用于确定射频设备异常的方法、装置、电子装置及设备制造方法及图纸

本申请涉及射频技术领域，公开用于确定射频设备异常的方法、装置、电子装置及设备。其中，该方法包括：首先获取射频设备的多个初始发射频率，并以每个初始发射频率发射射频场，每个射频场会在接收端电压比较器产生正弦波，基于每个初始发射频率产生的正弦波的幅值，确定幅值的变化趋势，如果幅值的变化趋势是单调变化的话，说明射频设备的天线产生了异常，因此，通过接收端幅值的变化趋势可以简单快速的定位到射频设备的异常发生元件，提高了射频设备的调试效率，且调试结果的判断依据客观的变化趋势，保证了调试结果的准确性。保证了调试结果的准确性。保证了调试结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
用于确定射频设备异常的方法、装置、电子装置及设备


[0001]本申请涉及射频
，例如涉及一种用于确定射频设备异常的方法、装置、电子装置及设备。

技术介绍

[0002]目前的NFC技术，是在射频设备与电子标签之间进行非接触式的数据通信，以达到识别目标的目的。电子标签与阅读器之间通过耦合元件实现射频信号的空间(无接触)耦合、在耦合通道内，根据时序关系，实现能量的传递、数据的交换。空间耦合基于射频天线。天线的谐振状态，是指天线自身的感抗与容抗大小相等，相互抵消，天线为纯电阻状态，目的是让天线的电流最大，有功功率最多，无功功率最少，辐射最强，效率最好，即发射幅值最大。
[0003]在实现本申请实施例的过程中，发现相关技术中至少存在如下问题：射频设备调试过程中，通常在产生异常后需要调试人员在查看实现代码流程等一系列操作后，才发现异常产生原因，调试效率较低，且调试过程依赖于调试人员的经验，调试效果不稳定。
[0004]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键／重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。
[0006]本申请实施例提供了一种用于确定射频设备异常的方法、装置、电子装置及设备，以提高射频设备的调试效率。
[0007]在一些实施例中，所述方法包括：获取射频设备的多个初始发射频率，并以每个初始发射频率发射射频场；获取每个所述初始发射频率对应的接收端幅值；其中，每个所述接收端幅值为接收端电压比较器在每个所述初始发射频率上产生的正弦波的幅值；在所有所述接收端幅值的变化趋势为单调变化的情况下，确定所述射频设备产生异常的元件为天线。
[0008]可选地，所述获取射频设备的多个初始发射频率，包括：设定初始扫描参数；基于所述初始扫描参数确定所述射频设备的多个初始发射频率。
[0009]可选地，所述初始扫描参数至少包括：起始扫描频率、扫描步长、终止扫描频率。
[0010]可选地，所述以每个初始发射频率发射射频场之前，还包括：设置所述射频设备的初始时钟频率；调整所述接收端电压比较器的接收信号范围，以使所述接收端电压比较器接收到的信号幅值符合预定条件。
[0011]可选地，所述调整所述接收端电压比较器的接收信号范围，包括：在所述接收端电压比较器接收到的信号幅值与预设基准电压值之间的差值大于预设差值的情况下，调整所
述接收端电压比较器的一个或者两个端点值，以增大所述接收端电压比较器的接收信号范围；直至所述接收端电压比较器接收到的信号幅值与预设基准电压值之间的差值小于预设差值，停止调整。
[0012]可选地，还包括：在所有所述接收端幅值的变化趋势不满足单调变化的情况下，获取多个微调发射频率；以每个微调发射频率发射射频场，并获取每个微调发射频率对应的微调幅值；其中，每个微调幅值为接收端电压比较器在每个微调发射频率上产生的正弦波的幅值；根据所有微调幅值，确定所述射频设备的谐振频率。
[0013]可选地，所述获取多个微调发射频率，包括：设定微调扫描参数；基于微调扫描参数，确定多个微调发射频率；其中，多个微调发射频率中包括极值发射频率，所述极值发射频率为多个接收端幅值中的最大值对应的初始发射频率。
[0014]可选地，所述微调扫描参数包括：微调起始扫描频率、微调步长、微调终止扫描频率。
[0015]可选地，所述根据所有微调幅值，确定所述射频设备的谐振频率，包括：将所有微调幅值中的最大值对应的微调发射频率确定为所述射频设备的谐振频率。
[0016]在一些实施例中，所述装置包括：发射模块，被配置为获取射频设备的多个初始发射频率，并以每个初始发射频率发射射频场；获取模块，被配置为获取每个所述初始发射频率对应的接收端幅值；其中，每个所述接收端幅值为接收端电压比较器在每个所述初始发射频率上产生的正弦波的幅值；异常确定模块，被配置为在所有所述接收端幅值的变化趋势为单调变化的情况下，确定所述射频设备产生异常的元件为天线。
[0017]在一些实施例中，所述射频设备包括：射频芯片；上述的用于确定射频设备异常的装置，被安装于所述射频芯片内。
