一种阵列天线的发射通道间相位差测量方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种阵列天线的发射通道间相位差测量方法与装置，涉及阵列天线发射通道间相位差测量领域，该阵列天线的发射通道间相位差测量方法与装置，包括以下步骤：S1.选择待测阵列天线的某个通道为参考通道，剩余通道为测量通道，S2.矢量网络分析仪端口1和端口2发出的频率分别为IF和IF+Δf的信号经过合路器同时进入端口1的参考接收机，S3.矢量网络分析仪端口的测量接收机同时测量计算，S4.测量通道与参考通道的传输相位差为(φ

【技术实现步骤摘要】
一种阵列天线的发射通道间相位差测量方法与装置


[0001]本专利技术涉及阵列天线发射通道间相位差测量领域，具体为一种阵列天线的发射通道间相位差测量方法与装置。

技术介绍

[0002]目前的阵列天线发射通道间相位差测试一般使用矢量网络分析仪进行测量。矢量网络分析仪一端连接待测阵列天线的某个通道，另一端连接参考接收天线，依次测量待测阵列天线每个通道的相位，就可以计算出待测阵列天线各通道之间的相位差。
[0003]这种测试方法的缺点是：只能测试不含混频的阵列天线，无法测量包含混频的阵列天线。
[0004]为了测量包含混频的阵列天线，可以使用矢量网络分析仪和参考混频器进行测量。矢量网络分析仪一端连接待测阵列天线的某个通道，发射中频信号，中频信号经过包含混频的阵列天线后频率改变为射频。矢量网络分析仪另一端连接参考接收天线和参考混频器，参考混频器将射频信号混频为中频信号。矢量网络分析仪通过测量发射中频信号与接收中频信号的相位差，确定此通道的相位。矢量网络分析仪依次测量待测阵列天线每个通道的相位，就可以计算出待测阵列天线各通道之间的相位差。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阵列天线的发射通道间相位差测量方法与装置，其特征在于，包括以下步骤：S1.选择待测阵列天线的某个通道为参考通道，剩余通道为测量通道；S2.矢量网络分析仪端口1连接待测阵列天线的参考通道，发射中频信号频率为IF+Δf，中频信号经过包含混频与内置本振的阵列天线后频率改变为射频RF+Δf；矢量网络分析仪端口2连接待测阵列天线的某一测量通道，发射中频信号频率为IF，中频信号经过包含混频与内置本振的阵列天线后频率改变为射频RF；矢量网络分析仪端口3连接参考接收天线，端口3的测量接收机同时接收两路频率分别为RF和RF+Δf的信号；矢量网络分析仪端口1和端口2发出的频率分别为IF和IF+Δf的信号经过合路器同时进入端口1的参考接收机；S3.矢量网络分析仪端口3的测量接收机同时测量RF和RF+Δf的相位，并计算，矢量网络分析仪端口1的测量接收机同时测量IF和IF+Δf的相位，并计算；S4.由于测量通道的传输相位为：φ
RF
‑
φ
IF
参考通道的传输相位为：φ
RF+Δf
‑
φ
IF+Δf
测量通道与参考通道的传输相位差为：(φ
RF
‑
φ
IF
)
‑
(φ
RF+Δf
‑
φ
IF+Δf
)＝(φ
RF
‑
φ
RF+Δf
)
‑
(φ
IF
‑
φ
IF+Δf
)；S5.需要获得参考通道与其他通道之间的相位差，可以选择任一其他通道作为参考通道，重复上述过程。2.根据权利要求1所述的一种阵列天线的发射通道间相位差测量方法与装置，其特征在于：所述矢量网络分析仪包括有合路器、参考接收机、测量接收机，所述矢量网络分析仪具有两个激励源，所述矢量网络分析仪至少具有3个测试端口。3.根据权利要求1所述的一种阵列天线的发射通道间相位差测量方法与装置，其特征在于：为了矢量网络分析仪能够从空间接收到的信号中区分参考通道与其他被测通道，将参考通道的输入频率与其他被测通道的输入频率保持一个固定的频率差Δf，频率差Δf应小于矢量网络分析仪接收机的中频带宽，使得矢量网络分析仪接收机可以同时接收两种频率的信号。4.根据权利要求1所述的一种阵列天线的发射通道间相位差测量方法与装置，其特征在于：测量通道与参考通道的传输相位差测量结果中存在固定的测量误差ε，但是此测量误差在测试过程中保持不变，因此使用两次测量的差值即可消除此测量误差，测量过程中保持参考通道固定不变，矢量网络分析仪依次测量待测阵列天线每个测量通道与参考通道的传输相位差，就可以计算出待测阵列天线各测量通道之间的相位差。5.根据权利要求1所述的一种阵列天线的发射通道间相位差测量方法与装置，其特征在于：矢量网络分析仪端口1连接至待测阵列天线端口1，产生频率为IF+Δf的激励信号；矢量网络分析仪端口2连接至待测阵列天线端口2，产生...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖忠杰，张吉林，王川，李文军，陈开国，陈世朴，王维，李鹏，谢倩，
申请(专利权)人：成都坤恒顺维科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：