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本发明涉及一种集成电路测试的监测方法、装置及电子设备，其方法包括获取被测器件的标识参数；根据标识参数，确定测试方案；根据测试方案，控制第一继电器电路连接接口板和测试设备；根据测试方案和监测对照规则，确定监测方案；根据监测方案，控制第二继电器...
该专利属于俐玛光电科技（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过俐玛光电科技（北京）有限公司授权不得商用。

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