【技术实现步骤摘要】
一种多层膜材料、极紫外光反射镜及其制备方法和应用
[0001]本专利技术属于极紫外光光学元件
,具体涉及一种多层膜材料、极紫外光反射镜及其制备方法和应用。
技术介绍
[0002]极紫外光通常指波长为121nm到10nm的光波,极紫外光存在大量的原子共振线,传统膜材料对极紫外光的折射率实部接近1,即传统膜材料对极紫外光的近正入射的反射率极低。随着X射线的发现及对X射线晶体衍射的了解,Spiller提出了一种极紫外光高反射率元件的设计理论,即用高折射率(层)的材料和低折射率(层)的材料交替镀制成周期多层膜,该多层膜满足布拉格(Bragg)条件。多层膜材料的出现促进了极紫外光的光学发展。
[0003]随着集成电路向小型化和高性能方向的发展,光刻技术成为集成电路重要制作工艺之一,其中极紫外光刻技术为制造超大规模集成电路的关键工艺。极紫外光刻机主要由极紫外光源系统、极紫外光反射系统和照明曝光刻蚀系统组成。极紫外光反射系统中关键的元件为极紫外光反射镜,目前主要以Nb/Si多层膜材料为主要原料制备极紫外光反射镜,以保证极紫外 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多层膜材料,包括层叠的第一周期单元或第二周期单元,所述第一周期单元包括依次层叠的Nb层、Y层和Si层,所述第二周期单元包括依次层叠的Nb层、第一Y层、Si层和第二Y层;当所述多层膜材料为层叠的第一周期单元时,所述多层膜材料的两表面分别为Nb层和Si层;当所述多层膜材料为层叠的第二周期单元时,所述多层膜材料的两表面分别为Nb层和第二Y层。2.根据权利要求1所述多层膜材料,其特征在于,一个第一周期单元中Nb层的厚度为2.45~2.51nm,第一周期单元中Y层的厚度为0.48~0.52nm,第一周期单元中Si层的厚度为3.92~3.96nm。3.根据权利要求1所述多层膜材料,其特征在于,一个第二周期单元中Nb层的厚度为2.22~2.26nm,第二周期单元中第一Y层的厚度为0.48~0.52nm,第二周期单元中Si层的厚度为3.67~3.71nm,第二周期单元中第二Y层的厚度为0.48~0.52nm。4.根据权利要求1所述多层膜材料,其特征在于,所述第一周期单元和第二周期单元的个数独立的为40~60。5.一种极紫外光反射镜,包括基底和基底表面的多层膜,其特征在于,所述多层膜材料由权利要求1~4任一项所述多层膜材料构成;所述基底表面直接与第一周期...
【专利技术属性】
技术研发人员:金宇,朱运平,金长利,陈溢祺,
申请(专利权)人:苏州宏策光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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