一种发光体多视角光谱检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种发光体多视角光谱检测方法，包括：驱动被测产品的发光面点亮，通过阵列设置于同一圆弧方向上的若干个光谱仪探头获取所述被测产品上目标测量点的第一光谱数据；以所述目标测量点为旋转中心、以垂直于所述发光面的第一方向为旋转轴使所述被测产品相对所述若干个光谱仪探头转动，获取所述目标测量点的第二光谱数据。其可以解决现有技术通过单点光谱仪探头在弧形结构件上移动实现不同角度光谱检测的方式导致检测速度较慢，只能实现某一固定方位的视角光谱检测的问题。实现某一固定方位的视角光谱检测的问题。实现某一固定方位的视角光谱检测的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种发光体多视角光谱检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及工业成像检测
，尤其涉及到一种发光体多视角光谱检测方法和一种发光体多视角光谱检测系统。

技术介绍

[0002]随着技术发展，显示面板或发光体的特性评估对产品的特性越来越重要。常见的发光体及其显示器产品包括LED，micro LED，mini LED，LD等不同类型，其组成的产品包括消费电子产品（如手机屏幕，电视显示器等），对于这些被测样品，其发光特性的评估其中主要的一项是发光光谱的测量。
[0003]在显示领域，发光光谱特性可以表征其显示色度、光谱纯度等信息，而视角光谱指的是显示器在不同角度内发出的光谱。显示产品的视角光谱信息是表征产品质量的一个重要维度。因此，定量的测量不同视角的光谱数据，进而反映不同角度的亮色度的信息和差异性显得至关重要。
[0004]当前常用的测试方式是利用传统的单点光谱仪，使其光谱仪探头在弧形结构件上移动，实现不同角度的光谱检测。但是这种方案的检测速度较慢，且只能实现在某一固定方位的视角光谱检测。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种发光体多视角光谱检测方法及系统，其可以解决现有技术通过单点光谱仪探头在弧形结构件上移动实现不同角度光谱检测的方式导致检测速度较慢、且只能实现某一固定方位的视角光谱检测的问题。
[0006]具体的，本专利技术实施例提出一种发光体多视角光谱检测方法，包括：驱动被测产品的发光面点亮，通过阵列设置于同一圆弧方向上的若干个光谱仪探头获取所述被测产品上目标测量点的第一光谱数据；以所述目标测量点为旋转中心、以垂直于所述发光面的第一方向为旋转轴使所述被测产品相对所述若干个光谱仪探头转动，获取所述目标测量点的第二光谱数据。
[0007]在本专利技术的一个实施例中，所述发光体多视角光谱检测方法还包括：以所述目标测量点为旋转中心、以垂直于所述第一方向的第二方向为旋转轴使所述被测产品相对所述若干个光谱仪探头转动，获取所述目标测量点的第三光谱数据。
[0008]在本专利技术的一个实施例中，在获取所述被测产品上目标测量点的第一光谱数据之前，还包括：调节所述被测产品的位置，使所述发光面垂直于所述若干个光谱仪探头所在的平面。
[0009]在本专利技术的一个实施例中，所述获取所述目标测量点的第二光谱数据包括：所述被测产品相对所述若干个光谱仪探头以所述第一方向为旋转轴每转动第一预设角度时获取所述目标测量点的一组第二光谱数据，以获取所述目标测量点在预设方位角范围内的多组第二光谱数据。
[0010]在本专利技术的一个实施例中，所述获取所述目标测量点的第三光谱数据包括：所述被测产品相对所述若干个光谱仪探头以所述第一方向为旋转轴每转动第一预设角度、且以所述第二方向为旋转轴每转动第二预设角度时获取所述目标测量点的一组第三光谱数据，以获取所述目标测量点在预设立体角范围内的多组第三光谱数据。
[0011]在本专利技术的一个实施例中，在所述驱动被测产品的发光面点亮之前，还包括：提供光源光线并耦合至至少两个所述光谱仪探头，通过所述光谱仪探头将所述光源光线汇聚在所述被测产品上形成光斑，用以标定所述目标测量点的位置。
[0012]另外，本专利技术实施例提出一种发光体多视角光谱检测系统，包括：多轴角度滑台，放置有被测产品；光谱检测设备，包括：若干个光谱仪探头，阵列设置于圆弧导轨上、且分别与所述被测产品上目标测量点的距离相等；光谱仪，通过光纤连接所述光谱仪探头；所述发光体多视角光谱检测系统用于实现上述中任意一个实施例所述的发光体多视角光谱检测方法。
[0013]在本专利技术的一个实施例中，所述发光体多视角光谱检测系统还包括：光源，用于提供光源光线；光纤耦合器，用于将所述光源光线耦合至至少两个所述光谱仪探头，并通过所述光谱仪探头汇聚在所述被测产品上形成光斑，用以标定所述目标测量点的位置。
[0014]在本专利技术的一个实施例中，不同所述光谱仪探头的探测光线耦合到一个整体集成的空间光路中，或者分别耦合到对应的光谱仪中。
