一种通用型芯片功能测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种通用型芯片功能测试系统，包括主控芯片和烧录座；所述主控芯片和所述烧录座集成在一个线路板上，且所述烧录座的针脚分别与所述主控芯片的各I/O管脚连接；所述主控芯片中存储有针对待测芯片的功能而编写的验证程序。本实用新型专利技术中待测芯片与主控芯片引脚直连，只需根据待测芯片的功能将测试程序写在主控芯片中，就可直接批量验证芯片功能是否正确，无需人工操作。无需人工操作。无需人工操作。

【技术实现步骤摘要】
一种通用型芯片功能测试系统


[0001]本技术属于芯片测试
，具体涉及一种通用型芯片功能测试系统。

技术介绍

[0002]芯片烧录成功后，通常需要进行功能测试，验证芯片功能与研发人员所写功能一致后再进行包装。
[0003]目前有两种功能测试方法，其一将样机芯片的引脚引出来，接在待测芯片上然后测试其功能，其二将待测芯片的引脚引出来，根据原理图在待测芯片外围搭建电路测试功能。以上两种测试方法有以下3点缺陷：
[0004]1、无论是在样机上引线还是在待测芯片上搭建外围电路，工程量都比较大。同时因引线上会有一定的线损，对于一些AD检测以及大电流的测试都会产生影响。
[0005]2、仅适合于少量抽检芯片的功能测试，若是对全部待包装芯片进行测试，则工程量太大，耗时较长。
[0006]3、只能按照芯片功能逐项进行测试，无法直接抽验芯片的某项功能。

技术实现思路

[0007]本技术的目的正是为了解决以上问题，提出了一种通用型芯片功能测试系统，采用烧录座引出芯片引脚，既可以避免线损，也可以避开多组线缠绕导致的短路或接触不良的问题，同时做到多种芯片及多项功能测试通用。
[0008]本技术提供了一种通用型芯片功能测试系统，包括主控芯片和烧录座；所述主控芯片和所述烧录座集成在一个线路板上，且所述烧录座的针脚分别与所述主控芯片的各I/O管脚连接；所述主控芯片中存储有针对待测芯片的功能而编写的验证程序。
[0009]作为优选，所述烧录座使用40P锁紧座。
[0010]进一步地，所述主控芯片通过通信模块与烧录机连接。
[0011]进一步地，本技术还包括与所述主控芯片连接的输入设备，所述输入设备能够选择设定所述主控芯片中的一种或多种待测芯片的功能。
[0012]进一步地，本技术还包括与所述主控芯片连接的显示模块，所述显示模块用以显示当前测试功能对应的码值或/和当前测试结果。
[0013]进一步地，待测芯片固定在所述烧录座上；测试开始后，所述主控芯片根据某一待测功能按照预定顺序依次对各I/O管脚发送相应的测试信号
[0014]本技术的主控芯片和烧录座集成在线路板上，待测芯片与主控芯片引脚直连，既可以避免线损，也可以避开多组线缠绕导致的短路或接触不良的问题。本技术只需根据待测芯片的功能将测试程序写在本技术的主控芯片中，就可直接批量在线验证芯片功能是否正确，无需人工操作。
附图说明
[0015]图1是本技术的通用型芯片功能测试系统的结构框图。
具体实施方式
[0016]下面结合附图对本技术作进一步详细描述：
[0017]本技术的一种通用型芯片功能测试系统，主要包括主控芯片和烧录座。所述主控芯片和所述烧录座集成在一个线路板上，且所述烧录座的针脚分别与所述主控芯片的各I/O管脚连接。
[0018]所述主控芯片中存储有针对待测芯片的全部功能而编写的验证程序。
[0019]在本技术的最佳实施例中，对双列直插芯片进行测试，所述烧录座使用40P锁紧座。40P锁紧座的多脚位和无方向要求扩大了使用对象，实现了对多种双列单片机及多项功能测试通用。
[0020]在另一优选实施例中，本技术的所述主控芯片通过通讯模块如DB9公头插座与烧录机连接。芯片烧录过程中，所述主控芯片仅传输信号。在芯片烧录成功后，由烧录机向所述主控芯片发送启动信号进入待测芯片的功能验证程序。
[0021]参见图1，本技术还包括与所述主控芯片连接的输入设备，通过所述输入设备可以选择设定一种或多种待测芯片的功能。
[0022]作为进一步的优选方案，本技术还包括与所述主控芯片连接的显示模块，用以显示当前测试功能对应的码值或/和当前测试结果。
[0023]如下以40P锁紧座测试双列直插芯片的功能为例，对本技术的工作原理、测试过程进行说明。
[0024]待测芯片直接锁紧固定在锁紧座上。通过所述锁紧座为待测芯片提供工作电压和接地。
[0025]由于40P锁紧座的针脚分别与所述主控芯片的各I/O管脚连接，相当于待测芯片的各引脚与所述主控芯片的各I/O管脚直接连接，这种连接线程短，并避免了使用引出线带来的缠绕和短路。
[0026]又因为待测芯片的引脚连接在所述主控芯片的各I/O管脚上，所以不必考虑区分待测芯片每个引脚的具体属性。
[0027]测试开始后，所述主控芯片根据某一待测功能按照预定顺序依次对各I/O管脚发送相应的测试信号。如果对某一I/O管脚发送测试信号后，所述主控芯片接收到对应于该待测功能的反馈信号，则停止本项功能的测试；如果对某一I/O管脚发送测试信号后，所述主控芯片没有接收到对应于该待测功能的反馈信号，则继续对预定顺序的下一I/O管脚发送测试信号，直至接收到对应于该待测功能的反馈信号，并停止本项功能的测试；如果按照预定顺序依次对全部I/O管脚发送测试信号后，所述主控芯片仍未收到对应于该待测功能的反馈信号，则停止本项功能的测试，并通过显示模块显示错误信息或通过DB9公头插座将错误信息反馈至烧录机。
[0028]本技术还可以通过输入设备选择设定所述主控芯片的待测项目。选定后的测试过程与前述相同。
[0029]本技术的通用型芯片功能测试系统，直接与烧录机连接，在烧录机烧写芯片
成功后可以直接进入批量的在线功能验证流程，不需人工介入操作。
[0030]作为一种优选手段，本技术可以在烧录机或主控芯片上增加报警模块，如指示灯以告警测试异常。
[0031]对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
[0032]此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
[0033]本技术不限于以上对实施例的描述，本领域技术人员根据本技术揭示的内容，在本技术基础上不必经过创造性劳动所进行的改进和修改，都应该在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用型芯片功能测试系统，其特征在于：包括主控芯片和烧录座；所述主控芯片和所述烧录座集成在一个线路板上，且所述烧录座的针脚分别与所述主控芯片的各I/O管脚连接；所述主控芯片中存储有针对待测芯片的功能而编写的验证程序。2.根据权利要求1所述的一种通用型芯片功能测试系统，其特征在于：所述主控芯片通过通信模块与烧录机连接。3.根据权利要求1所述的一种通用型芯片功能测试系统，其特征在于：还包括与所述主控芯片连接的输入设备；所述输入设备能够选择设定所述主控...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜绍森，李运飞，张梦真，
申请(专利权)人：无锡晶诚科技有限公司，
类型：新型
国别省市：