【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有晶片定心功能的旋转转位器
相关申请
[0001]PCT申请表作为本申请的一部分与本说明书同时提交。在同时提交的PCT申请表中所标识的本申请要求享有其权益或优先权的每个申请均通过引用全文并入本文且用于所有目的。
技术介绍
[0002]半导体加工工具通常包括一个或多个半导体加工腔室,这些加工腔室提供在其中加工半导体晶片的隔离环境。在一些半导体加工工具中,多个半导体晶片可以在单个腔室中被加工。在这样的半导体加工工具中,这样的腔室可以包括多个晶片加工站,每个晶片加工站具有其自己的晶片支撑件或基座,以及例如位于其上方的气体分配器。
[0003]这种多站腔室的一种常见架构是四站模块(QSM),其特点是在单个大型腔室中以方形图案排列四个晶片加工站。在此类QSM工具中通常提供旋转转位器,以允许晶片在加工腔室内从一个站移动到另一个站(每个站都有一个相应的基座,并且基座布置成以转位器的旋转轴为中心的圆形阵列)。在一些这样的QSM工具中,可以提供允许晶片站之间一定程度隔离的特征,例如,可以在晶片站之间提供惰性气体幕以减少加工气体从一个晶片站迁移到另一个晶片站的机会。
[0004]旋转转位器通常包括旋转驱动机构,该旋转驱动机构具有旋转输出,中心毂附接到该旋转输出。中心毂具有多个转位器臂,这些转位器臂布置成以中心毂的旋转轴线为中心的圆形阵列;每个这样的臂具有与中心毂连接的近端和位于中心毂径向向外的位置处的远端,该远端具有用于支撑半导体加工晶片的晶片支撑件。在QSM工具中,具有四个转位器臂的转位器可用于在四个晶片加工站之间传送晶片,每 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种装置,包括:腔室,多个N个半导体加工站,以标称圆形图案布置在所述腔室内,每个半导体加工站具有对应的基座,并且每个基座具有对应的目标位置,其中每个基座的对应的目标位置代表这样的位置:当晶片被放置在该基座上并居中位于该基座的对应的目标位置上时,对于给定的半导体晶片加工操作,导致该晶片被认为居中位于该基座上;具有中心毂和多个N个转位器臂的旋转转位器,所述中心毂能够绕标称地位于所述圆形图案中心的第一轴线相对于所述腔室旋转,每个转位器臂具有固定地安装到所述中心毂的近端和支撑可旋转晶片支撑件的远端,所述可旋转晶片支撑件被配置成相对于所述转位器臂绕对应的第二轴线旋转;以及控制器,包括一个或多个存储器设备和一个或多个处理器,其中所述一个或多个存储器设备和所述一个或多个处理器操作性地连接,并且所述一个或多个存储器设备存储计算机可执行指令,所述计算机可执行指令当由一个或多个处理器执行时,使所述一个或多个处理器:a)从所述多个基座中选择载运基座,b)从所述多个基座中选择目标基座,c)从所述多个可旋转晶片支撑件中选择选定的可旋转晶片支撑件,d)使所述中心毂和所述选定的可旋转晶片支撑件中的至少一个分别相对于所述转位器臂绕所述第一轴线旋转且绕所述选定的可旋转晶片支撑件的所述第二轴线旋转,使得相对于所述选定的可旋转晶片支撑件固定并且在垂直于所述选定的可旋转晶片支撑件的第二轴线的方向上偏离所述选定的可旋转晶片支撑件的第二轴线第一非零距离的对应参考点当沿平行于第一轴线的方向观察时以位于与所述载运基座相关联的半导体加工站处的晶片的估计中心为中心,e)在所述选定的可旋转晶片支撑件的对应参考点当沿平行于所述第一轴线的方向观察时以位于与所述载运基座相关联的半导体加工站处的所述晶片的所述估计中心为中心之后,使位于与所述载运基座相关联的半导体加工站的晶片放置在所述选定的可旋转晶片支撑件上,f)使所述中心毂和所述选定的可旋转晶片支撑件中的至少一个分别相对于所述转位器臂绕所述第一轴线旋转且绕所述选定的可旋转晶片支撑件的所述第二轴线旋转,使得用于选定的可旋转晶片支撑件的对应参考点在所述目标基座的对应目标位置上方居中,并且g)在所述选定的可旋转晶片支撑件的对应参考点在所述目标基座的对应目标位置上方居中之后,使所述选定的可旋转晶片支撑件上的晶片从所述选定的可旋转晶片支撑件上提起。