一种线束导通测试方法及线束导通测试机技术

本发明专利技术实施例提供一种线束导通测试方法及线束导通测试机，所述线束包括多个引脚，线束导通测试方法包括：获取每组的两个所述引脚的编号名称以及两个所述引脚之间的电性能标准值；获取每组的两个所述引脚的编号名称以及两个所述引脚之间的电性能测试值；根据所述电性能标准值，判断与所述电性能标准值相同编号名称的两个所述引脚之间的电性能测试值是否正常。本发明专利技术实施例提供一种线束导通测试方法及线束导通测试机，以实现判断用作测试的两个引脚之间的电性能测试值是否正常，从而可以判断用作测试的两个引脚是否正常。断用作测试的两个引脚是否正常。断用作测试的两个引脚是否正常。

【技术实现步骤摘要】
一种线束导通测试方法及线束导通测试机


[0001]本专利技术涉及测试技术，尤其涉及一种线束导通测试方法及线束导通测试机。

技术介绍

[0002]USB Type
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C是一种USB接口外形标准，简称Type
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C接口。Type
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C接口的定义如下：有四对TX/RX差分线，两对USBD+/D
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，一对SBU，两个CC，另外还有四个VBUS和四个地线。四对TX/RX差分线可以用来传输USB3.0信号，支持全双工正反接，跟USB2.0信号不可正反接比起来，可正反接的设计极大的提高了用户验。两对USBD+/D
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用来向下兼容USB2.0，可以传输USB3.0的信号。CC线(包括CC1和CC2)主要用于电源传输模块(Power Delivery，简称PD)的通讯，CC线首先是用来判断设备插入的方向：正插或反插，如果是正插，主机使用CC1和设备通讯，反插使用CC2。SBU线在PD功能开启时，化身为PD协议中的AUX_P/AUX_N差分线(它的极性是可以根据正反插方向修改的)，负责传输设备的EDID(即显示器识别数据)等关键信息。
[0003]正是由于Type
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C接口具有正反可插接口设计，不会再出现错插或者失误之后导致的部件受损。并且，Type
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C接口有着强大的兼容性，成为能够连接PC、游戏主机、智能手机、存储设备和拓展均等一切电子设备的标准化接口；另外，Type
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C还支持USB3.1标准，该标准供电最大100W，电压和电流都会提高。基于以上优点，Type
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C接口已经成为目前消费电子中运用最广泛的接口之一。
[0004]Type
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C接口在消费电子的广泛运用，使得对电子产品带有Type
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C接口一体线束(这里的Type
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C接口一体线束，是指电子产品带有Type
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C接口，并带有Type
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C接口的线束，且不同于Type
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C充电器，线束无法从电子产品中取下来)的线束测试也提出了更高的要求。普通的USB 2.0接口只有VBUS、D+、D
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、GND四个接口，且外观尺寸较大，测量起来很容易，但是Type
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C接口外观尺寸比USB 2.0要小得多，却密集的排列了24根信号线。这样一来，这种Type
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C接口一体线束的产品形态，对线束测量提出了更高的要求。
[0005]目前这种Type
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C接口一体线束的电子产品还没有可以详细对每个引脚进行详细测量短路、断路的测试方法，而仅仅是对电子产品的整体进行测试。

