一种可流动性薄膜沉积设备气体流向系统技术方案

技术编号:36926600 阅读:54 留言:0更新日期:2023-03-22 18:50
本发明专利技术涉及半导体加工设备技术领域,更具体的说,涉及一种可流动性薄膜沉积设备气体流向系统。本发明专利技术提供了一种可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,包括第一RPS反应单元、第二RPS反应单元和第三RPS清洗单元:第一RPS反应单元,可通断地与第一反应腔室连接,用于解离并输送工艺气体;第二RPS反应单元,可通断地与第二反应腔室连接,用于解离并输送工艺气体;第三RPS清洗单元,可通断地分别第一反应腔室、第二反应腔室连接,用于解离并输送清洁气体。本发明专利技术提供的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,通过控制不同的进气方向,实现不同的配方控制,实现不同区域的清洁,提升穹顶腔室的清洗效果,并提高单次预防性维护的跑片数量,降低持有成本。降低持有成本。降低持有成本。

【技术实现步骤摘要】
一种可流动性薄膜沉积设备气体流向系统


[0001]本专利技术涉及半导体加工设备
,更具体的说,涉及一种可流动性薄膜沉积设备气体流向系统。

技术介绍

[0002]等离子体化学气相沉积(plasma chemical vapor deposition)是指用等离子体激活反应气体,促进在基体表面或近表面空间进行化学反应,生成固态膜的技术。
[0003]在晶片表面上生成薄膜一般会使用薄膜沉积等离子设备,中国专利技术专利CN202111665983.7公开了一种半导体设备,通过设置RPS设备用于给反应腔室提供等离子体气源,等离子体气源在所述反应腔室内发生化学反应后生成氟离子,从而使得氟离子从所述反应腔室内流出。
[0004]但是,如上述现有技术中的薄膜沉积等离子设备,在长时间进行工艺跑片时,穹顶腔室会生成一定的薄膜,RPS(Remote Plasma Source,远程等离子体源)设备的清洁气体无法对穹顶腔室进行彻底清洁,长期会引起工艺腔室产生颗粒。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,解决现有技术中RPS结构下薄膜沉积设备的穹顶腔室难以进行彻底有效清洁的问题。
[0006]为了实现上述目的,本专利技术提供了一种可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,包括第一RPS反应单元、第二RPS反应单元和第三RPS清洗单元:
[0007]第一RPS反应单元,可通断地与第一反应腔室连接,用于解离并输送工艺气体;
[0008]第二RPS反应单元,可通断地与第二反应腔室连接,用于解离并输送工艺气体,
[0009]第三RPS清洗单元,可通断地分别第一反应腔室、第二反应腔室连接,用于解离并输送清洁气体。
[0010]在一实施例中,所述第一RPS反应单元,设置有第一水气管路;
[0011]所述第一水气管路,设置有第一流量阀,用于控制水气向第一RPS反应单元的流通;
[0012]所述第二RPS反应单元,设置有第二水气管路;
[0013]所述第二水气管路,设置有第二流量阀,用于控制水气向第二RPS反应单元的流通。
[0014]在一实施例中,所述第一RPS反应单元,设置有第一清洁气体管路;
[0015]所述第一清洁气体管路,设置有第三流量阀,用于控制清洁气体向第一RPS反应单元流通;
[0016]所述第二RPS反应单元,设置有第二清洁气体管路;
[0017]所述第二清洁气体管路,设置有第四流量阀,用于控制清洁气体向第二RPS反应单元流通。
[0018]在一实施例中,所述第三RPS清洗单元,设置有第三清洁气体管路;
[0019]所述第三清洁气体管路,设置有第五流量阀,用于控制清洁气体向第三RPS清洗单元流通。
[0020]在一实施例中,所述第一RPS反应单元,设置有第一工艺气体管路,用于通入工艺气体;
[0021]所述第二RPS反应单元,设置有第二工艺气体管路,用于通入工艺气体。
[0022]在一实施例中,当进行工艺流程时:
[0023]第一流量阀、第二流量阀、第三流量阀、第四流量阀、第五流量阀关闭;
[0024]第一工艺气体管路和第二工艺气体管路通入工艺气体;
[0025]第一RPS反应单元进行解离工艺气体并输送至第一反应腔室;
[0026]第二RPS反应单元进行解离工艺气体并输送至第二反应腔室。
[0027]在一实施例中,当进行RPS环境流程时:
[0028]第一流量阀、第二流量阀开启,水蒸气进入第一RPS反应单元和第二RPS反应单元;
[0029]第三流量阀、第四流量阀、第五流量阀关闭;
[0030]第一工艺气体管路和第二工艺气体管路通入保护气体。
[0031]在一实施例中,当进行腔室特别清洁流程时:
[0032]第一流量阀、第二流量阀、第三流量阀、第四流量阀关闭;
[0033]第五流量阀开启,清洁气体进入第三RPS清洗单元解离并输送至第一反应腔室、第二反应腔室进行清洁。
[0034]在一实施例中,当进行穹顶腔室清洁流程时:
[0035]第一流量阀、第二流量阀、第五流量阀关闭;
[0036]第三流量阀开启,清洁气体进入第一RPS反应单元解离并输送至第一反应腔室;
[0037]第四流量阀开启,清洁气体进入第二RPS反应单元解离并输送至第二反应腔室。
[0038]在一实施例中,当进行全清洁流程时:
[0039]第一流量阀、第二流量阀关闭;
[0040]第三流量阀、第四流量阀、第五流量阀开启;
