一种双能X射线探测器及扫描设备制造技术

本文提供一种双能X射线探测器及扫描设备。双能X射线探测器包括组装在一起的高能探测器卡、滤过片、低能探测器卡和柔性的数据排线，高能探测器卡、滤过片和低能探测器卡在第一方向依次设置，数据排线电连接高能探测器卡和低能探测器卡；其中，高能探测器卡和低能探测器卡中的至少之一能够相对于滤过片在第二方向和/或第三方向进行位置调节，第一方向、第二方向和第三方向两两垂直相交，此结构能够更容易地改变高能探测器的像素单元和低能探测器的像素单元的相对空间位置；另外，数据排线设置为柔性件，不仅可以避免数据排线干涉位置调节过程，还可以保证数据排线的数据传输性能和物理性能。和物理性能。和物理性能。

【技术实现步骤摘要】
一种双能X射线探测器及扫描设备


[0001]本技术涉及X射线检测和成像
，具体涉及一种双能X射线探测器及扫描设备。

技术介绍

[0002]目前在X射线检查系统中，扫描设备包括相对设置的X射线探测器和X射线发生装置，被检查的物体以恒定的速度通过X射线探测器和X射线发生装置之间进行扫描。X射线探测器一般为双能X射线探测器。双能X射线探测器包括低能探测器、高能探测器和滤过片，X射线发生装置与低能探测器相对设置，滤过片位于高能探测器和低能探测器之间，滤过片的材质一般为铜或铝。
[0003]X射线发生装置朝向X射线探测器发射X射线，经过被检测物体衰减后的X射线首先通过低能探测器，其能谱的低能部分会被低能探测器的(低能)像素单元探测到；随后射线经滤过片进一步滤过，剩下的高能部分会被高能探测器的(高能)像素单元探测到；最终通过图像重建获得被检物体的图像。
[0004]为了提高图像的空间分辨率，可以通过增加像素单元的尺寸或数量的方式实现，但此方案会导致X射线探测器成本增加；或者可以通过降低传输速度的方式实现，但此方案会降低物体检查的效率；或者可以通过增加读出频率的方式实现，但此方案会使信噪比降低。
[0005]基于上述问题，本领域技术人员提出了一种改变双能X射线探测器的高能探测器的像素单元和低能探测器的像素单元的相对空间位置的方案，配合相应的图像处理算法，实现了在不增加系统成本、不降低系统性能的前提下，提高了图像的空间分辨率。

