用于芯片分级的方法、装置、计算机设备及可读存储介质制造方法及图纸

本公开实施例提供一种用于芯片分级的方法、装置、计算机设备及可读存储介质。该方法包括：获取测试芯片的芯片针测结果和最终测试结果，测试芯片的芯片针测结果包括测试芯片在各测试项下的测量值，测试芯片的最终测试结果为测试通过或测试失败；根据测试芯片的最终测试结果，确定测试芯片的标签，标签为测试通过芯片或测试失败芯片；根据测试芯片在各测试项下的测量值及其标签，获取目标卡控值；获取待分级芯片的芯片针测结果，待分级芯片的芯片针测结果包括待分级芯片在各测试项下的测量值；根据待分级芯片在各测试项下的测量值和目标卡控值，确定待分级芯片的目标芯片等级，本公开实施例的方法得到的芯片分级结果更加客观准确。确。确。

【技术实现步骤摘要】
用于芯片分级的方法、装置、计算机设备及可读存储介质


[0001]本公开涉及半导体检测
，尤其涉及一种用于芯片分级的方法、装置、计算机设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]芯片在生产后会进行测试，以检验其品质。该测试包括芯片针测(chip probe test)，以对芯片划分等级。在实际的芯片针测过程中，芯片的等级通常根据专家的经验来划分，这样会带有主观因素，因而等级划分的客观性以及准确性有待提高。
[0003]在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的相关技术的信息。

技术实现思路

[0004]本公开实施例提供了一种用于芯片分级的方法，包括：获取测试芯片的芯片针测结果和最终测试结果，所述测试芯片的芯片针测结果包括所述测试芯片在各测试项下的测量值，所述测试芯片的最终测试结果为测试通过或测试失败；根据所述测试芯片的最终测试结果，确定所述测试芯片的标签，所述标签为测试通过芯片或测试失败芯片；根据所述测试芯片在各测试项下的测量值及其标签，获取目标卡控本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片分级的方法，其特征在于，包括：获取测试芯片的芯片针测结果和最终测试结果，所述测试芯片的芯片针测结果包括所述测试芯片在各测试项下的测量值，所述测试芯片的最终测试结果为测试通过或测试失败；根据所述测试芯片的最终测试结果，确定所述测试芯片的标签，所述标签为测试通过芯片或测试失败芯片；根据所述测试芯片在各测试项下的测量值及其标签，获取目标卡控值；获取待分级芯片的芯片针测结果，所述待分级芯片的芯片针测结果包括所述待分级芯片在各测试项下的测量值；根据所述待分级芯片在各测试项下的测量值和所述目标卡控值，确定所述待分级芯片的目标芯片等级。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述测试芯片在各测试项下的测量值及其标签，获取目标卡控值，包括：根据所述测试芯片的标签，获取所述测试芯片中的第一测试失败芯片数量；获取所述测试芯片中的第一测试失败芯片在各测试项下的测量值中的第一最大测量值；根据各测试项下的第一最大测量值和所述测试芯片的数量，获取各测试项的第一过滤值；根据各测试项下的第一最大测量值和所述第一测试失败芯片数量，获取各测试项下的第一失效滤值；根据各测试项的所述第一过滤值和各测试项的所述第一失效滤值，获取各测试项的第一分界值；根据各测试项的所述第一分界值，获取所述目标卡控值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据各测试项的所述第一分界值，获取所述目标卡控值，包括：获取各测试项的第一分界值中的第一最大分界值；将与所述第一最大分界值对应的测试项下的第一最大测量值作为第一候选卡控值，并将所述第一候选卡控值对应的测试项作为第一卡控测试项；根据所述第一候选卡控值及其对应的所述第一卡控测试项，确定所述目标卡控值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述第一候选卡控值及其对应的所述第一卡控测试项，确定所述目标卡控值，包括：确定所述测试芯片中在所述第一卡控测试项下的测量值中大于或等于所述第一候选卡控值的去除芯片数量及去除测试失败芯片数量；根据所述去除芯片数量和所述去除测试失败芯片数量，获取第一失败筛选比值；若所述第一失败筛选比值大于预设阈值，则确定所述目标卡控值包括所述第一候选卡控值。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述第一候选卡控值及其对应的所述第一卡控测试项，确定所述目标卡控值，包括：从所述测试芯片中确定所述第一卡控测试项下测量值大于或等于所述第一候选卡控
值的第一筛除芯片；获取除所述第一筛除芯片以外的剩余测试芯片中的第二测试失败芯片数量；获取所述剩余测试芯片中的第二测试失败芯片在各测试项下的测量值中的第二最大测量值；根据各测试项下的第二最大测量值和所述剩余测试芯片的数量，获取各测试项的第二过滤值；根据各测试项下的第二最大测量值和所述第二测试失败芯片数量，获取各测试项下的第二失效滤值；根据各测试项的所述第二过滤值和各测试项的所述第二失效滤值，获取各测试项的第二分界值；根据各测试项的所述第二分界值，获取所述目标卡控值。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据各测试项的所述第二分界值，获取所述目标卡控值，包括：获取各测试项的第二分界值中的第二最大分界值；将与所述第二最大分界值对应的测试项下的第二最大测量值作为第二候选卡控值，并将所述第二候选卡控值对应的测试项作为第二卡控测试项；从所述剩余测试芯片中确定所述第二卡控测试项下测量值大于或等于所述第二候选卡控值的第二筛除芯片；若所述测试芯片中除所述第一筛除芯片和所述第二筛除芯片以外均为测试通过芯片，则根据所述第一候选卡控值和所述第二候选卡控值确定所述目标卡控值。7.根据权利要求2至6中任一项所述的方法，其特征在于，根据各测试项下的第一最大测量值和所述测试芯片的数量，获...

【专利技术属性】
技术研发人员：王世生，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：