一种对射型光电传感器的发射器生产检测方法和系统技术方案

本申请涉及一种对射型光电传感器的发射器生产检测方法和系统，包括获取正常检测距离下基准接收器接收到基准发射器发射光信号的强度，作为光信号强度基准值；依据预设的检测距离，设定模拟接收器接收到基准发射器发射光信号的强度等于光信号强度基准值；根据模拟接收器接收待检测发射器的发射光信号的强度是否低于光信号强度基准值，来判断待检测发射器是否合格。本申请通过模拟接收器来减小实际接收的距离，在确保模拟接收器接收到的信号强度和实际位置接收到的信号强度相同后，以相同的信号强度来建立实际检测距离和当前检测距离之间的对应关系，利用信号强度来判定是否合格时，减小了实际检测所需要使用的场地大小。减小了实际检测所需要使用的场地大小。减小了实际检测所需要使用的场地大小。

【技术实现步骤摘要】
一种对射型光电传感器的发射器生产检测方法和系统


[0001]本申请涉及传感器测试
，尤其是涉及一种对射型光电传感器的发射器生产检测方法和系统。

技术介绍

[0002]传感器是工业现场经常使用的一种检测元器件，通过传感器输出电信号来控制工业现场的工作过程。在很多工业现场中，均会要求使用精度很高的传感器作为信号的采集端。但是对于传感器的生产制造而言，传感器的工作参数不一定完全准确，因此需要对传感器做进一步的测试检验。
[0003]对于对射型光电传感器，传感器的检测距离一般比较远，近则数米，远则数十米。在该类型传感器生产过程中，需要按照传感器设定的检测距离参数来建立一个试验场地。并且在测试对射型光电传感器的发射器时，需要使用到标准的接收器来确定发射器是否良好。
[0004]针对上述中的相关技术，在对射型光电传感器的发射器进行发射参数性能检测时，若要求的检测距离较大时，需要的试验场地也比较大，存在不方便对射型光电传感器的发射器进行检测的缺陷。

