自发光面板制造技术

本发明专利技术提供一种不进行繁杂的操作即可根据外部光的强度调整自发光面板的发光的自发光面板，并使自发光面板小型化等。该自发光面板设有：包括发光功能和受光功能的多个自发光元件（１）；向自发光元件（１）输入与输入信号ＳＳ对应的驱动信号，以产生发光功能的驱动电路（２０）；利用自发光元件（１）的受光功能检测外部光的强度的检测部（３０）；根据检测部（３０）的检测结果，调整驱动电路（２０）输入给自发光元件（１）的驱动信号的控制电路（４０）。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自发光面板。
技术介绍
例如，已经知道具有发光功能和受光功能的发光受光元件。并且，已经知道驱动发光受光元件以交替切换该发光状态和受光状态的发光受光装置(例如，参照专利文献1)。日本特开2001-203078号公报(图1)可是，例如在具有有机EL(电致发光)元件等自发光元件的自发光面板中，有时显示图像的视认性因外部光的强度而降低。例如，在与外部光强度相比，自发光元件的发光强度非常小时，显示图像较暗，所以视认性降低，相反，在与外部光强度相比，自发光元件的发光强度非常大时，显示图像过亮，所以有时视认性降低。此时，用户需要进行手动调整自发光元件的发光强度(亮度水平等)这样的烦杂的操作。为了避免这一点，例如在另外设有光电二极管等受光元件时，需要用于设置受光元件的空间，难以做到装置的小型化。并且，上述的发光受光装置只切换发光受光元件的发光功能和受光功能，不具备上述的调整功能。
技术实现思路
本专利技术把处理这种问题作为一个课题。即，本专利技术的目的在于，提供一种不进行烦杂的操作即可根据外部光的强度调整自发光面板的发光的自发光面板，使自发光面板小型化等。为了达到上述目的，本专利技术至少具备以下独立权利要求的结构。权利要求1的专利技术的自发光面板的特征在于，具有包括发光功能和受光功能的多个自发光元件；向所述自发光元件输入与输入信号对应的驱动信号，以产生所述发光功能的驱动单元；利用所述自发光元件的所述受光功能检测外部光的强度的检测单元；根据所述检测单元的检测结果，调整所述驱动单元输入给所述自发光元件的所述驱动信号的控制单元。权利要求15的专利技术的自发光面板的特征在于，具有包括发光功能和受光功能的多个自发光元件，其配置在多个数据线和多个扫描线的交叉位置附近；驱动单元，其通过所述扫描线和数据线向所述自发光元件输入与输入信号对应的驱动信号，以产生所述发光功能；利用所述自发光元件的所述受光功能检测外部光的强度的检测单元；控制单元，其对于所述多个自发光元件中规定的第1区域内的所述自发光元件，根据所述检测单元的检测结果，调整输入给规定的第2区域内的所述自发光元件的所述驱动信号。本专利技术的一个实施方式的自发光面板具有包括发光功能和受光功能的多个自发光元件；向自发光元件输入与输入信号对应的驱动信号，以产生发光功能的驱动单元；利用自发光元件的受光功能检测外部光的强度的检测单元；根据检测单元的检测结果，调整驱动单元输入给自发光元件的驱动信号的控制单元。在上述结构的自发光面板中，例如，检测单元利用自发光元件的受光功能检测外部光的强度，控制单元根据检测单元的检测结果，调整驱动单元输入给自发光元件的驱动信号。因此，不需进行烦杂的操作即可根据外部光的强度调整自发光面板的自发光元件的驱动信号，可以调整发光强度(亮度水平等)。并且，例如，与另外设有外部光强度测定用受光元件的装置相比，在本专利技术的自发光面板中，多个自发光元件分别具有受光功能和发光功能，根据检测单元的检测结果，控制单元进行驱动信号的调整，所以不需要另外设置受光用元件等，可以使自发光面板小型化。附图说明图1是用于说明本专利技术的一个实施方式的自发光面板的自发光元件的等效电路图。图2是用于说明本专利技术的一个实施方式的自发光元件的剖面图，(a)是说明本专利技术的自发光元件发光时的动作的图，(b)是说明受光时的动作的图。图3是用于说明图2所示的自发光元件的电压电流特性的图。图4是用于说明本专利技术的一个实施方式的自发光元件的明亮状态时和发暗状态时的电压电流特性的一个具体例的图，(a)是用于说明自发光元件的电压电流特性的第1具体例的图，(b)是用于说明自发光元件的电压电流特性的第2具体例的图。图5是本专利技术的一个实施方式的自发光面板100的功能方框图。