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本发明提供一种用于测量测试材料元素组成的仪器和方法。该仪器具有用于照射该测试材料的被照射区域的穿透性辐射源，用于探测由该测试材料发出的荧光并产生探测器信号的探测器和用于将该探测器信号转化为表征该测试材料组成的光谱的控制器。衰减材料的压板从之...
该专利属于塞莫尼根分析技术有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过塞莫尼根分析技术有限责任公司授权不得商用。

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