【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示屏亮色度检测领域，尤其涉及到一种光谱分光式成像色度测量方法、一种光谱分光式成像色度测量装置系统、一种电子设备以及一种计算机可读存储介质。
技术介绍
1、在显示行业，显示屏画面的光谱、亮度和色度是屏体的个重要参数。可以通过光谱分析研究显示屏1931 cie-xyz标准色度系统色坐标、亮度、色容差、主波长、色纯度、峰值波长、质心波长、半峰宽、显色指数ra等相关的客观项。整个屏体的亮度和色度不仅可以简单直观地体现屏体发光的强度与颜色，还能用于分析屏体出现的色偏现象，协助进行屏体色偏校准。因此，实现快捷而准确的屏体光谱和整面屏体的亮色度测量有着重要意义。
2、当前的显示屏为了达到更好的显示效果，往往带有偏振特性，为实现高精度的亮色度测量，就需要测量系统中的光学元器件对偏振的敏感度较低，否则会对精度产生影响。在上述的这些光学元器件中对偏振较为敏感的为分光镜，体现为对不同偏振态的光透过率和反射率不一样。
3、为解决传统半反半透镜对偏振特性较为敏感的问题，目前现有的做法是在在分光镜的中心区域镀反射膜，中心区域镀反射膜的地方对光进行反射，边缘未镀膜的地方对光进行透射，这样可以保证光谱测量时对偏振的敏感程度较小，提高测量精度。但由于分光镜中心镀了反射膜，会使得到达分光镜中心区域的光无法透射，从而导致面阵测量时会存在一块黑斑，使得面阵测量精度受影响。
技术实现思路
1、为了克服上述现有技术的缺陷，本专利技术实施例提供了光谱分光式成像色度测量方法及系统，其可以解决现
2、具体的，本专利技术提供一种光谱分光式成像色度测量方法，包括：镜头获取显示屏发出的光，并将所述光入射至分光镜，所述分光镜设置有镀膜区域，所述镀膜区域为自中心向外由密到疏的非连续分布；所述分光镜通过所述镀膜区域将入射光部分反射至光谱测量模块，所述入射光部分透过所述非镀膜区域进入面阵成像模块；对所述面阵成像模块获得的第一面阵图像进行暗斑校正，获得消除暗斑之后的第二面阵图像；根据所述光谱测量模块获得的光谱信息对所述第二面阵图像的色度信息进行校正。
3、在本专利技术的一个实施例中，根据光能量分布建立高斯模型，根据所述高斯模型设置所述分光镜的镀膜区域和非镀膜区域。
4、在本专利技术的一个实施例中，所述根据所述高斯模型设置分光镜的镀膜区域和非镀膜区域，包括：提供预设大小的随机分布灰度阈值阵列；将所述灰度阈值阵列与所述高斯模型相比较，当所述高斯模型中某个区域的灰度值大于所述灰度阈值阵列中对应的阈值时，所述分光镜上与该区域相映射的对应区域设置为非镀膜区域；当所述高斯模型中某个区域的灰度值小于所述灰度阈值阵列中对应的阈值时，所述分光镜上与该区域相映射的对应区域设置为镀膜区域。
5、在本专利技术的一个实施例中，所述灰度阈值阵列通过重复扩展至预设大小，将重复扩展得到的所述灰度阈值阵列与所述高斯模型相比较。
6、在本专利技术的一个实施例中，所述将所述灰度阈值阵列与所述高斯模型相比较之前，还包括：设置调制系数调整所述灰度阈值阵列以得到所需的所述镀膜区域的整体大小和分布密集度。
7、在本专利技术的一个实施例中，所述设置调制系数调整所述灰度阈值阵列以得到所需的所述镀膜区域的整体大小和分布密集度，包括：根据当前所述镀膜区域和所述非镀膜区域的分布进行仿真成像得到面阵暗斑衰减情况；根据所述暗斑衰减情况判断是否满足校正需求，若不满足校正需求则调整所述调制系数，直至所述暗斑衰减情况满足校正需求。
8、另外，本专利技术实施例还提出一种光谱分光式成像色度测量装置，包括：镜头，用于获取显示屏发出的光，并将所述光入射至分光镜；分光镜，设置有镀膜区域，所述镀膜区域为自中心向外由密到疏的非连续分布，所述分光镜通过所述镀膜区域将入射光部分反射至光谱测量模块，所述入射光部分透过所述非镀膜区域进入面阵成像模块；暗斑校正模块，用于对所述面阵成像模块获得的第一面阵图像进行暗斑校正，获得消除暗斑之后的第二面阵图像；色度校正模块，用于根据所述光谱测量模块获得的光谱信息对所述第二面阵图像的色度信息进行校正。
9、在本专利技术的一个实施例中，所述分光镜设置镀膜区域的方式为：根据光能量分布设置所述分光镜的镀膜区域和非镀膜区域。
