一种集成电路测试的监测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种集成电路测试的监测方法、装置及电子设备，其方法包括获取被测器件的标识参数；根据标识参数，确定测试方案；根据测试方案，控制第一继电器电路连接接口板和测试设备；根据测试方案和监测对照规则，确定监测方案；根据监测方案，控制第二继电器电路连接监测设备和第一继电器电路。改善了不能检测集成电路的测试线路是否正常的问题，本发明专利技术具有根据测试情况实时监测测试线路的效果。据测试情况实时监测测试线路的效果。据测试情况实时监测测试线路的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试的监测方法、装置及电子设备


[0001]本申请涉及集成电路测试监测的
，尤其是涉及一种集成电路测试的监测方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]目前集成电路测试多使用集成电路自动测试机，检测集成电路功能的完整性。集成电路和接口板连接，接口板和测试系统连接，测试系统用来测试集成电路的功能。集成电路自动测试机会有多条测试线路同时工作，工作时，不能监测多条测试线路是否正常进行检测。
[0003]上述中的现有技术方案存在以下缺陷：存在不能检测集成电路的测试线路是否正常的问题。

技术实现思路

[0004]本申请目的一是提供一种集成电路测试的监测方法，具有监测测试线路是否正常运行的的特点。
[0005]本申请的上述申请目的一是通过以下技术方案得以实现的：一种集成电路测试的监测方法，应用于集成电路测试的监测装置，所述监测装置包括第一继电器电路、第二继电器电路、监测设备、测试设备和接口板，所述第一继电器电路与所述接口板连接，所述第一继电器电路分别与所述测试设备和所述第二继电器电路连接，所述监测设备和所述第二继电器电路连接，包括：获取被测器件的标识参数；根据所述标识参数，确定测试方案；根据所述测试方案，控制所述第一继电器电路接通所述接口板和所述测试设备；根据所述测试方案和监测对照规则，确定监测方案；根据所述监测方案，控制所述第二继电器电路接通所述监测设备和所述第一继电器电路。
[0006]通过采用上述技术方案，通过获取被测器件的标识参数来确定被测器件进而确定被测器件需要的测试设备，确定了被测器件和测试设备后就确定的测试方案，然后对被测器件进行测试，根据测试方案控制第一继电器电路闭合，通过测试方案和监测对照规则，确定与上述测试方案对应的监测方案，根据监测方案控制第二继电器电路闭合，监测设备可以检测到对应的测试线路。在检测集成电路的测试线路是否正常的同时可以根据监测方案实时监测测试线路。
[0007]本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述标识参数，确定测试方案，包括：根据所述标识参数，确定所述被测器件的功能参数；根据所述功能参数和测试对照规则，确定测试时间和测试设备；
根据所述测试时间和所述测试设备，确定测试方案。
[0008]本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述功能参数和测试对照规则，确定测试时间和测试设备，包括：根据所述功能参数，确定多条功能通路和测试设备；根据所述功能通路和所述测试对照规则，确定测试时间。
[0009]本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述测试方案，控制所述第一继电器电路接通所述接口板和所述测试设备，包括：根据所述测试方案，确定功能通路、所述功能通路对应的测试设备以及所述功能通路对应的测试时间；根据所述功能通路、所述测试设备和所述测试时间，控制所述第一继电器电路闭合。
[0010]本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述测试方案和监测对照规则，确定监测方案，包括：根据所述测试方案，确定功能通路和监测设备；根据所述功能通路和所述监测对照规则，确定所述功能通路对应的测试线路和所述测试线路对应的监测频次；当所述监测频次低于监测设备的监测预设值时，根据监测频次，确定监测方案；当所述监测频次高于监测设备的监测预设值时，根据监测频次和频次优化规则，确定监测方案。
[0011]本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述监测方案，控制所述第二继电器电路接通所述监测设备和所述第一继电器电路，包括：根据所述监测方案，确定测试线路和所述测试线路对应的监测频次；根据所述测试线路和所述监测频次，控制所述第二继电器电路闭合。
[0012]本申请目的二是提供一种集成电路测试的监测装置，具有检测集成电路的测试线路是否正常的效果。
[0013]本申请的上述申请目的二是通过以下技术方案得以实现的：一种集成电路测试的监测装置，包括：接口板，用于连接被测器件；测试设备，用于测试被测器件；第一继电器电路，用于连接所述接口板和所述测试设备；万用表组，用于监测测试电路的工作状况；第二继电器电路，用于连所述接第一继电器电路和所述万用表组；控制器，用于执行上述集成电路测试的监测方法的计算机程序指令并控制所述第二继电器电路。
