一种熔断器熔断特性试验台校准方法，基本结构包括有电流整理系统、控制系统和操作系统，其校准步骤主要包括有：(1)外观及附件检查；(2)正常工作性能检查；(3)校准点的选取；(4)输出电流测量；(5)直流分量含量；(6)延时测量；(7)输出电流稳定性；(8)温升测量；(9)输出电流相对误差。本发明专利技术提供的熔断器熔断特性试验台的校准方法适用性好，针对输出电流有效值、电流导通时间测量具有较为合理、优化和准确的测量方法。确的测量方法。确的测量方法。
【技术实现步骤摘要】
一种熔断器熔断特性试验台校准方法
：
[0001]本专利技术属于电气设备检测/试验领域，尤其是涉及一种熔断器熔断特性的检测/试验装置。
技术介绍
[0002]熔断器的熔断特性试验台主要用于对线路保护、电气设备保护，储能系统保护用熔断器等元器件进行熔断特性试验，通过整流和升流输出大电流电源，对熔断器的过载以及时间～电流特性试验提供一定时长的直流电源。目前，熔断器熔断特性试验台可分为约定不熔断电流验证和约定熔断电流、额定电流、时间～电流验证和门限、过载性能试验等综合类型，而对于温升和门限试验则使用另外的试验装置；也有的企业/检测机构将两大类试验合并到一个柜体中，作为一台试验设备使用。本专利技术所述的试验台就属于一种两个功能综合在一起的试验台，主要由电源整理系统、控制系统和操作系统等部分组成，其结构通常如本说明书附图图1所示。
[0003]熔断器对用电设备的保护主要体现在两个方面，一个是短路保护，一个是过载保护，随着储能和电子技术的发展，熔断器的使用范围越来越广，而用来检测熔断器熔断特性和其它技术指标的试验装置也得到了比较广泛的使用，但目前行业尚无校准/检定该类设备的规范，也无操作标准和统一化的步骤，显得比较混乱。因此，在工作中，不仅造成了检测/实验结果(数据)的差异，也对实际校准过程操作和衡量造成了一定的障碍，不仅影响工作效率，还导致很多试验台校准后的误差较大，甚至造成试验台的损坏。因此，亟待解决的问题就是寻求一种具有较好适用性的熔断器熔断特性试验台的校准方法。
技术实现思路
[0004]为了克服以上不足，本专利技术的目的在于提供一种适用于新制造、新购置、使用中和修理后的熔断器熔断特性瞬时/延时台、时间～电流台和温升门限台的校准，也适用于分体式熔断器熔断特性试验台的校准方法。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了如下技术方案：
[0006]1、一种熔断器熔断特性试验台校准方法，其特征在于：其步骤为：
[0007](1)外观及附件检查；
[0008](2)正常工作性能检查；
[0009](3)校准点的选取：
[0010]①
在基本量程的50％～100％范围内，均匀选取3～5个点(含100％量程电流点)作为校准点；
[0011]②
对非基本量程，选取50％和100％两个量程点进行校准；
[0012](4)输出电流测量：
[0013]①
直流熔断器熔断特性试验台，直流源容量设置为：10kVA初级电压380V，次级电压5V，电流1～1000A；
[0014]将标准电流表插入电流整理系统预留的接口，在最大输出电流范围内(1A～1000A)，分别选取10％、30％、50％、70％，100％，5个点作为校准点，设定循环次数为10次，每次间隔5s进行测量，要求误差在
±
1％范围内；
[0015]②
对交流熔断器熔断特性试验台，需按图2要求需将电流/电压转换器接入回路，设定输出电流，用波形分析仪测量。测量方法为：试验台电流输出稳定后，用波形分析仪直接测量电流测量输出电流的波形及失真度，测量5组数值，取5组数据中数据最大值，要求最大值在5％以内。然后按式(1)计算出试验台的输出电流，按式(2)计算出电流示值误差：
[0016]输出电流测量值的计算公式为式(1)：
[0017]I
S
＝KU
S
ꢀꢀꢀ
(1)
[0018]式中：I
S
——试验台输出电流测量值，A；
[0019]U
S
——波形分析仪测得电压，V；
[0020]K——电流/电压转换器转换系数，A/V；
[0021]输出电流示值误差用式(2)表示：
[0022]Δ(I)＝I
‑
I
S
ꢀꢀꢀ
(2)
[0023]式中：Δ(I)——输出电流示值误差，A；
[0024]I——试验台输出电流显示值，A；
[0025]I
s
——试验台输出电流实际值，A；
[0026](5)直流分量含量：测量截断电流试验，在试验台上设置(给定)一个预期短路电流(0.2s)，测量第一个输出波形的直流分量含量，计算公式如下：
[0027][0028]式中：％dc——直流分量含量
[0029]P
上
——上峰值
