一种高压晶体管测试电路及系统技术方案

本申请涉及半导体测试领域，公开了一种高压晶体管测试及系统，包括：控制器、第一限流电路、第二限流电路、第三限流电路、数据采集电路；其中，第一限流电路的限流能力大于第二限流电路和第三限流电路；数据采集电路与被测晶体管的第一端、第二端和控制端均连接，以获取检测信号；控制器与第一电源、第二电源连接，通过调节输出电压执行测试工作。本方案通过在测试电路中设置第一限流电路，以防止在晶体管测试过程中晶体管短路时电路中电流过大导致测试电路故障，同时，为了防止第一限流电路限流能力过大导致检测信号过低，额外设置限流能力远小于第一限流电路的第二限流电路和第三限流电路，进一步提高测试电路的稳定性和可靠性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种高压晶体管测试电路及系统


[0001]本申请涉及半导体测试领域，特别是涉及一种高压晶体管测试电路及系统。

技术介绍

[0002]随着半导体技术的发展，高压晶体管（反向耐压大的晶体管）作为开关器件，被广泛应用于工业电子和消费类电子领域内的电源中（例如AC/DC变换器）。目前，高压晶体管大多采用SiC、GaN材料，但由于SiC、GaN的相关技术不成熟，导致高压晶体管良品率较低。由于高压晶体管工作电压较高，容易在测试过程中损坏测试设备，导致高压晶体管的测试难度较大，因此，大部分故障高压晶体管不能及时发现，造成使用晶体管的产品合格率较低，提高生产成本。
[0003]由此可见，如何提供一种稳定可靠的高压晶体管测试电路，以及时发现故障的高压晶体管，是本领域技术人员亟需解决的问题。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是提供一种稳定可靠的高压晶体管测试电路及系统，以及时发现故障的高压晶体管，从而提高使用晶体管设备的安全性。
[0005]为了解决上述技术问题，本申请提供了一种高压晶体管测试电路，包括：控制器、第一限流电路、第二限流电路、第三限流电路、数据采集电路；其中，所述第一限流电路的限流能力大于所述第二限流电路和所述第三限流电路；所述第一限流电路的输入端与第二电源连接，所述第一限流电路的输出端与被测晶体管的第一端连接，所述第二限流电路的输入端与第一电源、所述被测晶体管的控制端均连接，所述第三限流电路的输入端与所述被测晶体管的第二端连接，所述第三限流电路的输出端接地；所述数据采集电路与所述被测晶体管的第一端、第二端和控制端均连接，以获取检测信号；所述控制器与所述第一电源、所述第二电源连接，通过调节所述第一电源、所述第二电源的输出电压执行测试工作。
[0006]优选的，所述第二限流电路包括第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管，所述第一二极管的阳极与所述第二二极管的阴极连接作为所述第二限流电路的输入端，所述第一二极管的阴极、所述第二二极管的阳极均与所述第三二极管的第一端连接，所述第三二极管的第二端与所述第四二极管的第一端连接，所述第四二极管的第二端作为所述第二限流电路的输出端；其中，所述第三二极管与所述第四二极管极性相反。
[0007]优选的，还包括：跟随电路；所述跟随电路包括：运算放大器和第一电阻；所述第一电阻的第一端与所述第一二极管的阴极连接，所述第一电阻的第二端与所述运算放大器的输出端、所述运算放大器的反向输入端均连接；
所述运算放大器的同向输入端与所述第一二极管的阳极连接。
[0008]优选的，所述数据采集电路包括第一电流表、第二电流表、第三电流表；所述第一电流表与所述被测晶体管控制端连接，所述第二电流表与所述被测晶体管第一端连接，所述第三电流表与所述被测晶体管第二端连接；所述第一电流表、所述第二电流表、所述第三电流表均与所述控制器连接，以向所述控制器发送所述检测信号。
[0009]优选的，所述第一限流电路为可变电阻；所述第一限流电路与所述控制器连接，以在接收到所述控制器发送的限流指令后工作；其中，所述限流指令为所述控制器检测到所述检测信号大于阈值时生成的指令。
[0010]优选的，还包括温度控制电路，所述温度控制电路与所述控制器连接，以获取温度指令；所述温度控制电路包括加热器件和温度传感器，以根据所述温度指令控制所述被测晶体管的温度。
[0011]优选的，还包括通信电路；所述通信电路与所述控制器连接，以获取所述检测信号，并将所述检测信号发送至远程服务器。
[0012]优选的，还包括测试终止电路；所述测试终止电路包括第一开关器件和第二开关器件；所述第一开关器件的第一端与所述第一电源连接，所述第一开关器件的第二端与所述被测晶体管的第一端连接；所述第二开关器件的第一端与所述第二电源连接，所述第二开关器件的第二端与所述被测晶体管的控制端连接；所述第一开关器件、所述第二开关器件的控制端均与所述控制器连接，以在所述被测晶体管满足预设条件时控制所述第一开关器件和所述第二开关器件断开。
