适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具及测试方法技术

本发明专利技术涉及一种适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具及测试方法，包括底座，所述底座上水平设置有限制位挡板，所述限制位挡板上设置有支撑组件；所述底座上还设置有PCB板固定结构，所述PCB板固定结构上设置有PCB板，所述PCB板位于支撑组件的正上方；所述PCB板的上方设置有盖板，所述盖板对应PCB板的中心位置处穿设有施压螺栓。本发明专利技术中，能够模拟片式电容焊接在PCB板上弯曲的情况，从而能够在更接近PCB板实际工作状态的环境下测试片式电容的失效极限容值，满足用户对产品更高的筛选需求；并且在底座上设置了限制位挡板，使得PCB板在抗弯曲测试中不会相对测试夹具发生位移造成安全隐患。安全隐患。安全隐患。

【技术实现步骤摘要】
适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具及测试方法


[0001]本专利技术属于片式电容的抗弯曲强度测试
，涉及一种适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具及测试方法。

技术介绍

[0002]片式多层陶瓷电容是集成电路中重要的电子元器件，因其体积小、电容量范围宽、介质损耗小、稳定性高等优点，被广泛使用在各种集成电路中。在现有入所物料检验中，片式多层陶瓷电容的入所数量呈现急剧增长的趋势，但在实际使用过程中片式电容一旦失效将对整体电路造成严重影响。因此，需要针对多封装尺寸片式电容在PCB板中受到多维度弯曲应力下这一问题进行抗弯曲强度测试，模拟更接近片式电容的实际工作状态实现片式电容的有效筛选。现有技术中，片式电容抗弯曲强度测试夹具的体积大、精度低，并且只能实现PCB板处于水平面时的抗弯曲测试，不能实现PCB板多角度下的片式电容抗弯曲测试；而且测试夹具不易操作，没有对PCB板进行限位措施，容易造成安全隐患。

