【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于完成x射线荧光测量,同时防止人员暴露于危险的周围环境 辐射水平下的方法^i史备。
技术介绍
x射线荧光(XRF )仪测量材料的棒性,其通过用x射线或y射线照射材料并 分析荧光辐射以确定具体的棒性。在处和所附权利要求中^^]的术语、射线" 是指由辐射源或例如x射线管的装置产生的辐射,并且其包括y射线在内的所有 形式的穿透性辐射。要确定的具^f争性包4斜皮照射物的元素组成、或者在该物体 近表面处的特定元素分布或该物体的密度或形态。XRF ^Ot常具有准直i16^^1^的屏蔽,使得才剁乍者不会受到不当的电离辐 射。例如,实验室XRF^if常要求^f乍者要完全覆盖该仪器和样品,使得只有极 少的辐射t^人XRF仪中絲出来。便携式XRF仪具有特别的净謝屏蔽要求,因为它们的使用通常需要才喿作者在 进布则量时手持仪器。周围环境辐射水平是首要考虑因素。操作者和附近的人员 决不能受到不当水平的电离辐射。检查房间铅泰fr的XRF仪是本专利技术的M实施 方式之一,并且提供了一个其需要的好例子。便携式XRF^J见在成为用于房间涂刷后墙壁的铅浓度定量确定的选择。商业 化的 ...
【技术保护点】
一种通过使用者手持的荧光仪检查测试材料组成的方法,所述方法包括以下步骤: a、用穿透性辐射照射所述测试材料表面的被照射区域; b、探测由所述测试材料发出的荧光;和 c、通过利用辐射屏蔽保护使用者免受从所述测试材料表面发出的电离辐射,其特征在于,辐射屏蔽的厚度随着在基本平行于所述测试材料表面的方向上距所述被照射区域的半径距离增大而减小。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:李格罗津斯,
申请(专利权)人:塞莫尼根分析技术有限责任公司,
类型:发明
国别省市:US[美国]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。