一种间歇工作寿命测试设备的降温设备制造技术

本申请提供了一种间歇工作寿命测试设备的降温设备，属于电子技术领域，包括测试箱、电器柜和控制台，所述测试箱设置在所述电器柜上，所述控制台设置在所述电器柜一侧，所述测试箱包括水冷台、水冷槽、吸热分隔板、密封盖、进水口、出水口，所述水冷台设置在所述测试箱内，所述水冷槽开设在所述水冷台内，所述吸热分隔板等距交错设置在所述水冷槽内，所述密封盖紧密卡接在所述水冷槽上，所述进水管和所述出水管开设在所述水冷槽一端。使用时，将需要检测的半导体通过夹持装置固定在水冷台上，然后向水冷槽内通入冷却液，因为吸热分隔板等距交错设置在水冷槽内，起到了阻碍的作用，所以冷却液在水冷槽内流动的比较缓慢，停留的时间比较长，已达到更好的降温效果。当冷却降温效果不佳时，将冷却液抽出收集，更换新的冷却液，可以达到更好的降温效果。水冷台长时间使用，需要对水冷槽进行清洗，拉动密封盖的把手，使用外力使铁条脱离磁铁，密封盖就可以取下，然后拧开进水管和出水管得接头可以取出水冷台再对其进行清洗。再对其进行清洗。再对其进行清洗。

【技术实现步骤摘要】
一种间歇工作寿命测试设备的降温设备


[0001]本申请涉及电子
，具体而言，涉及一种间歇工作寿命测试设备的降温设备。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种，需要一种寿命测试设备来对其进行寿命检测。
[0003]然而，现有的寿命测试设备还存在一定的缺陷：寿命测试当中需要使用到的水冷板冷却降温的速度不够快，而且，有些添加液体的水冷板，水冷板内的冷却液不容易更换，长期使用冷却降温效果不佳，因此提出一种间歇工作寿命测试设备的降温设备来改善上述提出的不足。