[0018]本申请实施例提供的用于确定射频设备异常的方法、装置、电子装置及设备，可以实现以下技术效果：本申请实施例首先获取射频设备的多个初始发射频率，并以每个初始发射频率发射射频场，每个射频场会在接收端电压比较器产生正弦波，基于每个初始发射频率产生的正弦波的幅值，确定幅值的变化趋势，如果幅值的变化趋势是单调变化的话，说明射频设备的天线产生了异常，因此，通过接收端幅值的变化趋势可以简单快速的定位到射频设备的异常发生元件，提高了射频设备的调试效率，且调试结果的判断依据客观的变化趋势，保证了调试结果的准确性。
[0019]以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。
附图说明
[0020]一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明和附图并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件示为类似的元件，附图不构成比例限制，并且其中：图1为射频设备的硬件结构示意图；图2a为仿真天线正常时发送射频端信号与接收端信号之间的关系示意图；图2b为仿真天线断路时发送射频端信号与接收端信号之间的关系示意图；图2c为仿真天线短路时发送射频端信号与接收端信号之间的关系示意图；
图3为本申请实施例提供的一种用于确定射频设备异常的方法的示意图；图4为本申请实施例提供的另一种用于确定射频设备异常的方法的示意图；图5为本申请实施例提供的又一种用于确定射频设备异常的方法的示意图；图6为本申请实施例提供的一种实际应用场景中用于确定射频设备异常的方法的示意图；图7为本申请实施例提供的一种用于确定射频设备异常的装置的示意图；图8为本申请实施例提供的一种电子装置的结构示意图；图9为本申请实施例提供的一种射频设备的示意图。
具体实施方式
[0021]为了能够更加详尽地了解本申请实施例的特点与
技术实现思路
，下面结合附图对本申请实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本申请实施例。在以下的技术描述中，为方便解释起见，通过多个细节以提供对所披露实施例的充分理解。然而，在没有这些细节的情况下，一个或多个实施例仍然可以实施。在其它情况下，为简化附图，熟知的结构和装置可以简化展示。
[0022]本申请实施例的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请实施例的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
[0023]除非另有说明本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于确定射频设备异常的方法，其特征在于，包括：获取射频设备的多个初始发射频率，并以每个初始发射频率发射射频场；获取每个所述初始发射频率对应的接收端幅值；其中，每个所述接收端幅值为接收端电压比较器在每个所述初始发射频率上产生的正弦波的幅值；在所有所述接收端幅值的变化趋势为单调变化的情况下，确定所述射频设备产生异常的元件为天线。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取射频设备的多个初始发射频率，包括：设定初始扫描参数；基于所述初始扫描参数确定所述射频设备的多个初始发射频率。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述以每个初始发射频率发射射频场之前，还包括：设置所述射频设备的初始时钟频率；调整所述接收端电压比较器的接收信号范围，以使所述接收端电压比较器接收到的信号幅值符合预定条件。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述调整所述接收端电压比较器的接收信号范围，包括：在所述接收端电压比较器接收到的信号幅值与预设基准电压值之间的差值大于预设差值的情况下，调整所述接收端电压比较器的一个或者两个端点值，以增大所述接收端电压比较器的接收信号范围；直至所述接收端电压比较器接收到的信号幅值与预设基准电压值之间的差值小于预设差值，停止调整。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：在所有所述接收端幅值的变化趋势不满足单调变化的情况下，获取多个微调发射频率；以每个微调发射频率发射射频场，并获取每个微调发射频率对应的微调幅值；其中，每个微调幅值为接收端电压比较器在每个微调发射频率上产生的正弦波的幅值；根据所有微调幅...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄金煌，
申请(专利权)人：北京紫光青藤微系统有限公司，
类型：发明
国别省市：