一种间歇工作寿命测试设备检测夹具制造技术

本申请提供了一种间歇工作寿命测试设备检测夹具，属于电子技术领域，导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域应用。一种间歇工作寿命测试设备检测夹具，使用时，将待测芯片放置在降温板上，根据芯片的大小调整夹持装置的水平距离和垂直距离，使夹持装置对准待测芯片四角。通过外力拨动伸缩筒，在滑动板的带动下左右移动，移到合适的位置时，启用伸缩筒通过橡胶垫固定在降温板上，通过丝杆带动横杆相向移动可以调节垂直距离。移动装置位置调整好之后，再通过持装置对待测芯片进行固定。此过程便于操作，使用的待测芯片比较广泛，有利于更好地进行检测。有利于更好地进行检测。有利于更好地进行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种间歇工作寿命测试设备检测夹具


[0001]本申请涉及电子
，具体而言，涉及一种间歇工作寿命测试设备检测夹具。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种，需要一种寿命测试设备来对其进行寿命检测。
[0003]在进行测试的时候需要对半导体芯片进行固定，现有的寿命测试设备还存在一定的缺陷且夹持装置不够灵活，从而操作起来不够方便，专利号为202121947376.5的装置针对夹持装置不够灵活的问题作出了改善，但还存在一些不足之处：半导体芯片的大小不能确定，夹持装置的位置不能灵活调节，以致该装置使用的范围有限。

