本发明专利技术涉及MINI LED发光检测方法和系统，方法通过检测背光模组上各待测发光芯片在第一预设电流下的发光的第一灰阶值，计算得到平均灰阶值，将每一个待测发光芯片的第一灰阶值与平均灰阶值进行比较，从而得到第一波动值，该第一波动值表示待测发光芯片与平均灰阶值之间的差值，这样，能够判定背光模组上不同待测发光芯片的亮度是否均一，从而判定背光模组是否合格，既实现了对单一待测发光芯片的检测，也实现对背光模组的整体发光效果的检查，有效提高了检测精度。有效提高了检测精度。有效提高了检测精度。
【技术实现步骤摘要】
MINI LED发光检测方法和系统
[0001]本专利技术涉及LED
，特别是涉及一种MINI LED发光检测方法和系统。
技术介绍
[0002]Mini LED为芯片尺寸介于50～200μm之间的LED(light
‑
emitting diode，发光二极管)器件。搭载了Mini LED的背光模组出厂前，需要对背光模组整体进行发光测试，以检测基板上的各MINI LED芯片是否能够发光、发光亮度是否均匀。
[0003]目前对MINI LED芯片的发光检测大多采用单一发光检测，即逐一点亮各MINI LED芯片，检测各MINI LED芯片的亮度是否达标，这样的检测仅针对单一个的MINI LED芯片，检测精度较为不准确，无法准确判定背光模组的整体发光效果。而如果将背光模组上的全部MINI LED芯片点亮进行检测，虽然能够整体判定背光模组的亮度，却无法找出个别有缺陷的MINI LED芯片，同样存在检测精度不高的问题。
技术实现思路
[0004]基于此，有必要提供一种MINI LED发光检测方法和系统。
[0005]一种MINI LED发光检测方法，包括：
[0006]1、一种MINI LED发光检测方法，其特征在于，包括：
[0007]基于预设规则确定背光模组中的一发光芯片作为待测发光芯片；
[0008]获取待测发光芯片在检测区域的待测坐标值，获取感光元件的感光区域的中心坐标值；
[0009]基于所述待测坐标值和所述中心坐标值调整所述感光元件的位置；
[0010]对所述待测发光芯片输入第一预设电流；
[0011]通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一灰阶值；
[0012]获取多个所述待测发光芯片的所述第一灰阶值，计算各所述第一灰阶值得到第一灰阶均值；
[0013]计算各所述待测发光芯片的所述第一灰阶值与所述第一灰阶均值的差值，获得第一波动值；
[0014]检测所述第一波动值是否大于第一波动阈值，当所述第一波动值大于所述第一波动阈值，则输出第一灰阶标记信息，当所述第一波动值小于或等于所述第一波动阈值，则输出第一确认信息。
[0015]在其中一个实施例中，所述通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一灰阶值的步骤包括：
[0016]通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一面积；
[0017]检测所述第一面积是否大于第一参考面积；
[0018]当所述第一面积小于所述第一参考面积，则输出第一面积标记信息，当所述第一面积大于或等于所述第一参考面积，则输出第二确认信息。
[0019]在其中一个实施例中，所述通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一灰阶值的步骤之后还包括：
[0020]对所述待测发光芯片输入第二预设电流；
[0021]通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第二面积；
[0022]检测所述第二面积与所述第一面积之比是否与预设比例系数匹配，当所述第二面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数匹配时，则维持输出第三确认信息；当所述第二面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数不匹配时，则根据所述第二面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数之间的差值幅度，调整所述第二预设电流，得到第三预设电流；通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第三面积；检测所述第三面积与所述第一面积之比是否与预设比例系数匹配，当所述第三面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数匹配时，则维持输出第四确认信息；当所述第三面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数不匹配时，则输出第二面积标记信息。
[0023]在其中一个实施例中，所述第二预设电流大于所述第一预设电流。
[0024]在其中一个实施例中，还包括：基于所述第二预设电流与所述第一预设电流计算获得所述预设比例系数。
[0025]在其中一个实施例中，所述通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第二面积的步骤包括：
[0026]通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第二面积和第二灰阶值；
[0027]获取多个所述待测发光芯片的所述第二灰阶值，计算各所述第二灰阶值得到第二灰阶均值；
[0028]计算各所述待测发光芯片的所述第二灰阶值与所述第二灰阶均值的差值，获得第二波动值；