技术实现思路

[0003]针对上述现有技术的不足，本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具及测试方法。
[0004]为达到上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0005]一种适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具，包括底座，所述底座上水平设置有限制位挡板，所述限制位挡板上设置有支撑组件，所述支撑组件用于在测试过程中对PCB板进行支撑；所述底座上还设置有PCB板固定结构，所述PCB板固定结构上设置有PCB板，所述PCB板位于支撑组件的正上方；所述PCB板上设置有第一焊盘和第二焊盘，所述第一焊盘电连接有第一引线，所述第二焊盘电连接有第二引线；所述PCB板的上方设置有盖板，所述盖板与底座固定连接；所述盖板对应PCB板的中心位置处穿设有施压螺栓，所述施压螺栓的上端设置有手柄。
[0006]进一步的，在所述施压螺栓包括第一螺纹段和第一刻度段，所述第一螺纹5段的下端进行圆滑处理，形成光滑的施压接触部；所述第一刻度段向上露出盖板上端面并与手柄连接，所述第一刻度段上划分有刻度。
[0007]进一步的，所述PCB板固定结构包括从底座的两侧分别向上伸出限制位挡板的上端面的固定部，两个所述固定部相对的一侧分别设置有一条形缺口，所述条形缺口的两端分别设置有一挡块。
[0008]0进一步的，所述支撑组件包括螺接穿设在限制位挡板上的两个限位螺栓，
[0009]两个所述限位螺栓对称设置在限制位挡板的中部。
[0010]进一步的，所述限位螺栓包括第二螺纹段和第二刻度段，所述第二螺纹段的上端进行圆滑处理，形成光滑的限位接触部；所述第二刻度段的一端向下露出限制位挡板的下端面，且所述第二刻度段划分有刻度。
[0011]5进一步的，所述支撑组件还包括螺接穿设在限制位挡板上的四个支撑螺栓，
[0012]四个所述支撑螺栓分别设置在限制位挡板的四角。
[0013]进一步的，所述支撑螺栓包括第三螺纹段和第三刻度段，所述第三螺纹段的上端进行圆滑处理，形成光滑的支撑接触部；所述第三刻度段的一端向下露出限制位挡板的下端面，且所述第三刻度段划分有刻度。
[0014]0一种适用于片式电容的抗弯曲强度测试方法，采用适用于片式电容的抗弯
[0015]曲强度测试夹具，所述测试方法包括以下步骤：
[0016]S1、将第一引线和第二引线连接至电容参数测试仪，并对电容参数测试仪进行校准；
[0017]S2、将待测片式电容的两个焊点分别焊接在PCB板的第一焊盘和第二焊盘5上；
[0018]S3、将PCB板上的片式电容朝下放置在PCB板固定结构上；
[0019]S4、对待测片式电容进行测试；如果测试结果符合要求则执行S5步骤；否则，判定待测片式电容不合格；
[0020]S5、调节支撑组件的支撑位置；
[0021]S6、转动施压螺栓，使施压螺栓的下端与PCB板抵接，并使PCB板向下弯曲预定的距离；
[0022]S7、再次对片式电容进行测试，并与S4步骤中的测试结果进行比较，如果测试结果的变化范围符合要求则判定待测片式电容合格；否则，判定待测片式电容不合格。
[0023]进一步的，所述支撑组件包括螺接穿设在限制位挡板上的两个限位螺栓，两个所述限位螺栓对称设置在限制位挡板的中部；所述限位螺栓包括第二螺纹段和第二刻度段，所述第二螺纹段的上端进行圆滑处理，形成光滑的限位接触部；所述第二刻度段向下露出限制位挡板的下端面，且所述第二刻度段划分有刻度；所述S5步骤包括以下子步骤：
[0024]S501、根据PCB板所需向下弯曲的距离分别调节两个限位螺栓的第二螺纹段向上露出限制位挡板的上端面的长度，使PCB板在向下弯曲的距离达到预定距离时与两个限位接触部抵接。
[0025]进一步的，所述支撑组件还包括螺接穿设在限制位挡板上的四个支撑螺栓，四个所述支撑螺栓分别设置在限制位挡板的四角；所述支撑螺栓包括第三螺纹段和第三刻度段，所述第三螺纹段的上端进行圆滑处理，形成光滑的支撑接触部；所述第三刻度段的一端向下露出限制位挡板的下端面，且所述第三刻度段划分有刻度；所述S5步骤还包括以下子步骤：
[0026]S502、根据PCB板在压弯之前所需的倾斜方向和倾斜角度分别调节四个支撑螺栓的第三螺纹段向上露出限制位挡板的上端面的长度，使四个支撑接触部与PCB板抵接，并使PCB板倾斜预定的角度。
[0027]本专利技术中，可以实现PCB板多个不同角度的抗弯曲强度测试，能够模拟片式电容焊接在PCB板上弯曲1mm～3mm的情况，从而能够在更接近PCB板实际工作状态的环境下测试片式电容的失效极限容值，满足用户对产品更高的筛选需
[0028]求。通过在施压螺栓、限位螺栓和支撑螺栓上划分刻度，使PCB板的弯曲精度5达到μm级，从而提升测试精度，且可以针对多种封装尺寸的片式电容进行抗弯
[0029]曲强度测试。另外，在夹具底座设置了限制位挡板，使得PCB板在抗弯曲测试中不
会相对测试夹具发生位移造成安全隐患。
附图说明
[0030]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，0本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限
[0031]定。在附图中：
[0032]图1为本专利技术适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具的一个优选实施例的结构示意图。
[0033]图2为图1去除盖板和PCB板时的结构示意图。
[0034]图3为限位螺栓的结构示意图。
[0035]图4为支撑螺栓的结构示意图。
[0036]图5为PCB板的结构示意图。
[0037]图6为施压螺栓的结构示意图。
[0038]图7为本专利技术适用于片式电容的抗弯曲强度测试方法的一个优选实施例的0流程图。
[0039]图8为在进行静态参数测试之前，使两个限位接触部和四个支撑接触部位于同一平面时的示意图。
[0040]图9为在抗弯曲强度测试时，调整两个限位螺栓后本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具，其特征在于：包括底座，所述底座上水平设置有限制位挡板，所述限制位挡板上设置有支撑组件，所述支撑组件用于在测试过程中对PCB板进行支撑；所述底座上还设置有PCB板固定结构，所述PCB板固定结构上设置有PCB板，所述PCB板位于支撑组件的正上方；所述PCB板上设置有第一焊盘和第二焊盘，所述第一焊盘电连接有第一引线，所述第二焊盘电连接有第二引线；所述PCB板的上方设置有盖板，所述盖板与底座固定连接；所述盖板对应PCB板的中心位置处穿设有施压螺栓，所述施压螺栓的上端设置有手柄。2.根据权利要求1所述的适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具，其特征在于：在所述施压螺栓包括第一螺纹段和第一刻度段，所述第一螺纹段的下端进行圆滑处理，形成光滑的施压接触部；所述第一刻度段向上露出盖板上端面并与手柄连接，所述第一刻度段上划分有刻度。3.根据权利要求1所述的适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具，其特征在于：所述PCB板固定结构包括从底座的两侧分别向上伸出限制位挡板的上端面的固定部，两个所述固定部相对的一侧分别设置有一条形缺口，所述条形缺口的两端分别设置有一挡块。4.根据权利要求1至3任一项所述的适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具，其特征在于：所述支撑组件包括螺接穿设在限制位挡板上的两个限位螺栓，两个所述限位螺栓对称设置在限制位挡板的中部。5.根据权利要求4所述的适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具，其特征在于：所述限位螺栓包括第二螺纹段和第二刻度段，所述第二螺纹段的上端进行圆滑处理，形成光滑的限位接触部；所述第二刻度段的一端向下露出限制位挡板的下端面，且所述第二刻度段划分有刻度。6.根据权利要求4所述的适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具，其特征在于：所述支撑组件还包括螺接穿设在限制位挡板上的四个支撑螺栓，四个所述支撑螺栓分别设置在限制位挡板的四角。7.根据权利要求6所述的适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具，其特征在于：所述支撑螺栓包括第三螺纹段和第三刻度段，所述第三螺纹段的上端进行圆滑处理，形成光滑的支撑接触部；所述第三刻度段的一端向下露出限制位挡板的下端面，且所述第三刻度段划分有刻度。...

【专利技术属性】
技术研发人员：李胜玉，罗俊，邱忠文，谭骁洪，应广祺，余航，吴兆希，蔡建荣，岑政，张玲，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第二十四研究所，
类型：发明
国别省市：