掉电保护测试装置及掉电保护测试方法制造方法及图纸

技术编号:36793631 阅读:17 留言:0更新日期:2023-03-08 22:51
本申请提供一种掉电保护测试装置,该装置包括至少两个供电模块、测试控制模块、基准电压模块、至少一个掉电保护模块和引脚模块,测试控制模块用于检测用户输入的测试控制信号,并基于测试控制信号确定目标测试模式,以及基于目标测试模式确定目标电源输入到目标掉电保护模块;基准电压模块与目标掉电保护模块连接,用于为目标掉电保护模块提供基准电压;目标掉电保护模块用于根据基准电压和目标电源确定掉电指示信号,并将该掉电指示信号输出至引脚模块,完成掉电保护测试。从而有效避免占用通信资源,保证了掉电保护测试能够实时、稳定地进行。定地进行。定地进行。

【技术实现步骤摘要】
掉电保护测试装置及掉电保护测试方法


[0001]本申请涉及集成电路
,特别涉及一种掉电保护测试装置及掉电保护测试方法。

技术介绍

[0002]闪存是存储芯片的一种,可以通过特定的程序修改里面的数据。闪存存储器又称闪存,它结合了ROM和RAM的长处,不仅具备电子可擦除可编程的性能,还可以快速读取数据,使数据不会因为断电而丢失。由于闪存的结构特性,如果在擦除或者写入时系统电源异常掉电,闪存的数据可能会出现丢失或者损坏的情况,甚至对闪存造成物理伤害,因此在使用闪存时往往会设计掉电保护电路。
[0003]掉电保护电路一般在掉电时才会发挥作用,掉电保护电路的测试也就需要在电源掉电的情况下进行。掉电保护电路的工作原理一般是检测电压掉到某个保护阈值时给出一个保护信号,使得闪存能够在正常工作的状态下立刻退出擦写模式,避免对数据和闪存造成伤害。在测试掉电保护电路性能方面,现有的掉电保护测试方式是将闪存掉电,然后监测二次上电是否可以正常启动。这种测试方式的测试周期较长,二次上电过程中引入的变量也较多,此种掉电性能测试缺乏实时性和准确性。
[0004]因此,需要一个能模拟多种不同的掉电条件和环境的掉电保护测试方法,缩短测试周期,排除冗余变量影响,减少对芯片通信资源的占用,提升掉电测试过程的稳定性,以实时监测掉电指示信号,便于用户实时确认掉电设计指标。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供了一种掉电保护测试装置及掉电保护测试方法,解决了现有闪存掉电保护测试电路占用过多闪存芯片通信资源且容易因为掉电导致掉电保护信号观测失败的问题。
[0006]第一方面,本申请的一些实施例提供了一种掉电保护测试装置,该装置包括至少两个供电模块、测试控制模块、基准电压模块、至少一个掉电保护模块和引脚模块,其中,至少两个供电模块与测试控制模块、至少一个掉电保护模块和引脚模块连接以进行供电;该测试控制模块与该至少一个掉电保护模块连接,用于检测用户输入的测试控制信号,并基于该测试控制信号确定目标测试模式,以及基于该目标测试模式确定目标电源输入到目标掉电保护模块;该基准电压模块与该目标掉电保护模块连接,用于为目标掉电保护模块提供相应的基准电压;该目标掉电保护模块与该引脚模块连接,用于根据该基准电压和该目标电源确定掉电指示信号,并将该掉电指示信号输出至该引脚模块,完成掉电保护测试。
[0007]即该掉电保护测试装置通过复用I/O引脚来监测掉电指示信号,使得可以在最终测试阶段完成掉电保护测试,有效提升测试精度,复用I/O引脚可以有效避免占用通信资源,切实节约了制造成本。另外,通过保持掉电测试控制模块和I/O引脚的供电电源一直不掉电,提升了进行掉电保护测试的稳定性。并且,基于该测试控制信号确定目标测试模式,
以及基于该目标测试模式确定目标电源输入到目标掉电保护模块,从而实现模拟多种测试条件,覆盖了大量不同的测试场景,保证了掉电保护测试能够实时、稳定地进行。
[0008]在一些实施方式中,该测试控制模块包括芯片的一个或多个处理器,其中,该一个或多个处理器用于检测用户输入的测试控制信号,并基于该测试控制信号确定目标测试模式。从而通过测试控制模块使用不同的测试模式对目标掉电保护模块进行掉电保护测试,使用一个或多个处理器高效地模拟多种测试条件,从而在覆盖了大量不同的测试场景的同时,保证了掉电保护测试能够实时、稳定且高效地进行。
[0009]在一些实施方式中,该装置还包括电源选择模块,并且,该电源选择模块与至少两个供电模块连接,用于根据该目标测试模式从该至少两个供电模块中确定对应的目标电源。在一些实施例中,电源选择模块可以为数据选择器(multiplexer,MUX)。
[0010]在一些实施方式中,该目标掉电保护模块包括比较器单元,并且,该装置还包括开关模块,其中,该开关模块用于在目标测试模式时,闭合以连接至该引脚模块,其中,该开关模块包括场效应管;该比较器单元用于根据该基准电压和该目标电源确定掉电指示信号,并经由该开关模块将该掉电指示信号发送至该引脚模块,其中,该引脚模块包括I/O引脚。以便于在芯片封装后也可以实现对第一掉电指示信号的监测,实现在芯片的最终测试中进行第一掉电保护测试,有效提升测试精度,便于覆盖更多的芯片掉电测试场景。
[0011]在一些实施方式中,该至少两个供电模块包括第一供电模块和第二供电模块,其中,该第一供电模块包括第一供电单元、第二供电单元和第三供电单元;该第二供电模块包括第四供电单元和第五供电单元。
[0012]即第一供电模块可以包括3种供电单元、第二供电模块可以包括2种供电单元来支持供电。从而丰富测试条件,便于覆盖更多的芯片掉电测试场景。
[0013]在一些实施方式中,该目标测试模式包括第一测试模式,并且,对应于第一测试模式,该第一供电单元连接至该第二供电单元、该目标掉电保护模块和该引脚模块以提供第三电源,其中,该第三电源包括系统电源,该第一供电单元包括电源模拟模块,该第二供电单元包括低压差线性稳压器;该第二供电单元连接至该电源选择模块和该测试控制模块以提供第一电源,其中,该第一电源包括core电源;该第三供电单元连接至该电源选择模块以提供第二电源,其中,该第二电源包括模拟电源,其中,该电源选择模块包括数据选择器。