技术实现思路

[0004]本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种间歇工作寿命测试设备检测夹具，通过滑动板带动夹持装置水平移动，通过丝杆带动夹持装置垂直移动。
[0005]本申请是这样实现的：
[0006]本申请提供了一种间歇工作寿命测试设备检测夹具，包括水平移动组件和垂直移动组件。
[0007]所述水平移动组件包括横杆、检测间、滑动板、伸缩筒、橡胶垫、夹持装置，所述横杆对称设置在所述检测间内，所述滑动板滑动设置在所述横杆上，所述伸缩筒固定设置在所述滑动板下，所述滑动板的输出端朝下，所述橡胶垫设置在所述滑动板的输出端，所述夹持装置固定设置在所述滑动板一侧。所述垂直移动组件包括丝杆、电机、立柱、滑杆，所述丝杆转动连接在所述横杆一端，所述丝杆一端安装在所述电机输出端，所述电机设置在所述检测间外，所述丝杆另一端转动安装在所述立柱上，所述立柱对称设置在所述检测间内，所述滑杆设置在所述横杆另一端，所述滑杆设置在所述立柱上。
[0008]在本申请的一种实施例中，所述横杆上开设有滑槽，所述滑动板滑动设置在所述滑槽内。
[0009]在本申请的一种实施例中，所述夹持装置包括螺纹筒、螺纹杆和压盘，所述螺纹杆螺接在所述螺纹筒内，所述压盘转动设置在所述螺纹杆下。
[0010]在本申请的一种实施例中，所述检测间内设置有降温板，所述立柱设置在所述降温板周侧。
[0011]在本申请的一种实施例中，所述压盘表面与所述降温板表面平行设计。
[0012]在本申请的一种实施例中，所述横杆内设置有螺纹，其中一个所述横杆内的螺纹与所述丝杆上的螺纹旋向相反。
[0013]在本申请的一种实施例中，所述检测间上转动设置有透明门。
[0014]在本申请的一种实施例中，所述检测间下设置有电气柜，所述电气柜一侧设置有控制柜。
[0015]本申请的有益效果是：本申请通过上述设计得到的一种间歇工作寿命测试设备检测夹具，使用时，将待测芯片放置在降温板上，根据芯片的大小调整夹持装置的水平距离和垂直距离，使夹持装置对准待测芯片四角。通过外力拨动伸缩筒，在滑动板的带动下左右移动，移到合适的位置时，启用伸缩筒通过橡胶垫固定在降温板上，通过丝杆带动横杆相向移动可以调节垂直距离。移动装置位置调整好之后，再通过夹持装置对待测芯片进行固定。此过程便于操作，使用的待测芯片比较广泛，有利于更好地进行检测。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0017]图1是本申请实施方式提供的一种间歇工作寿命测试设备检测夹具立体结构示意图；
[0018]图2为本申请实施方式提供的一种间歇工作寿命测试设备检测夹具外部立体结构示意图；
[0019]图3为本申请实施方式提供的一种间歇工作寿命测试设备检测夹具内部立体结构示意图；
[0020]图4为本申请实施方式提供的一种间歇工作寿命测试设备检测夹具夹持装置立体结构示意图。
[0021]图中：100
‑
水平移动组件；110
‑
横杆；111
‑
滑槽；120
‑
检测间；121
‑
降温板；122
‑
透明门；123
‑
电气柜；124
‑
控制柜；130
‑
滑动板；140
‑
伸缩筒；150
‑
橡胶垫；160
‑
夹持装置；161
‑
螺纹筒；162
‑
螺纹杆；163
‑
压盘；300
‑
垂直移动组件；310
‑
丝杆；320
‑
电机；330
‑
立柱；340
‑
滑杆。
具体实施方式
[0022]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。
[0023]为使本申请实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施方式中的附图，对本申请实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本申请一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本申请中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本申请保护的范围。
[0024]实施例
[0025]如图1
‑
图4所示，根据本申请实施例的一种间歇工作寿命测试设备检测夹具包括
水平移动组件100和垂直移动组件300。水平移动组件100通过滑动板130带动夹持装置160水平移动，垂直移动组件300，通过丝杆310带动夹持装置160垂直移动。
[0026]如图2
‑
图4所示，在进行测试的时候需要对半导体芯片进行固定，现有的寿命测试设备还存在一定的缺陷且夹持装置160不够灵活，从而操作起来不够方便，半导体芯片的大小不能确定，夹持装置160的位置不能灵活调节，以致该装置使用的范围有限。
[0027]水平移动组件100包括横杆110、检测间120、滑动板130、伸缩筒140、橡胶垫150、夹持装置160，横杆110对称设置在检测间120内，检测间120内设置有降温板121，检测间120上转动设置有透明门122，检测间120下设置有电气柜123，电气柜123一侧设置有控制柜124。立柱330设置在降温板121周侧。滑动板130滑动设置在横杆110上，横杆110上开设有滑槽111，滑动板130滑动设置在滑槽111内。伸缩本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种间歇工作寿命测试设备检测夹具，其特征在于，包括水平移动组件(100)，所述水平移动组件(100)包括横杆(110)、检测间(120)、滑动板(130)、伸缩筒(140)、橡胶垫(150)、夹持装置(160)，所述横杆(110)对称设置在所述检测间(120)内，所述滑动板(130)滑动设置在所述横杆(110)上，所述伸缩筒(140)固定设置在所述滑动板(130)下，所述滑动板(130)的输出端朝下，所述橡胶垫(150)设置在所述滑动板(130)的输出端，所述夹持装置(160)固定设置在所述滑动板(130)一侧；垂直移动组件(300)，所述垂直移动组件(300)包括丝杆(310)、电机(320)、立柱(330)、滑杆(340)，所述丝杆(310)转动连接在所述横杆(110)一端，所述丝杆(310)一端安装在所述电机(320)输出端，所述电机(320)设置在所述检测间(120)外，所述丝杆(310)另一端转动安装在所述立柱(330)上，所述立柱(330)对称设置在所述检测间(120)内，所述滑杆(340)设置在所述横杆(110)另一端，所述滑杆(340)设置在所述立柱(330)上。2.根据权利要求1所述的一种间歇工作寿命测试设备检测夹具，其特征在于，所述横杆(110)上开...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱永兵，
申请(专利权)人：天津瑞芯电子有限公司，
类型：新型
国别省市：