【技术实现步骤摘要】
本公开涉及测试分析，具体而言，涉及一种测试数据分析方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、目前，芯片的质量大多通过一组单位不同、类型各异的测试数据反映。对于批量芯片而言，要对数以千记测试数据快速分析以及时掌握芯片情况。
2、在实际分析中，需要分析不同电性测试所获取测试数据的相关情况，以此找出异常数据的芯片删除或者重新测试。例如通过人工查看电性测试数据以确定是否存在数据异常。
3、然而，由于芯片制作产能较大，尤其是对于型号、种类较多的大批量芯片，人工查看并分析数据，效率尤为低下，且检测准确性也不高，无法满足芯片的实际产能需求。
技术实现思路
1、本公开实施例至少提供一种测试数据分析方法、装置、电子设备及存储介质，能够针对芯片的测试数据进行自动化分析，无需人工参与，省时省力。
2、第一方面，本公开实施例提供了一种测试数据分析方法，包括：
3、获取多个芯片对应的测试数据集，所述测试数据集中的每条测试数据用于表征对应芯片在不同测试参数下的测试值；
4、基于各个芯片在不同测试参数下的测试值计算所述测试数据集对应的至少一个准确系数，所述准确系数用于评估测试数据的异常程度；
5、基于所述至少一个准确系数确定针对所述多个芯片的测试数据分析结果。
6、在一种可能的实施方式中，所述基于各个芯片在不同测试参数下的测试值计算所述测试数据集对应的至少一个准确系数，包括：
7、针对不同测试参数中的目标测试参
8、基于不同测试参数确定的各个测试数组进行统计学运算，确定所述测试数据集对应的至少一个准确系数。
9、在一种可能的实施方式中，所述基于不同测试参数确定的各个测试数组进行统计学运算，包括：
10、针对所述各个测试数组中的目标测试数组，基于所述目标测试数组所包括的各个测试值确定对应的统计学参数值，所述统计学参数值包括峰度、偏度、分布系数和标准差中的一个或多个；
11、基于所述目标测试数组对应的统计学参数值，确定所述目标测试数组的准确系数，作为所述测试数据集对应的一个准确系数。
12、在一种可能的实施方式中，在所述统计学参数值包括峰度、偏度、分布系数和标准差的情况下，所述确定所述目标测试数组的准确系数，包括：
13、获取针对所述峰度确定的第一参数系数、针对所述偏度确定的第二参数系数、针对所述标准差确定的第三参数系数、以及针对所述分布系数确定的第四参数系数；
14、基于所述峰度及其第一参数系数之间的乘积运算确定第一运算因子，以及，基于所述偏度及其第二参数系数、所述标准差及其第三参数系数、以及所述分布系数及其第四参数系数之间的加权求和运算确定第二运算因子；
15、基于所述第二运算因子与所述第一运算因子之间的比值运算，确定所述目标测试数组的准确系数。
16、在一种可能的实施方式中，按照如下公式确定所述目标测试数组的准确系数：
17、；
18、；；
19、用于表征四个所述统计学参数值分别对应的参数系数。
20、在一种可能的实施方式中，所述确定所述目标测试数组的准确系数，包括：
21、获取针对所述目标测试数组的增益系数，所述增益系数由所述偏度、所述分布系数以及所述目标测试数组内的参数值数量来确定；
22、基于所述增益系数与所述第二运算因子与所述第一运算因子之间的比值运算结果，确定所述目标测试数组的准确系数。
23、在一种可能的实施方式中，在所述统计学参数值包括峰度和偏度的情况下，所述方法还包括：
24、基于所述峰度与所述偏度判断所述目标测试数组内的测试值是否符合正态分布；
25、基于正态分布判断结果确定针对所述多个芯片的测试数据分析结果。
26、在一种可能的实施方式中，在任一芯片的任一测试参数具有多个测试值的情况下，所述方法还包括：
27、针对所述任一芯片的任一测试参数，基于所述多个测试值确定针对所述测试参数的一致性系数，所述一致性系数由所述测试参数对应的最大值、最小值、平均值及分布系数来确定；
28、基于所述一致性系数确定针对所述任一芯片的测试数据分析结果。
29、在一种可能的实施方式中，所述基于所述至少一个准确系数确定针对所述多个芯片的测试数据分析结果，包括如下方式中的一种：
30、在判断出任一所述准确系数超出预设值的情况下，确定所述多个芯片中存在测试数据异常的分析结果；
31、在判断出针对所述多个芯片当前时刻确定的第一准确系数与历史时刻确定的第二准确系数之间的差值超出预设差值的情况下，确定所述多个芯片中存在测试数据异常的分析结果。
32、在一种可能的实施方式中，所述方法还包括：
33、从预设的多层级异常提醒策略中确定与所述测试数据分析结果适配的异常提醒策略；
34、按照确定的所述异常提醒策略进行异常提醒。
35、第二方面，本公开还提供了一种测试数据分析装置，包括：
