【技术实现步骤摘要】
本专利技术是与封盖制程(cap package)有关,特别 是关于 一 种减少噪声干扰的封装结构。
技术介绍
封盖制程(cap package)受到广泛地应用,其目 的主要是为了保护电子元件。已知的封装结构是以一 金属盖进行封盖制程(cap package),以达到上述目 的;然而,金属盖在塑造形状上较不容易,多以拼装 方式组成,在加工上较为耗时,且无法阻隔电磁干扰 (electro-magnetic interference; EMI), 使得电子 元件(例如芯片)很容易受到噪声干扰而影响其工 作效能,具有屏蔽效能(Shielding Effectiveness; SE)不佳的缺点。综上所述,现有封装结构以金属盖进行封盖制程 (cap package) 具有上述缺点而有待改进。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种封装结构,具有 减少噪声干扰的特色。为达成上述目的,本专利技术所提供一种减少噪声干 扰的封装结构,其特征在于,包含有一基板;一盖体,是由硅基材掺杂非金属材料所制成,该盖体设于该基板而形成有一容室;以及一芯片,设于该基板且位于该容室内。其中该盖 ...
【技术保护点】
一种减少噪声干扰的封装结构,其特征在于,包含有: 一基板; 一盖体,是由硅基材掺杂非金属材料所制成,该盖体设于该基板而形成有一容室;以及 一芯片,设于该基板且位于该容室内。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:田炯岳,
申请(专利权)人:菱生精密工业股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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