[0013]优选的，还包括报警电路；所述报警电路与所述控制器连接，以在所述被测晶体管满足预设条件时发出警报。
[0014]为了解决上述技术问题，本申请还提供了一种高压晶体管测试系统，包括所述的高压晶体管测试电路。
[0015]本申请提供了一种高压晶体管测试电路，包括：控制器、第一限流电路、第二限流电路、第三限流电路、数据采集电路；其中，第一限流电路的限流能力大于第二限流电路和第三限流电路；第一限流电路的输入端与第二电源连接，第一限流电路的输出端与被测晶体管的第一端连接，第二限流电路的输入端与第一电源、被测晶体管的控制端均连接，第三限流电路的输入端与被测晶体管的第二端连接，第三限流电路的输出端接地；数据采集电路与被测晶体管的第一端、第二端和控制端均连接，以获取检测信号；控制器与第一电源、第二电源连接，通过调节第一电源、第二电源的输出电压执行测试工作。由此可见，本申请所提供的技术方案，通过在测试电路中设置第一限流电路，以防止在晶体管测试过程中晶体管短路时电路中电流过大导致测试电路故障，同时，为了防止第一限流电路限流能力过大导致检测信号过低，额外设置限流能力远小于第一限流电路的第二限流电路和第三限流
电路，进一步提高测试电路的稳定性和可靠性。
[0016]此外，本申请还提供了一种高压晶体管测试系统，与上述高压晶体管测试电路对应，效果同上。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本申请实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本申请实施例所提供的一种高压晶体管测试电路的结构图；图2为本申请实施例所提供的另一种高压晶体管测试电路的结构图；附图标记如下：1为控制器、2为第一限流电路、3为第二限流电路、4为第三限流电路。
具体实施方式
[0019]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护范围。
[0020]本申请的核心是提供一种稳定可靠的高压晶体管测试电路及系统，以及时发现故障的高压晶体管，从而提高使用晶体管设备的安全性。
[0021]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。
[0022]图1为本申请实施例所提供的一种高压晶体管测试电路的结构图，如图1所示，该电路包括：控制器1、第一限流电路2、第二限流电路3、第三限流电路4、数据采集电路；其中，第一限流电路2的限流能力远大于第二限流电路3和第三限流电路4；第一限流电路2的输入端与第二电源V/Isourc本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高压晶体管测试电路，其特征在于，包括：控制器、第一限流电路、第二限流电路、第三限流电路、数据采集电路；其中，所述第一限流电路的限流能力大于所述第二限流电路和所述第三限流电路；所述第一限流电路的输入端与第二电源连接，所述第一限流电路的输出端与被测晶体管的第一端连接，所述第二限流电路的输入端与第一电源、所述被测晶体管的控制端均连接，所述第三限流电路的输入端与所述被测晶体管的第二端连接，所述第三限流电路的输出端接地；所述数据采集电路与所述被测晶体管的第一端、第二端和控制端均连接，以获取检测信号；所述控制器与所述第一电源、所述第二电源连接，通过调节所述第一电源、所述第二电源的输出电压执行测试工作。2.根据权利要求1所述的高压晶体管测试电路，其特征在于，所述第二限流电路包括第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管，所述第一二极管的阳极与所述第二二极管的阴极连接作为所述第二限流电路的输入端，所述第一二极管的阴极、所述第二二极管的阳极均与所述第三二极管的第一端连接，所述第三二极管的第二端与所述第四二极管的第一端连接，所述第四二极管的第二端作为所述第二限流电路的输出端；其中，所述第三二极管与所述第四二极管极性相反。3.根据权利要求2所述的高压晶体管测试电路，其特征在于，还包括：跟随电路；所述跟随电路包括：运算放大器和第一电阻；所述第一电阻的第一端与所述第一二极管的阴极连接，所述第一电阻的第二端与所述运算放大器的输出端、所述运算放大器的反向输入端均连接；所述运算放大器的同向输入端与所述第一二极管的阳极连接。4.根据权利要求1所述的高压晶体管测试电路，其特征在于，所述数据采集电路包括第一电流表、第二电流表、第三电流表；所述第一电流表与所述被测晶体管控制端连接，所述第二电流表与...

【专利技术属性】
技术研发人员：廉哲，潘朝松，陈晓东，
申请(专利权)人：苏州联讯仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：