[0015]由上可知，通过本专利技术所构思的上述方案与现有技术相比，可以具有如下一个或多个有益效果：（1）通过在同一圆弧方向上阵列设置若干个光谱仪探头，以目标测量点为旋转中心、以垂直于发光面的第一方向为旋转轴使被测产品相对若干个光谱仪探头转动，实现了不同立体角和不同方位角的光谱检测，满足空间范围内更多的测量角度需求，且相比于移动单个光谱仪探头进行多次检测而言显著提高了检测效率；（2）提供光源光线并耦合至至少两个光谱仪探头，通过光谱仪探头将光源光线汇聚在被测产品上形成光斑，用以标定目标测量点的位置，能够在不增加光路复杂度的前提下实现被测产品的准确对位；（3）由于光谱检测设备的结构限制，光谱仪探头难以实现0
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180度的极限测量范围，通过以目标测量点为旋转中心、以垂直于第一方向的第二方向为旋转轴使被测产品相对若干个光谱仪探头转动，实现了扩大立体角的测量范围。
[0016]通过以下参考附图的详细说明，本专利技术的其他方面的特征变得明显。但是应当知道，该附图仅仅为解释的目的设计，而不是作为本专利技术的范围的限定。还应当知道，除非另外指出，不必要依比例绘制附图，它们仅仅力图概念地说明此处描述的结构和流程。
附图说明
[0017]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1为本专利技术实施例提供的一种发光体多视角光谱检测方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的一种发光体多视角光谱检测系统的结构示意图；图3为现有技术中的多视角光谱检测系统结构图；
图4为本专利技术实施例提供的另一种发光体多视角光谱检测系统的结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的多轴角度滑台上被测产品的俯视图。
具体实施方式
[0018]需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以互相组合。下面将参考附图并结合实施例来说明本专利技术。
[0019]为了使本领域普通技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例，都应当属于本专利技术的保护范围。
[0020]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等适用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应当理解这样使用的术语在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外。术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备国有的其它步骤或单元。
[0021]还需要说明的是，本专利技术中多个实施例的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种发光体多视角光谱检测方法，其特征在于，包括：驱动被测产品的发光面点亮，通过阵列设置于同一圆弧方向上的若干个光谱仪探头获取所述被测产品上目标测量点的第一光谱数据；以所述目标测量点为旋转中心、以垂直于所述发光面的第一方向为旋转轴使所述被测产品相对所述若干个光谱仪探头转动，获取所述目标测量点的第二光谱数据。2.根据权利要求1所述的发光体多视角光谱检测方法，其特征在于，还包括：以所述目标测量点为旋转中心、以垂直于所述第一方向的第二方向为旋转轴使所述被测产品相对所述若干个光谱仪探头转动，获取所述目标测量点的第三光谱数据。3.根据权利要求1或2所述的发光体多视角光谱检测方法，其特征在于，在所述获取所述被测产品上目标测量点的第一光谱数据之前，还包括：调节所述被测产品的位置，使所述发光面垂直于所述若干个光谱仪探头所在的平面。4.根据权利要求1或2所述的发光体多视角光谱检测方法，其特征在于，所述获取所述目标测量点的第二光谱数据，包括：所述被测产品相对所述若干个光谱仪探头以所述第一方向为旋转轴每转动第一预设角度时获取所述目标测量点的一组第二光谱数据，以获取所述目标测量点在预设方位角范围内的多组第二光谱数据。5.根据权利要求4所述的发光体多视角光谱检测方法，其特征在于，所述获取所述目标测量点的第三光谱数据，包括：所述被测产品相对所述若干个光谱仪探头以所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪志坤，欧昌东，郑增强，刘荣华，
申请(专利权)人：武汉加特林光学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：