本实用新型专利技术涉及一种MiniLED光学测试装置，包括：测试框、测试仪、多个第一间隔杆和多个第二间隔杆，通过将各第一间隔杆间隔设置在测试框上，每一第二间隔杆的两端分别滑动设置在测试框的两侧上，且每一第二间隔杆通过滑动槽滑动设置在各第一间隔杆上，这样，能够通过滑动第二间隔杆调节测试槽之间的间距，在水平方向上形成不同排列间距的测试槽，使得不同灯板上的不同排列间距的MiniLED能够位于测试槽内，能够对不同灯板上的不同排列间距的MiniLED进行测试，同时，能够使得单颗MiniLED之间的光信号互不干扰，能够更加准确地测试出单颗MiniLED及灯板上各区域的差异，确定灯板上亮度不均匀的区域。上亮度不均匀的区域。上亮度不均匀的区域。
【技术实现步骤摘要】
MiniLED光学测试装置
[0001]本技术涉及光学测试设备
，特别涉及一种Mini LED光学测试装置。
技术介绍
[0002]LED(Light
‑
Emitting Diode，发光二极管)是一种能发光的半导体二极管，当电子与空穴复合时能辐射出可见光，是一种直接把电能转化为光和辐射能的发光器件。
[0003]在灯板的生产过程中，在线路板上安装好Mini LED后，需要对Mini LED 的光学性能进行测试，常通过隔板将灯板上的各个Mini LED间隔开来，使得各 Mini LED之间的光信号互不干扰，但现有的测试装置的隔板上的镂孔位置固定，只能对灯板上特定排列顺序的Mini LED进行间隔及检测。
技术实现思路
[0004]基于此，有必要提供一种Mini LED光学测试装置。
[0005]本技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种Mini LED光学测试装置，包括：测试框、多个第一间隔杆和多个第二间隔杆；
[0006]每一所述第一间隔杆的第一端与所述测试框的第一端连接，每一所述第一间隔杆的第二端与所述测试框的第二端连接，各所述第一间隔杆之间间隔设置；
[0007]每一所述第二间隔杆的第一端滑动设置在所述测试框的第一侧上，每一所述第二间隔杆的第二端滑动设置在所述测试框的第二侧上，每一所述第二间隔杆上开设有多个滑动槽，每一所述第二间隔杆通过所述滑动槽滑动设置在各所述第一间隔杆上；
[0008]各所述第一间隔杆及各所述第二间隔杆之间间隔成多个测试槽。
[0009]在一个实施例中，所述测试框的第一侧上开设有第一滑槽，所述测试框的第二侧上开设有第二滑槽，每一所述第二间隔杆的第一端上设置有第一滑块，所述第一滑块滑动设置在第一滑槽内，每一所述第二间隔杆的第二端上设置有第二滑块，所述第二滑块滑动设置在第二滑槽内。
[0010]在一个实施例中，所述第一滑槽的截面形状为凸字形，所述第一滑块的形状与所述第一滑槽的形状相适配。
[0011]在一个实施例中，所述第一滑槽的底部设置有第一磁吸件，所述第一滑块上设置有第二磁吸件，所述第一磁吸件与所述第二磁吸件磁性连接。
[0012]在一个实施例中，所述第二滑槽的截面形状为凸字形，所述第二滑块的形状与所述第二滑槽的形状相适配。
[0013]在一个实施例中，所述第二滑槽的底部设置有第三磁吸件，所述第二滑块上设置有第四磁吸件，所述第三磁吸件与所述第四磁吸件磁性连接。
[0014]在一个实施例中，所述第一磁吸件和所述第二磁吸件设置为以下情况：
[0015]所述第一磁吸件为铁片，所述第二磁吸件为磁块；
[0016]或，所述第一磁吸件为磁块，所述第二磁吸件为铁片。
[0017]在一个实施例中，所述第三磁吸件和所述第四磁吸件设置为以下情况：
[0018]所述第三磁吸件为铁片，所述第四磁吸件为磁块；
[0019]或，所述第三磁吸件为磁块，所述第四磁吸件为铁片。
[0020]在一个实施例中，所述Mini LED光学测试装置还包括：测试仪和位移机构，所述位移机构包括：第一机械臂、第二机械臂和两个第三机械臂，两个所述第三机械臂相对设置在所述测试框的上方，所述第二机械臂滑动设置在两个所述第三机械臂上，所述第一机械臂滑动设置在所述第二机械臂上，所述测试仪滑动设置在所述第一机械臂上，所述第二机械臂在两个所述第三机械臂上的滑动方向、所述第一机械臂在所述第二机械臂上的滑动方向及所述测试仪在所述第一机械臂上的滑动方向两两之间相互垂直。
[0021]本技术的有益效果是：本技术提供的一种Mini LED光学测试装置，通过将各第一间隔杆间隔设置在测试框上，每一第二间隔杆的两端分别滑动设置在测试框的两侧上，且每一第二间隔杆通过滑动槽滑动设置在各第一间隔杆上，这样，能够通过滑动第二间隔杆调节测试槽之间的间距，在水平方向上形成不同排列间距的测试槽，使得不同灯板上的不同排列间距的Mini LED能够位于测试槽内，能够对不同灯板上的不同排列间距的Mini LED进行测试。
