机床中的接触式刀具传感器的校正方法、存储介质及机床技术

本发明专利技术提供机床中的接触式刀具传感器的校正方法、存储介质及机床。对于接触式刀具传感器，不需要特别的装置就能够检测异物。执行如下步骤：刀具传感器测定步骤(S1)，将基准刀具安装于主轴，作为刀具传感器测定值，分别取得接触式刀具传感器的上表面的多个不同的测定区域中的基准刀具的末端的测定位置坐标；差分值输出步骤(S2)，基于各刀具传感器测定值，输出规定的差分值；异常检测步骤(S3)，将差分值与预先设定的容许值进行比较，在至少1个差分值偏离容许值的情况下判定为异常；刀具传感器校正步骤(S4)，在异常检测步骤中未判定为异常的情况下，基于各刀具传感器测定值，对主轴与接触式刀具传感器之间的位置关系进行校正。与接触式刀具传感器之间的位置关系进行校正。与接触式刀具传感器之间的位置关系进行校正。

【技术实现步骤摘要】
机床中的接触式刀具传感器的校正方法、存储介质及机床


[0001]本公开涉及用于校正在机床中使用的接触式刀具传感器的方法以及存储接触式刀具传感器的校正程序的计算机可读存储介质、机床。

技术介绍

[0002]在由数控装置控制的机床中，在进行加工时，通过刀具传感器进行安装于主轴的刀具尺寸以及刀尖位置等的测定。
[0003]刀具、刀具传感器由于因室温变化等引起的机床的热位移、因主轴的发热等引起的热位移、经时变化等而形状、位置关系发生变化，因此在长时间的加工中维持高精度的加工的情况下，需要进行刀具传感器的校正。
[0004]通常，触摸传感器等接触式刀具传感器的校正通过如下方式进行：使工件坐标系的原点设定中所使用的刀具或长度已知的基准刀具与固定于工作台等的接触式刀具传感器抵接，记录在抵接时检测到从接触式刀具传感器发出的信号时的主轴位置。
[0005]但是，在实际的机床的切削加工中，切屑或切削液(以下称为异物)有时会落到接触式刀具传感器上。该异物成为接触式刀具传感器的校正中的误差的主要原因，由于该误差而在测定出的刀具长度中产生误差。作本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种机床中的接触式刀具传感器的校正方法，其是在具有3轴以上的平移轴、能够安装刀具的主轴、工作台、以及控制所述平移轴和所述主轴的数控装置的机床中，对所述主轴与安装于所述工作台的接触式刀具传感器之间的位置关系进行校正的方法，其特征在于，在该方法中执行如下步骤：刀具传感器测定步骤，将基准刀具安装于所述主轴，作为刀具传感器测定值，分别取得所述接触式刀具传感器的上表面的至少2处不同的测定区域中的所述基准刀具的末端的测定位置坐标；差分值输出步骤，基于各所述刀具传感器测定值，输出规定的差分值；异常检测步骤，将所述差分值与预先设定的容许值进行比较，在至少1个所述差分值偏离所述容许值的情况下判定为异常；以及刀具传感器校正步骤，在所述异常检测步骤中未判定为异常的情况下，基于各所述刀具传感器测定值，对所述主轴与所述接触式刀具传感器之间的位置关系进行校正。2.根据权利要求1所述的机床中的接触式刀具传感器的校正方法，其特征在于，当在所述异常检测步骤中判定为异常时，执行对所述接触式刀具传感器的上表面进行清扫的清扫步骤。3.根据权利要求2所述的机床中的接触式刀具传感器的校正方法，其特征在于，在所述清扫步骤中，至少对取得了与偏离所述容许值的所述差分值相关的所述刀具传感器测定值的所述测定区域进行清扫。4.根据权利要求2所述的机床中的接触式刀具传感器的校正方法，其特征在于，在执行所述清扫步骤之后，再次执行所述刀具传感器测定步骤、所述差分值输出步骤以及所述异常检测步骤，当在再次的所述异常检测步骤中判定为异常时，反复进行再次执行所述清扫步骤的处理，当在所述异常检测步骤中判定为异常的次数达到规定的阈值时，停止处理并执行通知该情况的通知步骤。5.根据权利要求1所述的机床中的接触式刀具传感器的校正方法，其特征在于，在所述差分值输出步骤中，将各所述刀具传感器测定值之间的差作为所述差分值输出。6.根据权利要求1所述的机床中的接触式刀具传感器的校正方法，其特征在于，执行如下步骤：基准值记录步骤，在执行所述差分值输出步骤之前，在异物未附着于所述接触式刀具传感器的上表面以及所述基准刀具的状态下，记录多个所述测定区域中的所述基准刀具的末端的测定位置坐标作为各个刀具传感器基准值；以及位移值输出步骤，将各所述刀具传感器基准值和与各所述刀具传感器基准值相同的测定区域中的各所述刀具传感器测定值之间的差分作为各个刀具传感器位移值而输出，在所述差分值输出步骤中，将各所述刀具传感器位移值之间的差作为所述差分...

【专利技术属性】
技术研发人员：河内大地，
申请(专利权)人：大隈株式会社，
类型：发明
国别省市：