[0014]即针对core电源掉电的场景,该core电源为用于为芯片内数字电路等供电用的电源,可以由系统电源降压处理后得到core电源,通过测试控制模块控制选择模块选择测试用的电源,实现了灵活控制core电源掉电条件,实时监测core电源掉电测试中的掉电指示信号。
[0015]在一些实施方式中,该目标测试模式还包括第二测试模式,并且,对应于该第二测试模式,该第四供电单元和该第五供电单元并联连接至该电源选择模块,该第四供电单元提供第四电源,第五供电单元提供第五电源,其中,该第四电源包括系统电源,该第五电源包括备用电源,该第四供电单元包括电源模拟模块;该第四供电单元还连接至该目标掉电保护模块以提供该第四电源。
[0016]即针对系统电源掉电的场景,通过电源选择模块在系统电源电压值降低至自身90%时切换至备份域电源,减小了掉电后依赖储能单元进行电源切换而导致测试失败的风险。
[0017]在一些实施方式中,该电源选择模块连接至该引脚模块和该测试控制模块,还用于基于第二测试模式从该第四电源和第五电源中确定目标电源,以为该引脚模块和该测试控制模块提供该目标电源。从而提升了掉电指示信号的测试精度,通过模拟多种测试条件,覆盖了大量不同的测试场景,保证了掉电保护测试能够实时、稳定地进行。
[0018]第二方面,本申请还提供了一种掉电保护测试方法,应用于包括掉电保护模块的掉电保护测试装置,该方法包括:检测到用户输入的测试控制信号,基于该测试控制信号确定目标测试模式;根据该目标测试模式确定对应的目标电源;根据从基准电压模块获取到的相应的基准电压和该目标电源确定掉电指示信号,并将该掉电指示信号输出至引脚,完成掉电保护测试。
[0019]即本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种掉电保护测试装置,其特征在于,所述装置包括至少两个供电模块、测试控制模块、基准电压模块、至少一个掉电保护模块和引脚模块,其中,所述至少两个供电模块与测试控制模块、至少一个掉电保护模块和引脚模块连接以进行供电;所述测试控制模块与所述至少一个掉电保护模块连接,用于检测用户输入的测试控制信号,并基于所述测试控制信号确定目标测试模式,以及基于所述目标测试模式确定目标电源输入到目标掉电保护模块;所述基准电压模块与所述目标掉电保护模块连接,用于为所述目标掉电保护模块提供相应的基准电压;所述目标掉电保护模块与所述引脚模块连接,用于根据所述基准电压和所述目标电源确定掉电指示信号,并将所述掉电指示信号输出至所述引脚模块,完成掉电保护测试。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测试控制模块包括芯片的一个或多个处理器,其中,所述一个或多个处理器用于检测用户输入的测试控制信号,并基于所述测试控制信号确定目标测试模式。3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括电源选择模块,并且,所述电源选择模块与所述至少两个供电模块连接,用于根据所述目标测试模式从所述至少两个供电模块中确定对应的目标电源。4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述目标掉电保护模块包括比较器单元,并且,所述装置还包括开关模块,其中,所述开关模块用于在目标测试模式时,闭合以连接至所述引脚模块,其中,所述开关模块包括场效应管;所述比较器单元用于根据所述基准电压和所述目标电源确定掉电指示信号,并经由所述开关模块将所述掉电指示信号发送至所述引脚模块,其中,所述引脚模块包括I/O引脚。5.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述至少两个供电模块包括第一供电模块和第二供电模块,其中,所述第一供电模块包括第一供电单元、第二供电单元和第三供电单元;所述第二供电模块包括第四供电单元和第五供电单元。6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述目标测试模式包括第一测试模式,并且,对应于所述第一测试模式,所述第一供电单元连接至所述第二供电单元、所述目标掉电保护模块和所述引脚模块以提供第三电源,其中,所述第三电源包括系统电源,所述第一供电单元包括电源模拟模块,所述第二供电单元包括低压差线性稳压器;所述第二供电单元连接至所述电源选择模块和所述测试控制模块以提供第一电源,其中,所述第一电源包括core电源;所述第三供电单元连接至所述电源选择模块以提供第二电源,其中,所述第二电源包括模拟电源,其中,所述电源选择模块包括数据选择器。7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述目标测试模式还包括第二测试模式,并且,对应于所述第二测试模式,所述第四供电单元和所述第五供电单元连接至所述电源选
择模块,所述第四供电单元提供第四电源,第五供电单元提供第五电源,其中,所述第四电源包括系统电源,所述第五电源包括备用电源,所述第四供电单元包括电源模拟模块;所述第四供电单元还连接至所述目标掉电保护模块以提供所述第四电源。8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述电源选择模块连接至所述引脚模块和所述测试控制模块,还用于基于第二测试模式从所述第四电源和第五电源中确定目标电源,以为所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:宗嘉李枭谢伟军
申请(专利权)人:上海艾为电子技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1