36、获取模块，用于获取多个芯片对应的测试数据集，所述测试数据集中的每条测试数据用于表征对应芯片在不同测试参数下的测试值；
37、计算模块，用于基于各个芯片在不同测试参数下的测试值计算所述测试数据集对应的至少一个准确系数，所述准确系数用于评估测试数据的异常程度；
38、分析模块，用于基于所述至少一个准确系数确定针对所述多个芯片的测试数据分析结果。
39、第三方面，本公开还提供了一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如第一方面及其各种实施方式中任一项所述的测试数据分析方法。
40、第四方面，本公开还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如第一方面及其各种实施方式中任一项所述的测试数据分析方法。
41、采用上述测试数据分析方法、装置、电子设备及存储介质，在获取到多个芯片对应的测试数据集的情况下，基于各个芯片在不同测试参数下的测试值计算测试数据集对应的至少一个准确系数，并基于至少一个准确系数确定针对多个芯片的测试数据分析结果。这里的准确系数用于评估测试数据的异常程度，也即，在测试数据出现异常的情况下，通过准确系数可以很好的对多个芯片，特别是批量芯片所存在的问题进行评估，且基于准确系数所得数据分析结果可以更为精准的呈现异常状况，整个分析过程无需人工参与，省时省力。
42、本公开的其他优点将结合以下的说明和附图进行更详细的解说。
43、应当理解，上述说明仅是本公开技术方案的概述，以本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种测试数据分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试数据分析方法，其特征在于，所述基于各个芯片在不同测试参数下的测试值计算所述测试数据集对应的至少一个准确系数，包括：
3.根据权利要求2所述的测试数据分析方法，其特征在于，所述基于不同测试参数确定的各个测试数组进行统计学运算，包括：
4.根据权利要求3所述的测试数据分析方法，其特征在于，在所述统计学参数值包括峰度、偏度、分布系数和标准差的情况下，所述确定所述目标测试数组的准确系数，包括：
5.根据权利要求4所述的测试数据分析方法，其特征在于，按照如下公式确定所述目标测试数组的准确系数：
6.根据权利要求4所述的测试数据分析方法，其特征在于，所述确定所述目标测试数组的准确系数，包括：
7.根据权利要求3所述的测试数据分析方法，其特征在于，在所述统计学参数值包括峰度和偏度的情况下，所述方法还包括：
8.根据权利要求1所述的测试数据分析方法，其特征在于，在任一芯片的任一测试参数具有多个测试值的情况下，所述方法还包括：
9
10.根据权利要求1至8中任一项所述的测试数据分析方法，其特征在于，所述方法还包括：
11.一种测试数据分析装置，其特征在于，包括：
12.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如权利要求1至10中任一项所述的测试数据分析方法。
13.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至10中任一项所述的测试数据分析方法。
...【技术特征摘要】
1.一种测试数据分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试数据分析方法，其特征在于，所述基于各个芯片在不同测试参数下的测试值计算所述测试数据集对应的至少一个准确系数，包括：
3.根据权利要求2所述的测试数据分析方法，其特征在于，所述基于不同测试参数确定的各个测试数组进行统计学运算，包括：
4.根据权利要求3所述的测试数据分析方法，其特征在于，在所述统计学参数值包括峰度、偏度、分布系数和标准差的情况下，所述确定所述目标测试数组的准确系数，包括：
5.根据权利要求4所述的测试数据分析方法，其特征在于，按照如下公式确定所述目标测试数组的准确系数：
6.根据权利要求4所述的测试数据分析方法，其特征在于，所述确定所述目标测试数组的准确系数，包括：
7.根据权利要求3所述的测试数据分析方法，其特征在于，在所述统计学参数值包括峰度和偏度的情况下，所述方法还包括：
8.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵臣龙，霍风祥，张超，王宝栋，
申请(专利权)人：俐玛光电科技北京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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