一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备制造技术

本实用新型专利技术涉及集成电路技术领域，具体为一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，包括用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的测试仪，测试仪顶部设有若干排测试区，测试仪左侧安装有待检区，测试仪右侧安装有测后区，测试仪上方安装有顶板，顶板下方安装有夹具；本实用新型专利技术通过在测试仪一侧设置待检区，在测试前可以将集成电路摆放于待检区上，并通过夹具将集成电路移至测试区上，在测试的过程中可以继续在待检区上摆放集成电路，可以节省一定的时间，同时在配合直线电机使用时，夹具可以将集成电路准确的安装在测试区上，节省了人工对齐的时间。对齐的时间。对齐的时间。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备


[0001]本技术涉及集成电路
，具体为一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备。

技术介绍

[0002]集成电路是将复杂的电路小型化的结果，集成电路使得电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，快速瞬变脉冲群是指数量有限且清晰可辨的脉冲序列或持续时间有限的振荡，其为集成电路是否合格的常规测试内容，在测试快速瞬变脉冲时，需要使用到与之对应的测试仪。
[0003]申请号为CN202122587197.1的专利公开了一种集成电路测试设备，涉及集成电路
包括底座、调节机构和放置平台，放置平台位于底座的顶部固定连接，调节机构位于放置平台的一侧且与底座固定连接，调节机构包括手柄和调节单元。
[0004]虽然该技术方案在使用时通过调节两个齿条相背端之间的距离，从而适应测试点，向下压手柄使套筒跟随其下降，可进行测试多个集成电路，解决了手动改变两引脚的距离，较为麻烦的问题；通过将橡胶块固定在顶板上，防止在测试过程中电路板滑动，解决了直接放置在桌面容易造成电路板磨损的问题，但是该测试装置只能够同时测试一个集成电路，并且在将集成电路放置在测试仪器的测试区上时，需要逐个的摆放，而集成电路需要与测试区精确对准，进而又增加了摆放难度，同时只有在一次测试结束后才能够进行集成电路的摆放，进而导致浪费了在测试仪器测试时的时间。鉴于此，我们提出一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备。