[0041]清洁气体进入第一RPS反应单元、第二RPS反应单元、第三RPS清洗单元解离并输送至第一反应腔室和第二反应腔室。
[0042]在一实施例中,所述第三流量阀、第四流量阀、第五流量阀设置有孔板密封垫片,用于调整分气均匀。
[0043]在一实施例中,所述第三RPS清洗单元,设置有第三清洁气体管路;
[0044]所述第三清洁气体管路,设置有孔板密封垫片,用于调节清洁气体流向第三RPS清洗单元的气流大小。
[0045]在一实施例中,所述孔板密封垫片的直径为0.5mm至2.5mm。
[0046]在一实施例中,当进行穹顶腔室清洁流程时:
[0047]第一流量阀、第二流量阀开启,水蒸气进入第一RPS反应单元和第二RPS反应单元;
[0048]第三流量阀、第四流量阀关闭;
[0049]第一工艺气体管路和第二工艺气体管路通入保护气体。
[0050]本专利技术提供的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,通过控制不同的进气方向,
实现不同的配方控制,实现不同区域的清洁,提升穹顶腔室的清洗效果,并提高单次预防性维护(Preventive Maintenance,PM)的跑片数量,延长单次PM时间。
附图说明
[0051]本专利技术上述的以及其他的特征、性质和优势将通过下面结合附图和实施例的描述而变的更加明显,在附图中相同的附图标记始终表示相同的特征,其中:
[0052]图1揭示了根据本专利技术实施例1的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统的俯视图;
[0053]图2揭示了根据本专利技术实施例1的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统的原理示意图;
[0054]图3揭示了根据本专利技术实施例1的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统的正面示意图;
[0055]图4揭示了根据本专利技术实施例2的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统的原理示意图。
[0056]图中各附图标记的含义如下:
[0057]101第一RPS反应单元;
[0058]102第二RPS反应单元;
[0059]103第三RPS清洗单元;
[0060]201第一流量阀;
[0061]202第二流量阀;
[0062]203第三流量阀;
[0063]204第四流量阀;<本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,其特征在于,包括第一RPS反应单元、第二RPS反应单元和第三RPS清洗单元:第一RPS反应单元,可通断地与第一反应腔室连接,用于解离并输送工艺气体;第二RPS反应单元,可通断地与第二反应腔室连接,用于解离并输送工艺气体;第三RPS清洗单元,可通断地分别第一反应腔室、第二反应腔室连接,用于解离并输送清洁气体。2.根据权利要求1所述的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,其特征在于,所述第一RPS反应单元,设置有第一水气管路;所述第一水气管路,设置有第一流量阀,用于控制水气向第一RPS反应单元的流通;所述第二RPS反应单元,设置有第二水气管路;所述第二水气管路,设置有第二流量阀,用于控制水气向第二RPS反应单元的流通。3.根据权利要求2所述的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,其特征在于,所述第一RPS反应单元,设置有第一清洁气体管路;所述第一清洁气体管路,设置有第三流量阀,用于控制清洁气体向第一RPS反应单元流通;所述第二RPS反应单元,设置有第二清洁气体管路;所述第二清洁气体管路,设置有第四流量阀,用于控制清洁气体向第二RPS反应单元流通。4.根据权利要求3所述的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,其特征在于,所述第三RPS清洗单元,设置有第三清洁气体管路;所述第三清洁气体管路,设置有第五流量阀,用于控制清洁气体向第三RPS清洗单元流通。5.根据权利要求4所述的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,其特征在于,所述第一RPS反应单元,设置有第一工艺气体管路,用于通入工艺气体;所述第二RPS反应单元,设置有第二工艺气体管路,用于通入工艺气体。6.根据权利要求5所述的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,其特征在于,当进行工艺流程时:第一流量阀、第二流量阀、第三流量阀、第四流量阀、第五流量阀关闭;第一工艺气体管路和第二工艺气体管路通入工艺气体;第一RPS反应单元进行解离工艺气体并输送至第一反应腔室;第二RPS反应单元进行解离工艺气体并输送至第二反应腔室。7.根据权利要求5所述的可流动性薄膜沉积设备气体流向系统,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:谭华强尹艳超谈太德
申请(专利权)人:拓荆科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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