技术实现思路

[0005]为了简化对射型光电传感器的发射器的检测过程，本申请提供一种对射型光电传感器的发射器生产检测方法和系统。
[0006]本申请提供的一种对射型光电传感器的发射器生产检测方法，采用如下的技术方案。
[0007]第一方面，本申请提供一种对射型光电传感器的发射器生产检测方法，采用如下的技术方案：一种对射型光电传感器的发射器生产检测方法，包括以下步骤：获取正常检测距离下基准接收器接收到基准发射器发射光信号的强度，作为光信号强度基准值；依据预设的检测距离，设定模拟接收器在预设的检测距离下接收到基准发射器发射光信号的强度等于光信号强度基准值，其中，预设的检测距离小于正常检测距离；获取模拟接收器接收到待检测发射器在预设的检测距离下发射光信号的强度；判断模拟接收器接收的发射光信号的强度是否低于光信号强度基准值，若为是，则确定待检测发射器不合格，若为否，则确定待检测发射器合格。
[0008]通过采用上述技术方案，利用基准发射器和基准接收器在正常检测环境下来确定基准发射器发出的光信号的基准强度值，并通过模拟接收器来减小实际接收的距离，同时还确保模拟接收器接收到的信号强度和实际位置接收到的信号强度相同。以相同的信号强度来建立实际检测距离和当前检测距离之间的对应关系，从而减小了实际检测所需要使用
的场地大小。在对待检测发射器进行实际检测过程中，通过模拟接收器接收的光信号强度大小，和基准发射器发出的光信号的基准强度值进行比较，从而确定待检测的发射器是否合格。
[0009]可选的，所述光信号基准强度值为基准接收器在正常检测距离下检测基准发射器发出的最低光信号强度对应的检测值。
[0010]通过采用上述技术方案，将基准接收器在正常检测距离下检测基准发射器发出的最低光信号强度对应的检测值作为光信号强度基准值，即检测所依据的基准值是判定发射器合格的最低限度。
[0011]可选的，在依据预设的检测距离，设定模拟接收器在预设的检测距离下接收到基准发射器发射光信号的强度等于光信号强度基准值中，包括：基于光电转换电路，将接收的光信号转变为电信号；由MCU读取外部接入的阈值调控电压，并输出调控信号；由增益控制电路响应于调控信号，对增益控制电路接收的电信号进行幅值调控，使模拟接收器在预设的检测距离下接收到基准发射器发射光信号的强度等于光信号强度基准值。
[0012]通过采用上述技术方案，模拟接收器和基准接收器都具有接收光信号的元器件，并且通过外部接入的阈值调控电压来改变模拟接收器的调控信号，从而使得增益控制电路对接收的电信号进行幅值调控，以满足模拟接收器接收的光信号强度值和基准强度值相同。
[0013]可选的，在由MCU读取外部接入的阈值调控电压，并输出调控信号中，包括：获取预先设置的阈值调控电压的最大值和最小值；读取接入阈值调控电压的电压值，计算电压变化百分比；基于电压变化百分比，设置调控信号的占空比，并输出调控信号。
[0014]通过采用上述技术方案，通过实时获取阈值调控电压值，利用阈值调控电压的变化百分比来改变调控信号的占空比，从而实现阈值调控电压和增益控制电路之间的实时调节。
[0015]第二方面，本申请提供一种检测系统，所述检测系统应用上述方案记载的方法，所述检测系统采用如下的技术方案。
[0016]一种检测系统，包括：基准信号强度获取模块，所述基准信号强度获取模块用于获取正常检测距离下基准接收器接收到基准发射器发射光信号的强度；模拟接收器设定模块，所述模拟接收器设定模块用于设定模拟接收器在预设的检测距离下接收到基准发射器发射光信号的强度等于光信号强度基准值；实际信号强度获取模块，所述实际信号强度获取模块用于获取模拟接收器接收到待检测发射器在预设的检测距离下发射光信号的强度；判断模块，所述判断模块用于根据模拟接收器接收的发射光信号的强度是否低于光信号强度基准值来判断待检测发射器是否合格。
[0017]通过采用上述技术方案，利用基准信号强度获取模块来获取基准接收器在正常检测环境下来确定基准发射器发出的光信号的基准强度值；通过模拟接收器设定模块来将模
拟接收器所在位置接收到的信号强度和实际检测位置接收到的信号强度相同，以此来减小检测距离；通过实际信号强度获取模块来获取模拟接收器接收的待检测发射器所发射出的光信号的强度值，并通过判断模块来确定待检测发射器是否合格。
[0018]可选的，所述模拟接收器设定模块包括阈值调控单元和增益控制单元，所述阈值调控单元用于输出调控信号，所述增益控制单元用于依据调控信号控制模拟接收器接收到待检测发射器在预设的检测距离下发射光信号的强度。
[0019]通过采用上述技术方案，利用阈值调控单元来输出调控信号，以使得增益控制单元能够及时对接收到的电信号进行调控，使得最终检测结果和基准接收器检测的基准发射器在正常检测距离下发射的光信号强度值相同。
[0020]第三方面，本申请提供一种电子设备，所述电子设备应用上述方案记载的方法，所述电子设备包括处理器和存储器；所述存储器与所述处理器耦合，所述存储器用于存储程序代码，所述程序代码包括指令，所述处理器调用所述指令以使得所述电子设备执行上述方案记载的方法。
[0021]第四方面，本申请提供一种存储介质，所述存储介质中存储有指令，当所述指令在处理器中执行时，使所述处理器执行上述方案记载的方法。
[0022]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：1.通过模拟接收器来减小实际接收的距离，在确保模拟接收器接收到的信号强度和实际位置接收到的信号强度相同后，以相同的信号强度来建立实际检测距离和当前检测距离之间的对应关系，利用信号强度来判定是否合格时，减小了实际检测所需要使用的场地大小。
[0023]2.将基准发射器发出的最低光信号强度对应的检测值作为光信号强度基准值，提高了检测准确度。
[0024]3.通过实时获取阈值调控电压值，利用阈值调控电压的变化百分比来改变调控信号本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对射型光电传感器的发射器生产检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取正常检测距离下基准接收器接收到基准发射器发射光信号的强度，作为光信号强度基准值；依据预设的检测距离，设定模拟接收器在预设的检测距离下接收到基准发射器发射光信号的强度等于光信号强度基准值，其中，预设的检测距离小于正常检测距离；获取模拟接收器接收到待检测发射器在预设的检测距离下发射光信号的强度；判断模拟接收器接收的发射光信号的强度是否低于光信号强度基准值，若为是，则确定待检测发射器不合格，若为否，则确定待检测发射器合格。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述光信号强度基准值为基准接收器在正常检测距离下检测基准发射器发出的最低光信号强度对应的检测值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：在依据预设的检测距离，设定模拟接收器在预设的检测距离下接收到基准发射器发射光信号的强度等于光信号强度基准值中，包括：基于光电转换电路，将接收的光信号转变为电信号；由MCU读取外部接入的阈值调控电压，并输出调控信号；由增益控制电路响应于调控信号，对增益控制电路接收的电信号进行幅值调控，使模拟接收器在预设的检测距离下接收到基准发射器发射光信号的强度等于光信号强度基准值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：在由MCU读取外部接入的阈值调控电压，并输出调控信号中，包括：获取预先设置的阈值调控电压的最大值和最小值；读取接入阈值调控电压的电压值，计算电压变化百分比；基于电压变化百分比，设置调控信号的占空比，并输出调控信号。5.一种检测系统，其特征在于，所述检测系统应...

【专利技术属性】
技术研发人员：张小毅，罗超凡，龚雪松，梁焕霜，
申请(专利权)人：深圳市华怡丰科技有限公司，
类型：发明
国别省市：