【技术实现步骤摘要】
忆阻器及其制备方法
[0001]本专利技术涉及忆阻器器件领域,具体涉及一种忆阻器及其制备方法。
技术介绍
[0002]电阻、电容与电感是三种广为人知的无源电路元件。蔡少棠教授于1971年由对称性论证推断出,应该存在第四种电路基本元件,他称之为忆阻器。电荷或磁通流经忆阻器时,忆阻器的电阻值会发生变化,并且忆阻器会将这种电阻值的变化记录下来。2008年,惠普公司首次在实验室里通过一个“导体
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绝缘体
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导体”的结构实现了忆阻器的构建。在纳米尺度系统中,固态电子和离子输运在外部偏置电压下耦合,忆阻就会自然产生。
[0003]目前,存在多种类型的忆阻器结构,但现有忆阻器依然普遍存在开关比低的问题。
技术实现思路
[0004]为实现上述目的,本专利技术提供一种忆阻器,包括:
[0005]衬底;
[0006]所述衬底表面具有第一金属电极和第二金属电极,所述第一金属电极和第二金属电极在同一直线上且相隔离;
[0007]所述第一金属电极和第二金属电极表面具有 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种忆阻器,其特征在于,包括:衬底;所述衬底表面具有第一金属电极和第二金属电极,所述第一金属电极和第二金属电极在同一直线上且相隔离;所述第一金属电极和第二金属电极表面具有碲线,所述碲线表面具有氧化碲薄层,所述碲线将所述第一金属电极和第二金属电极相连接。2.如权利要求1所述的一种忆阻器,其特征在于,所述第一金属电极和第二金属电极材料为惰性金属电极。3.如权利要求1所述的一种忆阻器,其特征在于,所述第一金属电极和第二金属电极材料为金。4.如权利要求1所述的一种忆阻器,其特征在于,所述碲线的直径范围为0.1微米~2微米,所述氧化碲薄层的厚度范围为1纳米~5纳米。5.如权利要求1所述的一种忆阻器,其特征在于,所述忆阻器的设置电压与恢复电压均小于5V。6.一种忆阻器的制备方法,其特征在于,包括:提供衬底;在所述衬底表面形成第一金属电极和第二金属电极,所述第一金属电极和第二金属电极在同一直线上且相隔离;转移所述碲线到所述第一金属电极和第二电表面,所述碲线表面具有氧化碲薄层,所述碲线将所述第一金属电极和第二金属电极相连接。7.如权利要求6所述的一种忆阻器的制备方法,其特征在于,所述第一金属电极和第二金属电极通过热蒸镀工艺进行制备。...
【专利技术属性】
技术研发人员:李京波,刘雪婷,霍能杰,
申请(专利权)人:浙江芯科半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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