2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述一个或多个存储器设备进一步存储附加的计算机可执行指令,所述附加的计算机可执行指令在由所述一个或多个处理器执行时使所述一个或多个处理器针对给定的一组M个晶片执行(a)至(g)M次,每个晶片一次,其中2≤M≤N。3.根据权利要求2所述的装置,其中,所述一个或多个存储器设备进一步存储附加的计算机可执行指令,所述附加的计算机可执行指令在由所述一个或多个处理器执行时使所述
一个或多个处理器引起所述中心毂绕所述第一轴线的至少一些旋转对于所有M个晶片,对于(d)的至少一部分和(f)的至少一部分同时发生。4.根据权利要求2或权利要求3所述的装置,其中,所述一个或多个存储器设备进一步存储附加的计算机可执行指令,所述附加的计算机可执行指令在由所述一个或多个处理器执行时导致以下情况中的至少一者发生:对于所述M个晶片中的至少两个在不同时间执行(e),以及对于所述M个晶片中的至少两个在不同时间执行(g)。5.根据权利要求2至4中任一项所述的装置,其中,N=4且3≤M≤4。6.根据权利要求1至5中任一项所述的装置,其中,所述第一距离被选择为大于所述腔室中估计的最大基座位置公差的两倍。7.根据权利要求1至6中任一项所述的装置,其中,所述一个或多个存储器设备进一步存储附加的计算机可执行指令,所述附加的计算机可执行指令在由所述一个或多个处理器执行时使所述一个或多个处理器,对于(d),使用所述载运基座的对应目标位置作为位于与所述载运基座相关联的半导体加工站的所述晶片的所述估计中心。8.根据权利要求1至6中任一项所述的装置,对于每个半导体加工站,还包括一个或多个对应的晶片位置传感器,所述晶片位置传感器被配置为获取信息,从该信息中能够确定放置在对应的半导体加工站的基座上的晶片的中心的位置,其中所述一个或多个存储器设备进一步存储附加的计算机可执行指令,所述附加的计算机可执行指令在由所述一个或多个处理器执行时,使所述一个或多个处理器:h)在(e)之前,使用来自所述对应晶片加工站的所述晶片位置传感器的信息,确定位于与所述载运基座相关联的所述半导体加工站处的晶片的中心的位置,以及i)在(d)中,使用在(h)中确定的所述晶片的中心的位置作为位于与所述载运基座相关联的所述半导体加工站处的所述晶片的所述估计中心。9.根据权利要求1至8中任一项所述的装置,其中,响应于引起由所述一个或多个处理器发送的控制信号,所述第二轴线相对于所述中心毂的位置不可移动,并且响应于引起由所述一个或多个处理器发送的控制信号,每个可旋转晶片支撑件的任何部分相对于该可旋转晶片支撑件的其余部分均不可移动。10.根据权利要求1至9中任一项所述的装置,还包括在每个半导体加工站处的具有对应多个升降销的对应升降销机构,每个升降销机构被配置为可控地延伸和缩回对应的多个升降销,使得对应的多个升降销的最上表面至少能够在对应的半导体加工站的基座的最上表面上方和下方的位置之间移动。11.根据权利要求10所述的装置,其中,所述一个或多个存储器设备进一步存储附加的计算机可执行指令,所述附加的计算机可执行指令在由所述一个或多个处理器执行时使所述一个或多个处理器,在执行(f)之前:h)使任何被除选定的可旋转晶片支撑件之外的所述可旋转晶片支撑件支撑的晶片均被放置在所述半导体加工站中的对应半导体加工站的升降销上,并且i)当所述选定的可旋转晶片支撑件不支撑所述晶片中...
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