技术实现思路

[0006]本技术的主要目的是提供一种双能X射线探测器，更容易改变高能探测器的像素单元和低能探测器的像素单元的相对空间位置。
[0007]本技术的主要目的是还提供一种扫描设备。
[0008]为实现上述目的，本技术实施例提出的双能X射线探测器，包括组装在一起的高能探测器卡、滤过片、低能探测器卡和柔性的数据排线，所述高能探测器卡、所述滤过片和所述低能探测器卡在第一方向依次设置，所述数据排线电连接所述高能探测器卡和所述低能探测器卡；其中，所述高能探测器卡和所述低能探测器卡中的至少之一能够相对于所述滤过片在第二方向和/或第三方向进行位置调节，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向两两相交。
[0009]在一些示例性实施例中，所述双能X射线探测器还包括：螺纹连接件，所述高能探测器卡、所述滤过片和所述低能探测器卡通过所述螺纹连接件组装在一起。
[0010]在一些示例性实施例中，所述高能探测器卡和所述低能探测器卡中的之一设有连接孔、另一设有第一调节孔，所述滤过片设有第二调节孔，所述螺纹连接件依次穿设于所述
第一调节孔、所述第二调节孔和所述连接孔。
[0011]在一些示例性实施例中，所述连接孔为螺纹孔，所述螺纹连接件为螺栓，所述螺栓旋紧在所述螺纹孔内。
[0012]在一些示例性实施例中，所述连接孔为通孔，所述螺纹连接件包括螺栓和螺母，所述螺栓伸出所述通孔，所述螺母旋紧在所述螺栓上。
[0013]在一些示例性实施例中，所述第一调节孔和所述第二调节孔均为长条孔，所述长条孔均沿所述第二方向布置、且长度不大于3d～4d，d为像素单元在第二方向的尺寸。
[0014]在一些示例性实施例中，所述第一调节孔和所述第二调节孔均为长条孔，所述长条孔均沿所述第三方向布置、且长度不大于3e～4e，e为像素单元在第三方向的尺寸。
[0015]在一些示例性实施例中，所述第一调节孔、所述第二调节孔和所述连接孔包括沿所述第一方向的周向间隔设置的多组，至少一组所述第二调节孔的一旁设有沿所述第二调节孔的延伸方向布置的刻度标识。
[0016]在一些示例性实施例中，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向两两垂直相交。
[0017]在一些示例性实施例中，所述滤过片和所述高能探测器卡之间设有支撑结构，所述支撑结构设置成保持所述滤过片和所述高能探测器卡之间的间隔为设定值。
[0018]在一些示例性实施例中，所述设定值为4～5mm。
[0019]在一些示例性实施例中，所述低能探测器卡和所述高能探测器卡均包括：探测器控制电路板；多个像素单元，沿第二方向和/或所述第三方向依次设于所述探测器控制电路板上；和排线接口，设于所述探测器控制电路板上；其中，所述低能探测器卡的多个像素单元和所述高能探测器卡的多个像素单元在第二方向或第三方向错位的尺寸小于一个像素单元的尺寸。
[0020]本技术实施例提出的扫描设备，包括X射线发生装置和上述任一实施例所述的双能X射线探测器，所述X射线发生装置和所述低能探测器卡在第一方向相对设置，所述X射线发生装置和所述低能探测器卡之间形成传输通道。
[0021]本技术实施例提供的双能X射线探测器，高能探测器卡、滤过片、低能探测器卡和数据排线组装在一起，高能探测器卡和低能探测器卡中的至少之一能够相对于滤过片在第二方向和/或第三方向进行位置调节，此结构能够更容易地改变高能探测器的像素单元和低能探测器的像素单元的相对空间位置；另外，数据排线设置为柔性件，不仅可以避免数据排线干涉位置调节过程，还可以保证数据排线的数据传输性能和物理性能。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0023]图1为本技术一实施例所述的双能X射线探测器的分解结构示意图；
[0024]图2为图1所示双能X射线探测器在x方向错位时的结构示意图；
[0025]图3为图1所示双能X射线探测器在z方向错位时的结构示意图。
[0026]其中，图1至图3中附图标记与部件名称之间的对应关系为：
[0027]100高能探测器卡，110高能探测器控制电路板，111第一调节孔，120高能像素单元，200滤过片，210第二调节孔，220支撑结构，300低能探测器卡，310低能探测器控制电路板，311连通孔，320低能像素单元，330第一排线接口，400螺纹连接件。
[0028]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0029]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0030]需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双能X射线探测器，其特征在于，包括组装在一起的高能探测器卡、滤过片、低能探测器卡和柔性的数据排线，所述高能探测器卡、所述滤过片和所述低能探测器卡在第一方向依次设置，所述数据排线电连接所述高能探测器卡和所述低能探测器卡；其中，所述高能探测器卡和所述低能探测器卡中的至少之一能够相对于所述滤过片在第二方向和/或第三方向进行位置调节，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向两两相交。2.根据权利要求1所述的双能X射线探测器，其特征在于，还包括：螺纹连接件，所述高能探测器卡、所述滤过片和所述低能探测器卡通过所述螺纹连接件组装在一起。3.根据权利要求2所述的双能X射线探测器，其特征在于，所述高能探测器卡和所述低能探测器卡中的之一设有连接孔、另一设有第一调节孔，所述滤过片设有第二调节孔，所述螺纹连接件依次穿设于所述第一调节孔、所述第二调节孔和所述连接孔。4.根据权利要求3所述的双能X射线探测器，其特征在于，所述连接孔为螺纹孔，所述螺纹连接件为螺栓，所述螺栓旋紧在所述螺纹孔内；或所述连接孔为通孔，所述螺纹连接件包括螺栓和螺母，所述螺栓伸出所述通孔，所述螺母旋紧在所述螺栓上。5.根据权利要求3所述的双能X射线探测器，其特征在于，所述第一调节孔和所述第二调节孔均为长条孔；其中：所述长条孔均沿所述第二方向布置、且长度不大于3d～4d，d为像素单元在第二方向的尺寸；或所述长条孔均沿所...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴希，于朋展，
申请(专利权)人：地太科特电子制造北京有限公司，
类型：新型
国别省市：