图6是用于说明采用了本专利技术的一个实施方式的自发光面板100的无源驱动型自发光面板的一部分和周边电路的图。图7是用于说明本专利技术的一个实施方式的自发光面板100灭灯时的动作图。图8是用于说明本专利技术的一个实施方式的自发光面板100驱动时的动作的图。图9是用于对自发光面板100的显示定时进行说明的图。图10是用于说明对在显示定时前施加了反向偏置的自发光元件进行受光强度检测的动作的图。图11是用于说明对在显示定时中(扫描中)施加了正向偏置的自发光元件进行受光强度检测的动作的图。图12是用于说明对在显示定时中(扫描中)施加了反向偏置的自发光元件进行受光强度检测的动作图。图13是用于说明采用了本专利技术的自发光面板100的场刷新驱动型自发光面板的动作的图。图14是用于说明本专利技术的一个实施方式的自发光面板100的控制电路40的亮度水平控制的相关动作的图。图15是用于说明本专利技术的一个实施方式的自发光面板100的图。图16是用于说明采用了本专利技术的一个实施方式的自发光面板100的有源驱动型自发光面板的一部分和周边电路的图。图17是表示作为本专利技术的实施方式的自发光面板的一个具体示例的有机EL面板的结构的说明图。具体实施例方式以下，参照附图说明本专利技术的一个实施方式。图1是用于说明本专利技术的一个实施方式的自发光面板的自发光元件的等效电路图。作为本实施方式的自发光面板的自发光元件，例如采用有机EL元件。自发光元件1例如图1所示，可以替换为以电的形式并联连接了二极管成分E和寄生电容成分Cp的等效电路。该自发光元件1具有发光功能和受光功能。图2是用于说明本专利技术的一个实施方式的自发光元件的剖面图。图2(a)是用于说明本专利技术的自发光元件发光时的动作的图，图2(b)是用于说明受光时的动作的图。自发光元件1例如图2(a)所示，具有基板2；在基板2上直接或隔着其他层形成的第1电极(空穴注入电极)3；在第1电极上形成的半导体层4；和在半导体层4上形成的第2电极(电子注入电极)5。半导体层4例如由具有pn结的半导体层形成，具体讲例如在采用了低分子型有机EL元件时，形成有包括发光层的有机层，例如在采用了高分子型有机EL元件时，形成有双极性材料的单层或多层层叠结构的有机层。在发光时，如图2(a)所示，在第1电极3上连接正电极，在第2电极5上连接负电极，在增加施加电压时，在接合界面处产生空穴与电子的再结合而发光。另一方面，在受光时，如图2(b)所示，在从外部赋予光时，在第1电极3和第2电极5之间产生电动势。图3是用于说明图2所示的自发光元件的电压电流特性的图。自发光元件1例如图3所示，在正向施加了电压时(正向偏置时)，具体讲在第1电极3上连接正电极、在第2电极5上连接负电极的情况下，当大于等于阈值Vth1时，流过与驱动电压V对应的电流I，进行亮度水平与该电流I大致成比例的发光。自发光元件1在发暗状态时显示例如实线所示的电压电流特性，在接受了外部光时(明亮状态时)，显示如虚线所示的电压电流特性。即，根据受光强度，在元件内部正向流过的电流量增多。因此，在明亮状态时，与发暗状态时相比，用于流过一定电流的驱动电压降低。在本实施方式中，根据自发光元件1对应于因受光形成的驱动特性变化的受光功能，检测通过自发光元件1所受光的外部光的强度，根据检测结果调整输入给自发光元件1的驱动信号。具体讲通过测定流向自发光元件1的电流和元件的电极之间的电压，来检测外部光强度，根据该检测结果，调整输入给自发光元件1的驱动信号。另一方面，在反向施加了电压时本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自发光面板，其特征在于，具有：包括发光功能和受光功能的多个自发光元件；向所述自发光元件输入与输入信号对应的驱动信号以产生所述发光功能的驱动单元；利用所述自发光元件的所述受光功能检测外部光的强度的检测单元； 根据所述检测单元的检测结果，调整所述驱动单元输入给所述自发光元件的所述驱动信号的控制单元。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：村山竜史，藤田幸二，
申请(专利权)人：东北先锋公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]