技术实现思路

[0004]本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种间歇工作寿命测试设备的降温设备，通过水冷台对待测半导体进行降温。
[0005]本申请是这样实现的：
[0006]本申请提供了一种间歇工作寿命测试设备的降温设备，包括测试箱、电器柜和控制台。
[0007]所述测试箱设置在所述电器柜上，所述控制台设置在所述电器柜一侧，所述测试箱包括水冷台、水冷槽、吸热分隔板、密封盖、进水口、出水口，所述水冷台设置在所述测试箱内，所述水冷槽开设在所述水冷台内，所述吸热分隔板等距交错设置在所述水冷槽内，所述密封盖紧密卡接在所述水冷槽上，所述进水管和所述出水管开设在所述水冷槽一端。
[0008]在本申请的一种实施例中，所述水冷台周侧开设有方形槽，所述方形槽的数量为三个，所述方形槽底部设置有磁铁。
[0009]在本申请的一种实施例中，所述密封盖周侧设置有铁条，所述铁条大小与所述方形槽对应。
[0010]在本申请的一种实施例中，所述测试箱内均匀设置有吸盘，所述水冷台放置在所述吸盘上。
[0011]在本申请的一种实施例中，所述水冷台上方固定设置有支撑架，所述支撑架上设置有夹持装置。
[0012]在本申请的一种实施例中，所述电器柜远离所述控制台的一侧设置有水箱，所述进水管和所述出水管连通在所述水箱内，所述水箱上设置有水泵。
[0013]在本申请的一种实施例中，所述进水管和所述出水管上均设置有控制阀。
[0014]在本申请的一种实施例中，所述密封盖上设置有把手，所述把手转动连接在所述密封盖两侧。
[0015]在本申请的一种实施例中，所述测试箱上设置有透明防护门。
[0016]在本申请的一种实施例中，所述密封盖内设置有密封圈。
[0017]本申请的有益效果是：本申请通过上述设计得到的一种间歇工作寿命测试设备的降温设备，使用时，将需要检测的半导体通过夹持装置固定在水冷台上，然后向水冷槽内通入冷却液，因为吸热分隔板等距交错设置在水冷槽内，起到了阻碍的作用，所以冷却液在水冷槽内流动的比较缓慢，停留的时间比较长，已达到更好的降温效果。当冷却降温效果不佳时，将冷却液抽出收集，更换新的冷却液，可以达到更好的降温效果。水冷台长时间使用，需要对水冷槽进行清洗，拉动密封盖的把手，使用外力使铁条脱离磁铁，密封盖就可以取下，然后拧开进水管和出水管得接头可以取出水冷台再对其进行清洗。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本申请实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0019]图1是本申请实施方式提供的一种间歇工作寿命测试设备的降温设备立体结构示意图；
[0020]图2为本申请实施方式提供的一种间歇工作寿命测试设备的降温设备测试箱内部立体结构示意图；
[0021]图3为本申请实施方式提供的一种间歇工作寿命测试设备的降温设备水冷台主视分解平面图；
[0022]图4为本申请实施方式提供的一种间歇工作寿命测试设备的降温设备水冷槽立体结构示意图。
[0023]图中：100
‑
测试箱；110
‑
水冷台；111
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方形槽；112
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磁铁；113
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吸盘；114
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支撑架；115
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夹持装置；116
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透明防护门；120
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水冷槽；130
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吸热分隔板；140
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密封盖；141
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铁条；142
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把手；150
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进水管；151
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控制阀；160
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出水管；200
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电器柜；210
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水箱；300
‑
控制台。
具体实施方式
[0024]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。
[0025]为使本申请实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施方式中的附图，对本申请实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本申请一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本申请中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本申请保护的范围。
[0026]实施例
[0027]如图1
‑
图4所示，根据本申请实施例的一种间歇工作寿命测试设备的降温设备包
括测试箱100、电器柜200和控制台300，测试箱100通过水冷台110对待测半导体进行降温。
[0028]如图2
‑
图4所示，现有的寿命测试设备还存在一定的缺陷：寿命测试当中需要使用到的水冷板冷却降温的速度不够快，而且，有些添加液体的水冷板，水冷板内的冷却液不容易更换，长期使用冷却降温效果不佳，因此提出一种间歇工作寿命测试设备的降温设备来改善上述提出的不足。
[0029]测试箱100设置在电器柜200上，控制台300设置在电器柜200一侧，电器柜200远离控制台300的一侧设置有水箱210，进水管150和出水管160连通在水箱210内，水箱210上设置有水泵。吸热分隔板130等距交错设置在水冷槽120内，密封盖140紧密卡接在水冷槽120上，进水管150和出水管160开设在水冷槽120一端。密封盖140周侧设置有铁条141，铁条141大小与方形槽111对应。密封盖140上设置有把手142，把手142转动连接在密封盖140两侧,密封盖140内设置有密封圈，防止水冷槽120内的冷却液溢出本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种间歇工作寿命测试设备的降温设备，其特征在于，包括测试箱(100)、电器柜(200)、控制台(300)，所述测试箱(100)设置在所述电器柜(200)上，所述控制台(300)设置在所述电器柜(200)一侧，所述测试箱(100)包括水冷台(110)、水冷槽(120)、吸热分隔板(130)、密封盖(140)、进水管(150)、出水管(160)，所述水冷台(110)设置在所述测试箱(100)内，所述水冷槽(120)开设在所述水冷台(110)内，所述吸热分隔板(130)等距交错设置在所述水冷槽(120)内，所述密封盖(140)紧密卡接在所述水冷槽(120)上，所述进水管(150)和所述出水管(160)开设在所述水冷槽(120)一端。2.根据权利要求1所述的一种间歇工作寿命测试设备的降温设备，其特征在于，所述水冷台(110)周侧开设有方形槽(111)，所述方形槽(111)的数量为三个，所述方形槽(111)底部设置有磁铁(112)。3.根据权利要求2所述的一种间歇工作寿命测试设备的降温设备，其特征在于，所述密封盖(140)周侧设置有铁条(141)，所述铁条(141)大小与所述方形槽(111)对应。4.根据权利要求1所述的一种间歇工作寿命测试设备的降温设备，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱永兵，
申请(专利权)人：天津瑞芯电子有限公司，
类型：新型
国别省市：