[0029]检测所述第二波动值是否大于第二波动阈值，当所述第二波动值大于所述第二波动阈值，则输出第二灰阶标记信息，当所述第二波动值小于或等于所述第二波动阈值，则输出第五确认信息。
[0030]在其中一个实施例中，所述基于预设规则确定背光模组中的一发光芯片作为待测发光芯片的步骤包括：
[0031]获取所述背光模组的型号编码；
[0032]基于所述背光模组的型号编码，获取与所述背光模组的型号编码对应的芯片布局；
[0033]基于所述芯片布局获取测试顺序，基于所述测试顺序确定背光模组中的一所述发光芯片作为所述待测发光芯片。
[0034]在其中一个实施例中，所述获取所述背光模组的型号编码的步骤包括：
[0035]在所述背光模组接入电源时，检测所述背光模组上预设电阻的阻值；
[0036]根据所述背光模组上所述预设电阻的阻值获取所述背光模组的型号编号。
[0037]在其中一个实施例中，所述输出第一标记信息的步骤之后还包括：
[0038]检测所述第一标记信息所对应的所述待测发光芯片的数量是否大于预设数量，当所述第一标记信息所对应的所述待测发光芯片的数量是否大于所述预设数量时，则发出提示信息。
[0039]一种MINI LED发光检测系统，采用上述任一实施例中所述的MINI LED发光检测方法对MINI LED进行发光检测。
[0040]本专利技术的有益效果是：通过检测背光模组上各待测发光芯片在第一预设电流下的发光的第一灰阶值，计算得到平均灰阶值，将每一个待测发光芯片的第一灰阶值与平均灰阶值进行比较，从而得到第一波动值，该第一波动值表示待测发光芯片与平均灰阶值之间的差值，这样，能够判定背光模组上不同待测发光芯片的亮度是否均一，从而判定背光模组是否合格，既实现了对单一待测发光芯片的检测，也实现对背光模组的整体发光效果的检查，有效提高了检测精度。
附图说明
[0041]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0042]图1为一实施例的MINI LED发光检测方法的流程示意图。
具体实施方式
[0043]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种MINI LED发光检测方法，其特征在于，包括：基于预设规则确定背光模组中的一发光芯片作为待测发光芯片；获取待测发光芯片在检测区域的待测坐标值，获取感光元件的感光区域的中心坐标值；基于所述待测坐标值和所述中心坐标值调整所述感光元件的位置；对所述待测发光芯片输入第一预设电流；通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一灰阶值；获取多个所述待测发光芯片的所述第一灰阶值，计算各所述第一灰阶值得到第一灰阶均值；计算各所述待测发光芯片的所述第一灰阶值与所述第一灰阶均值的差值，获得第一波动值；检测所述第一波动值是否大于第一波动阈值，当所述第一波动值大于所述第一波动阈值，则输出第一灰阶标记信息，当所述第一波动值小于或等于所述第一波动阈值，则输出第一确认信息。2.根据权利要求1所述的MINI LED发光检测方法，其特征在于，所述通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一灰阶值的步骤包括：通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一面积；检测所述第一面积是否大于第一参考面积；当所述第一面积小于所述第一参考面积，则输出第一面积标记信息，当所述第一面积大于或等于所述第一参考面积，则输出第二确认信息。3.根据权利要求2所述的MINI LED发光检测方法，其特征在于，所述通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一灰阶值的步骤之后还包括：对所述待测发光芯片输入第二预设电流；通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第二面积；检测所述第二面积与所述第一面积之比是否与预设比例系数匹配，当所述第二面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数匹配时，则维持输出第三确认信息；当所述第二面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数不匹配时，则根据所述第二面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数之间的差值幅度，调整所述第二预设电流，得到第三预设电流；通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第三面积；检测所述第三面积与所述第一面积之比是否与预设比例系数匹配，当所述第三面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数匹配时，则维持输出第四确认信息；当所述第三面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数不匹配时，则输出第二面积标...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖灯炎，蔡定斌，
申请(专利权)人：广东艾斯谱光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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