[0030]P
下
——下峰值
[0031](6)延时测量：准备5个试品，按试品额定电流的1.1倍、1.35倍、1.5倍、2.0倍和3.0倍选取5个点进行测量，设定延时试验(特性试验)系统输出电流响应时间≤0.1s；电流反应速度≤0.5ms，脉冲次数50次，脉冲持续时间为5s，波纹系数≤1％，输出电流量值按公式(1)计算；
[0032](7)输出电流稳定性：测量试验台在10min内的稳定性，按图2接线。试验台输出额定电流稳定后，用波形分析仪测量直流电流恒流源输出的波形，在10min内观察被测量的电流变化量，按式(4)计算试验台输出电流的稳定性；
[0033][0034]式中：G——输出电流稳定性，％；
[0035]I
max
——10min内，输出电流有效值的最大值，A；
[0036]I
min
——10min内，输出电流有效值的最小值，A；
[0037](8)温升测量：将温升巡检仪触头(探头)连接在试品的外壳或触头位置，也可以连接在测试电流所流过的母排和导电回路的任意接点，设置测试时间范围在10imn～1h之间，
温度最高不超过300℃；若试验台安装的是多路温升巡检仪，可以分别在试品外壳以及测试电流所流过的母排和导电回路上多选几个接点，采集多个温升数据，观察并分析温升曲线。
[0038]2、所述测试步骤中还包括测量电流相对误差的方法，按照上述输出电流稳定性的校准方法，在波形分析仪上直观显示了加载在交流接触器上输出端的电压波形，用波形分析仪光标功能读出电流持续时间，输出时间误差用式(5)表示：
[0039][0040]式中：γ
I
——输出电流相对误差。
[0041]3、所述试验台的校准环境要求为：
[0042]——环境温度：10℃～30℃；
[0043]——环境湿度：≤80％RH；
[0044]——交流电供电电压：380V(1
±
10％)V；
[0045]——交流电供电频率：50Hz(1
±
1％)Hz。
[0046]本专利技术所提供的熔断器熔断特性试验台的校准方法，对于输出电流的有效值、输出电流相对误差、直流分流含量，延时测量和温升准确度测量等给出了较为合理、优化和准确的测量方法，是一种适用于新制造、新购置、使用中和修理后的熔断器熔断特性瞬时/延时台、时间～电流台和温升门限台的校准，也适用于分体式熔断器熔断特性试本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种熔断器熔断特性试验台校准方法，其特征在于：其步骤为：(1)外观及附件检查；(2)正常工作性能检查；(3)校准点的选取：
①
在基本量程的50％～100％范围内，均匀选取3～5个点(含100％量程电流点)作为校准点；
②
对非基本量程，选取50％和100％两个量程点进行校准；(4)输出电流测量：
①
直流熔断器熔断特性试验台，直流源容量设置为：10kVA初级电压380V，次级电压5V，电流1～1000A；将标准电流表插入电流整理系统预留的接口，在最大输出电流范围内(1A～1000A)，分别选取10％、30％、50％、70％，100％，5个点作为校准点，设定循环次数为10次，每次间隔5s进行测量，要求误差在
±
1％范围内；
②
对交流熔断器熔断特性试验台，需按图2要求需将电流/电压转换器接入回路，设定输出电流，用波形分析仪测量。测量方法为：试验台电流输出稳定后，用波形分析仪直接测量电流测量输出电流的波形及失真度，测量5组数值，取5组数据中数据最大值，要求最大值在5％以内。然后按式(1)计算出试验台的输出电流，按式(2)计算出电流示值误差：输出电流测量值的计算公式为式(1)：I
S
＝KU
S
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(1)式中：I
S
——试验台输出电流测量值，A；U
S
——波形分析仪测得电压，V；K——电流/电压转换器转换系数，A/V；输出电流示值误差计算公式为式(2)：Δ(I)＝I
‑
I
S
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(2)式中：Δ(I)——输出电流示值误差，A；I——试验台输出电流显示值，A；I
s
——试验台输出电流实际值，A；(5)直流分量含量：测量截断电流试验，在试验台上设置(给定)一个预期短路电流(0...
【专利技术属性】
技术研发人员：程瑜，郭婧怡，屈智云，郭强，曾美荣，顾子涵，
申请(专利权)人：赫森电气无锡有限公司，
类型：发明
国别省市：
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