滚动机构的结构示意图；
[0020]图4为图1测量仪中支架的结构示意图。
[0021]图例说明：
[0022]1、精磨棒；2、驱动结构；3、检测结构；4、电机；5、连接筒；6、重量块；7、第一高度尺；8、第二高度尺；9、支架；10、V型槽；11、安装板；201、滚动机构；202、连接带；203、放置壳；204、转动轴；205、外筒；206、放置槽；31、激光发射器；32、激光接收器。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]实施例一：
[0025]如图1所示，本技术的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，包括精磨棒1，精磨棒1放置在驱动结构2内部，驱动结构2用于带动精磨棒1转动，驱动结构2一侧设置有电机4，电机4用于带动驱动结构2工作；检测结构3，检测结构3设置在精磨棒1远离驱动结构2的一端，检测结构3用于检测精磨棒1的直径、圆跳动和真圆度；通过电机4带动驱动结构2工作，使得驱动结构2带动放置在其内部的精磨棒1进行转动，在通过精磨棒1两侧的检测结构3检测精磨棒1的直径、圆跳动和真圆度。
[0026]如图2和图3所示，滚动机构201一侧通过螺钉与连接筒5可拆卸连接，滚动机构201远离精磨棒1一端位于连接筒5内部，连接筒5远离检测结构3一端连接有重量块6；通过连接筒5固定在外筒205上，当精磨棒1放入驱动结构2内后，利用重量块6设置在精磨棒1相对的一端，通过本身的重力，可防止精磨棒1和驱动结构2向下倾斜，增强检测效果，同时本技术的主要作用是测量，因此不限于对棒料进行测量，也可以测量成品刀具等结构。
[0027]如图2和图3所示，在本技术一实施例中，驱动结构2包括滚动机构201，滚动机构201通过连接带202与电机4连接，滚动机构201靠近精磨棒1一端连接有放置壳203，放置壳203用于放置精磨棒1，滚动机构201包括转动轴204和外筒205，转动轴204位于外筒205内部，且转动轴204可在外筒205内部转动，转动轴204靠近精磨棒1一端开设有放置槽206；连接带202与滚动机构201之间设置有橡胶圆柱，橡胶圆柱用于增强连接带202与滚动机构201之间的摩擦力，检测时通过将精磨棒1固定在放置槽206中，固定方法可采用将精磨棒1插入放置槽206的一端包裹卡套塞入放置槽206中，通过电机4带动连接带202工作，连接带202在带动转动轴204在外筒205内部转动，进而带动放置在放置槽206内部的精磨棒1进行转动，
方便通过激光发射器31和激光接收器32自动检测精磨棒1的及成品刀具的直径、圆跳动和真圆度，检测效率高，误差小。
[0028]实施例二：
[0029]如图1和图4所示，在实施例一的基础上，本技术提供一种技术方案：连接筒5一侧连接有第一高度尺7，第一高度尺7用于调节连接筒5的高度，激光接收器32一侧连接有第二高度尺8，第二高度尺8用于调节激光接收器32的高度，驱动结构2和连接筒5下方均设置有支架9，支架9上方开设有V型槽10，驱动结构2和检测结构3均固定在安装板11上方；通过第一高度尺7和第二高度尺8可调节驱动结构2和激光接收器32的高度，当放入不同直径精磨棒1时，通过调节驱动结构2和激光接收器32的高度，使得精磨棒1中心位于激光发射器31和激光接收器32之间，增强了检测的准确性。
[0030]如图2所示，在本实施例中，检测结构3包括激光发射器31和激光接收器32，激光发射器31和激光接收器32分别设置在精磨棒1两侧；通过激光发射器31和激光接收器32外接计算机，通过激光发射器31和激光接收器32将检测的数据传送到显示屏上进行处理；检测结构3测量原理是通过左右箱体内带有高速旋转的激光发射器31和激本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，包括精磨棒(1)，其特征在于：所述精磨棒(1)放置在驱动结构(2)内部，所述驱动结构(2)用于带动精磨棒转动，所述驱动结构(2)一侧设置有电机(4)，所述电机(4)用于带动驱动结构(2)工作；检测结构(3)，所述检测结构(3)设置在精磨棒(1)远离驱动结构(2)的一端，所述检测结构(3)用于检测精磨棒(1)的直径、圆跳动和真圆度。2.根据权利要求1所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述驱动结构(2)包括滚动机构(201)，所述滚动机构(201)通过连接带(202)与电机(4)连接，所述滚动机构(201)靠近精磨棒(1)一端连接有放置壳(203)，所述放置壳(203)用于放置精磨棒(1)。3.根据权利要求2所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述滚动机构(201)包括转动轴(204)和外筒(205)，所述转动轴(204)位于外筒(205)内部，且转动轴(204)可在外筒(205)内部转动，所述转动轴(204)靠近精磨棒(1)一端开设有放置槽(206)。4.根据权利要求1所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述检测结构(3)包括激光发射器(31)和激光接收器...

【专利技术属性】
技术研发人员：王赛赛，向常洪，
申请(专利权)人：万羽精密制造苏州股份有限公司，
类型：新型
国别省市：