10、在本专利技术的一个实施例中，所述分光镜设置镀膜区域的方式为：根据光能量分布建立高斯模型，根据所述高斯模型设置所述分光镜的镀膜区域和非镀膜区域。
11、再者，本专利技术实施例还提出一种电子设备，包括：存储器和连接所述存储器的一个或多个处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器用于执行所述计算机程序以实现如上述中任意一个实施例所述的光谱分光式成像色度测量方法。
12、又者，本专利技术实施例还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如上述中任意一个实施例所述的光谱分光式成像色度测量方法。
13、由上可知，本专利技术的上述实施例可以具有以下有益效果：
14、通过将分光镜的镀膜区域设置成自中心向外由密到疏的非连续分布，从而使得面阵成像模块接收到的面阵图像上中心区域与边缘区域的亮度衰减逐渐变化，过渡比较平滑，从而便于对所述面阵图像上的暗斑进行校正处理，能够在避免偏振光影响光谱测量的同时，降低暗斑对面阵成像的影响，提高亮色度测量的精度。
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1.一种光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，所述根据所述高斯模型设置分光镜的镀膜区域和非镀膜区域，包括：
4.根据权利要求3所述的光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，所述灰度阈值阵列通过重复扩展至预设大小，将重复扩展得到的所述灰度阈值阵列与所述高斯模型相比较。
5.根据权利要求3所述的光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，所述将所述灰度阈值阵列与所述高斯模型相比较之前，还包括：设置调制系数调整所述灰度阈值阵列以得到所需的所述镀膜区域的整体大小和分布密集度。
6.根据权利要求5所述的光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，所述设置调制系数调整所述灰度阈值阵列以得到所需的所述镀膜区域的整体大小和分布密集度，包括：
7.一种光谱分光式成像色度测量系统，其特征在于，包括：
8.根据权利要求7所述的光谱分光式成像色度测量系统，其特征在于，所述分光镜设置镀膜区域的
9.根据权利要求7所述的光谱分光式成像色度测量系统，其特征在于，所述分光镜设置镀膜区域的方式为：
10.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和连接所述存储器的一个或多个处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器用于执行所述计算机程序以实现如权利要求1-6中任意一项所述的光谱分光式成像色度测量方法。
...【技术特征摘要】
1.一种光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，所述根据所述高斯模型设置分光镜的镀膜区域和非镀膜区域，包括：
4.根据权利要求3所述的光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，所述灰度阈值阵列通过重复扩展至预设大小，将重复扩展得到的所述灰度阈值阵列与所述高斯模型相比较。
5.根据权利要求3所述的光谱分光式成像色度测量方法，其特征在于，所述将所述灰度阈值阵列与所述高斯模型相比较之前，还包括：设置调制系数调整所述灰度阈值阵列以得到所需的所述镀膜区域的整体大小和分布密集度。
<...【专利技术属性】
技术研发人员：王世荣，冯晓帆，纪伟，梅林海，
申请(专利权)人：武汉加特林光学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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