附图说明
[0022]图1为一个实施例的Mini LED光学测试装置的结构示意图；
[0023]图2为一个实施例的测试框、第一间隔杆及第二间隔杆的结构示意图；
[0024]图3为一个实施例的测试框、第一间隔杆及第二间隔杆的立体分解结构示意图。
[0025]附图中，10、Mini LED光学测试装置；100、测试框；110、第一滑槽；120、第二滑槽；200、第一间隔杆；250、测试槽；300、第二间隔杆；310、滑动槽； 320、第一滑块；330、第二滑块；400、测试仪。
具体实施方式
[0026]需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。以下将结合本技术实施例的附图，对本技术的技术方案做进一步描述，本技术不仅限于以下具体实施方式。
[0027]需要理解的是，实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件。在本技术的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
[0028]在一个实施例中，如图1、图2和图3所示，一种Mini LED光学测试装置 10，包括：测试框100、多个第一间隔杆200和多个第二间隔杆300；每一所述第一间隔杆200的第一端与所述测试框100的第一端连接，每一所述第一间隔杆200的第二端与所述测试框100的第二端连接，各所述第一间隔杆200之间间隔设置；每一所述第二间隔杆300的第一端滑动设置在所述测试框100的第一侧上，每一所述第二间隔杆300的第二端滑动设置在所述测试框
100的第二侧上，每一所述第二间隔杆300上开设有多个滑动槽310，每一所述第二间隔杆 300通过所述滑动槽310滑动设置在各所述第一间隔杆200上；各所述第一间隔杆200及各所述第二间隔杆300之间间隔成多个测试槽250。
[0029]在本实施例中，各第一间隔杆200之间相互平行设置，各第二间隔杆300 之间相互平行设置，且每一第一间隔杆200与各第二间隔杆300之间相互垂直设置，每相邻两个第一间隔杆200及每相邻两个第二间隔杆300之间间隔形成一测试槽250，滑动槽310的长度与第一间隔杆200的宽度相等，这样，能够使得第一间隔杆200及第二间隔杆300朝向灯板的一侧平齐，能够更好地与灯板叠合，使得不同Mini LED之间的光信号互不干扰，能够更好地对单颗Mini LED 的发光亮度与波长进行测试,能够更加准本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种Mini LED光学测试装置，其特征在于，包括：测试框、多个第一间隔杆和多个第二间隔杆；每一所述第一间隔杆的第一端与所述测试框的第一端连接，每一所述第一间隔杆的第二端与所述测试框的第二端连接，各所述第一间隔杆之间间隔设置；每一所述第二间隔杆的第一端滑动设置在所述测试框的第一侧上，每一所述第二间隔杆的第二端滑动设置在所述测试框的第二侧上，每一所述第二间隔杆上开设有多个滑动槽，每一所述第二间隔杆通过所述滑动槽滑动设置在各所述第一间隔杆上；各所述第一间隔杆及各所述第二间隔杆之间间隔成多个测试槽。2.根据权利要求1所述的Mini LED光学测试装置，其特征在于，所述测试框的第一侧上开设有第一滑槽，所述测试框的第二侧上开设有第二滑槽，每一所述第二间隔杆的第一端上设置有第一滑块，所述第一滑块滑动设置在第一滑槽内，每一所述第二间隔杆的第二端上设置有第二滑块，所述第二滑块滑动设置在第二滑槽内。3.根据权利要求2所述的Mini LED光学测试装置，其特征在于，所述第一滑槽的截面形状为凸字形，所述第一滑块的形状与所述第一滑槽的形状相适配。4.根据权利要求3所述的Mini LED光学测试装置，其特征在于，所述第一滑槽的底部设置有第一磁吸件，所述第一滑块上设置有第二磁吸件，所述第一磁吸件与所述第二磁吸件磁性连接。5.根据权利要求2所述的Mini LED光学测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖灯炎，晏东，蔡定斌，
申请(专利权)人：广东艾斯谱光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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