技术实现思路

[0005]为了弥补以上不足，本技术提供了一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备。
[0006]本技术的技术方案是：
[0007]一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，包括用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的测试仪，所述测试仪顶部设有若干排测试区，所述测试仪左侧安装有待检区，所述测试仪右侧安装有测后区，所述测试仪上方安装有顶板，所述顶板下方安装有夹具，所述夹具底部开设有与测试区布局完全相同的若干个夹持区并在每个夹持区内均安装有一个夹持结构，所述顶板上安装有用于驱动夹具左右移动的直线电机，所述直线电机的滑块上安装有用于驱动夹具上下移动的液压缸，所述顶板底部安装有两个底部分别固定于待检区和测后区上的支撑杆。
[0008]作为优选的技术方案，所述测试仪在测试区后侧设有与测试区布局形状相同的若干个故障指示灯，所述待检区上设有与测试区布局完全相同的若干个放置区。
[0009]作为优选的技术方案，所述测后区顶部开设有一个放置凹陷，所述放置凹陷内安装有软垫。
[0010]作为优选的技术方案，所述夹具顶部位于每个夹持区上方均安装有一个用于驱动夹持结构的夹持电机。
[0011]作为优选的技术方案，所述夹持结构包括四个能够同步向夹持区中心处运动的夹板以及固定于夹持区内壁四角处的限位块，相邻的两个限位块之间形成有用于限制夹板运动方向的夹持通道。
[0012]作为优选的技术方案，所述夹持区内位于限位块下方安装有驱动块，所述驱动块上开设有四条呈用于驱动限位块运动的驱动凹槽，所述驱动块与夹持电机输出轴同轴固定。
[0013]作为优选的技术方案，所述夹板呈T字形，且底部穿过夹持通道伸至驱动凹槽内并与驱动凹槽内壁滑动连接。
[0014]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0015]本技术通过在测试仪一侧设置待检区，在测试前可以将集成电路摆放于待检区上，并通过夹具将集成电路移至测试区上，在测试的过程中可以继续在待检区上摆放集成电路，可以节省一定的时间，同时在配合控制直线电机使用时，夹具可以将集成电路准确的安装在测试区上，节省了人工对齐的时间。
附图说明
[0016]图1为本技术的整体结构示意图；
[0017]图2为本技术中图1的正视图；
[0018]图3为本技术中夹具的底部结构示意图；
[0019]图4为本技术中夹持结构的结构示意图；
[0020]图5为本技术中夹具和夹持结构的结构示意图。
[0021]图中各个标号的意义为：
[0022]1、测试仪；10、测试区；11、故障指示灯；2、待检区；20、放置区；3、测后区；30、放置凹陷；31、软垫；4、顶板；40、直线电机；41、液压缸；42、夹具；420、夹持区；43、夹持结构；430、限位块；431、夹板；432、夹持通道；433、驱动块；434、驱动凹槽；44、夹持电机；5、支撑杆。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0025]请参阅图1
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5，本技术提供一种技术方案：
[0026]一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，包括用于测试集成电路快速
瞬变脉冲群的测试仪1，测试仪1顶部设有若干排测试区10，测试仪1左侧安装有待检区2，测试仪1右侧安装有测后区3，测试仪1上方安装有顶板4，顶板4下方安装有夹具42，夹具42底部开设有与测试区10布局完全相同的若干个夹持区420并在每个夹持区420内均安装有一个夹持结构43，顶板4上安装有用于驱动夹具42左右移动的直线电机40，直线电机40的滑块上安装有用于驱动夹具42上下移动的液压缸41，顶板4底部安装有两个底部分别固定于待检区2和测后区3上的支撑杆5。通过在测试仪1一侧设置待检区2，在测试前可以将集成电路摆放于待检区2上，并通过夹具42将集成电路移至测试区10上，在测试的过程中可以继续在待检区2上摆放集成电路，可以节省一定的时间，同时在配合控制直线电机40使用时，夹具42可以将集成电路准确的安装在测试区10上，节省了人工对齐的时间。
[0027]作为本实施例的优选，测试仪1在测试区10后侧设有与测试区10布局形状相同的若干个故障指示灯11，故障指示灯11可以精准的显示出故障的测试区10的位置，待检区2上设有与测试区10布局完全相同的若干个放置区20，设置的放置区20则便于放置的集成电路与夹具42底部的夹持区420对齐，进而便于使用夹持结构43将集成电路夹持。
[0028]作为本实施例的优选，测后区3顶部开设有一个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，包括用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的测试仪(1)，所述测试仪(1)顶部设有若干排测试区(10)，其特征在于：所述测试仪(1)左侧安装有待检区(2)，所述测试仪(1)右侧安装有测后区(3)，所述测试仪(1)上方安装有顶板(4)，所述顶板(4)下方安装有夹具(42)，所述夹具(42)底部开设有与测试区(10)布局完全相同的若干个夹持区(420)并在每个夹持区(420)内均安装有一个夹持结构(43)，所述顶板(4)上安装有用于驱动夹具(42)左右移动的直线电机(40)，所述直线电机(40)的滑块上安装有用于驱动夹具(42)上下移动的液压缸(41)，所述顶板(4)底部安装有两个底部分别固定于待检区(2)和测后区(3)上的支撑杆(5)。2.如权利要求1所述的用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，其特征在于：所述测试仪(1)在测试区(10)后侧设有与测试区(10)布局形状相同的若干个故障指示灯(11)，所述待检区(2)上设有与测试区(10)布局完全相同的若干个放置区(20)。3.如权利要求1所述的用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，其特征在于：所述测后区(3)顶部开设有...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘海平，付洋，邓超，
申请(专利权)人：亚锐檀桐检测技术上海有限公司，
类型：新型
国别省市：