集成电路及其启动方法技术

本申请提供一种集成电路及其启动方法，所述集成电路包含非易失性存储器及启动电路。启动电路是设置以启动IC，包含从非易失性存储器读取指示IC的生产测试是否已成功完成的一或多个数值，以及若一或多个数值指示生产测试并未成功完成，开始反应行动。开始反应行动。开始反应行动。

【技术实现步骤摘要】
集成电路及其启动方法


[0001]本专利技术主要涉及集成电路测试，特别涉及一种使用非易失性存储器以改善集成电路测试的品质的方法及系统。

技术介绍

[0002]集成电路(IC)可在晶片级(晶片分类)及封装单元级进行测试。测试内容可包含校准、个人化、序号插入
…
等。
[0003]在文献(West,Burnell G."Advanced Test Methodology and Strategies for Semiconductors."2006 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits.IEEE,2006.)中，作者叙述高阶装置测试是如何在近几年内从精确量测转移至数据管理，且又叙述一种交易式自动测试设备(Transaction
‑
Based Automatic Test Equipment；ATE)的架构。
[0004]美国专利申请公开号2017/0040067本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路，其特征在于，包括：一非易失性存储器；以及启动电路，设置以启动所述集成电路，包含从所述非易失性存储器读取指示所述集成电路的生产测试是否已成功完成的一或多个数值，以及若所述一或多个数值指示所述生产测试并未成功完成，开始一反应行动。2.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述一或多个数值是由一通过/出错位所组成。3.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述一或多个数值已被一外部自动测试设备写入至所述非易失性存储器。4.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，更包括控制电路，设置以从一外部自动测试设备接收指示所述生产测试是否已成功完成的信息，以及基于所述信息将所述一或多个数值写入至所述非易失性存储器。5.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述一或多个数值包括一不可复原测试通过指示、一不可复原测试出错指示、一可复原测试出错指示、以及一可复原测试通过指示。6.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述一或多个数值相互正交。7.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述非易失性存储器是一单次可编程存储器。8.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述非易失性存储器是一多次可编程非易失性存储...

【专利技术属性】
技术研发人员：尤佛，
申请(专利权)人：新唐科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：