[0014]本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述控制器还包括：数据获取模块，用于获取标识参数和监测对照规则；功能确定模块，用于根据所述标识参数，确定功能参数；通路确定模块，用于根据所述功能参数，确定功能通路和测试设备；
测试确定模块，用于根据所述功能通路、所述测试设备和所述监测对照规则，确定测试时间和监测频次；监测确定模块，用于根据所述测试时间、所述监测频次和频次优化规则，确定监测方案；监测执行模块，用于根据所述监测方案，输出控制信号。
[0015]本申请目的三是提供一种电子设备。
[0016]本申请的上述申请目的三是通过以下技术方案得以实现的：一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行上述集成电路测试的监测方法的计算机程序。
[0017]本申请目的四是提供一种计算机存储介质，能够存储相应的程序。
[0018]本申请的上述申请目的三是通过以下技术方案得以实现的：一种计算机可读存储介质，存储有能够被处理器加载并执行上述任一种集成电路测试的监测方法的计算机程序。
[0019]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：1.通过获取被测器件的标识参数来确定被测器件进而确定被测器件需要的测试设备，确定了被测器件和测试设备后就确定的测试方案，然后对被测器件进行测试，根据测试方案控制第一继电器电路闭合，通过测试方案和监测对照规则，确定与上述测试方案对应的监测方案，根据监测方案控制第二继电器电路闭合，监测设备可以监测对应的测试线路。在检测集成电路的测试线路是否正常的同时可以根据监测方案实时监测测试线路。
附图说明
[0020]图1是本申请提供的集成电路测试的监测方法的流程示意图。
[0021]图2是本申请提供的集成电路测试的监测装置的结构示意图。
[0022]图3是本申请提供的集成电路测试的监测装置中的控制器的结构示意图。
[0023]图4是本申请提供的电子设备的结构示意图。
[0024]图中，201、测试设备；202、第一继电器电路；203、接口板；204、被测器件；205、第二继电器电路；206、监测设备；2061、万用表组；2062、控制器；301、CPU；302、ROM；303、RAM；304、I/O接口；305、输入部分；306、输出部分；307、存储部分；308、通信部分；309、驱动器；310、可拆卸介质；401、数据获取模块；402、功能确定模块；403、通路确定模块；404、测试确定模块；405、监测确定模块；406、监测执行模块。
具体实施方式
[0025]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试的监测方法，应用于集成电路测试的监测装置，所述监测装置包括第一继电器电路、第二继电器电路、监测设备、测试设备和接口板，所述第一继电器电路与所述接口板连接，所述第一继电器电路分别与所述测试设备和所述第二继电器电路连接，所述监测设备和所述第二继电器电路连接，其特征在于，包括：获取被测器件的标识参数；根据所述标识参数，确定测试方案；根据所述测试方案，控制所述第一继电器电路接通所述接口板和所述测试设备；根据所述测试方案和监测对照规则，确定监测方案；根据所述监测方案，控制所述第二继电器电路接通所述监测设备和所述第一继电器电路。2.根据权利要求1所述的集成电路测试的监测方法，其特征在于，所述根据所述标识参数，确定测试方案，包括：根据所述标识参数，确定所述被测器件的功能参数；根据所述功能参数和测试对照规则，确定测试时间和测试设备；根据所述测试时间和所述测试设备，确定测试方案。3.根据权利要求2所述的集成电路测试的监测方法，其特征在于，所述根据所述功能参数和测试对照规则，确定测试时间和测试设备，包括：根据所述功能参数，确定多条功能通路和测试设备；根据所述功能通路和所述测试对照规则，确定测试时间。4.根据权利要求1所述的集成电路测试的监测方法，其特征在于，所述根据所述测试方案，控制所述第一继电器电路接通所述接口板和所述测试设备，包括：根据所述测试方案，确定功能通路、所述功能通路对应的测试设备以及所述功能通路对应的测试时间；根据所述功能通路、所述测试设备和所述测试时间，控制所述第一继电器电路闭合。5.根据权利要求1所述的集成电路测试的监测方法，其特征在于，所述根据所述测试方案和监测对照规则，确定监测方案，包括：根据所述测试方案，确定功能通路和监测设备；根据所述功能通路和所述监测对照规则，确定所述功能通路对应的测试线路和所述测试线路对应的监测频次；当所述监测频次低于监测设备的监测预设值时，根据监测频次，确定监测方案；当所...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵臣龙，张超，
申请(专利权)人：俐玛光电科技北京有限公司，
类型：发明
国别省市：