技术实现思路

[0006]本专利技术实施例提供一种线束导通测试方法及线束导通测试机，以实现判断用作测试的两个引脚之间的电性能测试值是否正常，从而可以判断用作测试的两个引脚是否正常。
[0007]第一方面，本专利技术实施例提供一种线束导通测试方法，所述线束包括多个引脚，包括：
[0008]获取每组的两个所述引脚的编号名称以及两个所述引脚之间的电性能标准值；
[0009]获取每组的两个所述引脚的编号名称以及两个所述引脚之间的电性能测试值；
[0010]根据所述电性能标准值，判断与所述电性能标准值相同编号名称的两个所述引脚之间的电性能测试值是否正常。
[0011]可选地，获取每组的两个所述引脚的编号名称以及两个所述引脚之间的电性能标准值，包括：
[0012]获取多条所述线束中每组的两个所述引脚的编号名称以及两个所述引脚之间的电性能样品值；
[0013]根据多条所述线束中相同编号名称的两个所述引脚之间的电性能样品值的平均值或者中值，获取两个所述引脚之间的电性能标准值。
[0014]可选地，所述线束包括两排设置的多个所述引脚，多个所述引脚包括4个接地引脚、4个供电引脚；
[0015]所述方法包括：
[0016]获取同一排中两个所述接地引脚之间的所述电性能测试值；
[0017]判断同一排中两个所述接地引脚之间的所述电性能测试值是否正常。
[0018]可选地，所述方法还包括：
[0019]若同一排中两个所述接地引脚之间的所述电性能测试值正常，则获取4个所述接地引脚中任意两者之间的所述电性能测试值；
[0020]判断4个所述接地引脚中任意两者之间的所述电性能测试值是否正常。
[0021]可选地，所述方法还包括：
[0022]若4个所述接地引脚中任意两者之间的所述电性能测试值正常，则获取4个所述供电引脚中任意两者之间的所述电性能测试值；
[0023]判断4个所述供电引脚中任意两者之间的所述电性能测试值是否正常。
[0024]可选地，所述方法还包括：
[0025]若4个所述供电引脚中任意两者之间的所述电性能测试值正常，则获取所述线束中除所述接地引脚和所述供电引脚外的所述引脚中，任意两者之间的所述电性能测试值；
[0026]判断所述线束中除所述接地引脚和所述供电引脚外的所述引脚中，任意两者之间的所述电性能测试值是否正常。
[0027]可选地，根据所述电性能标准值，判断与所述电性能标准值相同编号名称的两个所述引脚之间的电性能测试值是否正常，包括：
[0028]根据所述电性能标准值，以及与所述电性能标准值相同编号名称的两个所述引脚之间的电性能测试值之间的差值或者比值，判断所述电性能测试值是否正常。
[0029]可选地，在根据所述电性能标准值，判断与所述电性能标准值相同编号名称的两个所述引脚之间的电性能测试值是否正常之后，还包括：
[0030]若两个所述引脚之间的电性能测试值不正常，根据所述线束中其他组内两个所述引脚之间的电性能测试值，确定异常的所述引脚。
[0031]第二方面，本专利技术实施例提供一种线束导通测试机，用于执行如第一方面所述的方法。
[0032]可选地，包括测试电路，所述测试电路包括两个模拟开关组，所述模拟开关组包括模拟开关；
[0033]所述模拟开关包括多个输入端和输出端，所述输入端与所述线束中的引脚电连接，同一个所述模拟开关组中各个所述输出端电连接。
[0034]本专利技术实施例提供一种线束导通测试方法，获取每组的两个引脚的编号名称以及
两个引脚之间的电性能标准值，获取每组的两个引脚的编号名称以及两个引脚之间的电性能测试值，根据电性能标准值，判断与电性能标准值相同编号名称的两个引脚之间的电性能测试值是否正常。本专利技术实施例，以相同组的电性能测试值与电性能标准值作对比，以判断相同组的电性能测试值与电性能标准值之间的偏差，进而判断用作测试的两个引脚之间的电性能测试值是否正常，从而可以判断用作测试的两个引脚是否正常。
附图说明
[0035]图1为本专利技术实施例提供的一种线束导通测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种线束导通测试方法，所述线束包括多个引脚，其特征在于，包括：获取每组的两个所述引脚的编号名称以及两个所述引脚之间的电性能标准值；获取每组的两个所述引脚的编号名称以及两个所述引脚之间的电性能测试值；根据所述电性能标准值，判断与所述电性能标准值相同编号名称的两个所述引脚之间的电性能测试值是否正常。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取每组的两个所述引脚的编号名称以及两个所述引脚之间的电性能标准值，包括：获取多条所述线束中每组的两个所述引脚的编号名称以及两个所述引脚之间的电性能样品值；根据多条所述线束中相同编号名称的两个所述引脚之间的电性能样品值的平均值或者中值，获取两个所述引脚之间的电性能标准值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述线束包括两排设置的多个所述引脚，多个所述引脚包括4个接地引脚、4个供电引脚；所述方法包括：获取同一排中两个所述接地引脚之间的所述电性能测试值；判断同一排中两个所述接地引脚之间的所述电性能测试值是否正常。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：若同一排中两个所述接地引脚之间的所述电性能测试值正常，则获取4个所述接地引脚中任意两者之间的所述电性能测试值；判断4个所述接地引脚中任意两者之间的所述电性能测试值是否正常。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：若4个所述接地引脚中任意两者之间的所述电性能测试值正常，则获取4个所述供电引脚中任意两者之间的所述电性能测试值...

【专利技术属性】
技术研发人员：施磊，何诚，张建辉，戴玉瑶，周璋，
申请(专利权)人：立讯精密工业滁州有限公司，
类型：发明
国别省市：