存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质技术

本申请涉及存储设备测试技术领域，公开了存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质。该方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据参数信息设置测试参数；其中，测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试；采集测试过程中的日志信息，基于日志信息得到测试结果。通过上述方式，能够提高测试结果的准确性和可靠性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质


[0001]本申请涉及存储设备测试
，特别是涉及存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，各种功能的电子设备被设计出来，每一电子设备中均配置有存储设备，或者通过外接存储设备来与电子设备配合，以完成读写操作。
[0003]存储设备的性能也决定了用户的使用体验。通常存储设备在出厂前需要进行测试，以确定存储设备性能。

技术实现思路

[0004]本申请主要解决的技术问题是提供存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质，能够提高测试结果的准确性和可靠性。
[0005]为了解决上述问题，本申请采用的一种技术方案是提供一种存储设备的测试方法，该方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据参数信息设置测试参数；其中，测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试；采集测试过程中的日志信息，基于日志信息得到测试结果。
[0006]其中，根据参数信息设置测试参数，包括：从参数信息中获取待测试存储设备的Lun(Logical Unit Number，逻辑单元号)数量、plane数量和存储页容量；利用Lun数量、plane数量和存储页容量确定测试逻辑块大小。
[0007]其中，根据参数信息设置测试参数，包括：从参数信息中获取待测试存储设备的wordline类型；根据wordline类型确定测试逻辑块的倍数。
>[0008]其中，根据参数信息设置测试参数，包括：从参数信息中获取待测试存储设备的读写寿命；根据读写寿命确定读写测试的次数。
[0009]其中，利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试，包括：利用测试逻辑块的倍数对待测试存储设备中待测试的测试逻辑块进行容量增大；按照读写测试的次数对wordline page进行读写操作；采集测试过程中的日志信息，包括：采集读写操作过程中的日志信息。
[0010]其中，wordline page包括lower page、eXtra page和upper page；按照读写测试的次数对wordline page进行读写操作，包括：按照读写测试的次数对lower page进行读写操作；采集读写操作过程中的日志信息，包括：采集读写操作过程中lower page、eXtra page和upper page的对应状态，得到日志信息。
[0011]其中，wordline page包括lower page和upper page；按照读写测试的次数对wordline page进行读写操作，包括：按照读写测试的次数对lower page或upper page进行读写操作；采集读写操作过程中的日志信息，包括：采集读写操作过程中lower page和
upper page的对应状态，得到日志信息。
[0012]其中，该方法还包括：利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试之前，包括：对待测试存储设备进行基础测试；确定待测试存储设备读写正常后，执行利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试的步骤。
[0013]为了解决上述问题，本申请采用的另一种技术方案是提供一种测试设备，该测试设备用于连接存储设备，设备包括处理器以及与处理器耦接的存储器；其中，存储器用于存储计算机程序，处理器用于执行计算机程序，以实现如上述技术方案提供的方法。
[0014]为了解决上述问题，本申请采用的另一种技术方案是提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质用于存储计算机程序，计算机程序在被处理器执行时，用于实现如上述技术方案提供的方法。
[0015]本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请提供的存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质。该方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据参数信息设置测试参数；其中，测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试；采集测试过程中的日志信息，基于日志信息得到测试结果。通过上述方式，能够利用测试参数对wordline上的存储页进行随机读写，使得到的日志信息更加全面，进而能够提高测试结果的准确性和可靠性，进一步能够基于测试结果找出待测试设备的缺陷，以便于相关人员对待测试设备的性能进行提升，从而提高待测试设备的产品质量。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：
[0017]图1是本申请提供的存储设备的测试方法一实施例的流程示意图；
[0018]图2是本申请提供的步骤12一实施例的流程示意图；
[0019]图3是本申请提供的步骤12另一实施例的流程示意图；
[0020]图4是本申请提供的步骤12另一实施例的流程示意图；
[0021]图5是本申请提供的存储设备的测试方法另一实施例的流程示意图；
[0022]图6是本申请提供的存储设备的测试方法另一实施例的流程示意图；
[0023]图7是本申请提供的存储设备的测试方法另一实施例的流程示意图；
[0024]图8是本申请提供的存储设备的测试方法另一实施例的流程示意图；
[0025]图9是本申请提供的测试设备一实施例的结构示意图；
[0026]图10是本申请提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0027]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结
Level Cell，3阶单元)。
[0045]步骤22：利用Lun数量、plane数量和存储页容量确定测试逻辑块的大小。
[0046]可以用Lun数量、plane数量和存储页容量相乘，得到测试逻辑块大小。如，SSD(Solid State Disk，固态硬盘)的逻辑数据最小单元是一个sector(扇形)，一个sector大小为512byte，根据不同颗粒的物理结构特性，类型，如，QLC、TLC或MLC，测试逻辑块大小的计算公式为：Lun num*plane num*Page size*倍数)/sector)。num表示数量的意思。
[0047]在其他实施例中，可以由用户自定义待测试存储设备划分的份数，即每一测试逻辑块的大小。
[0048]又如，参阅图3，设置测试逻辑块的倍数可以采用以下流程：
[0049]步骤31：从参数信息中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储设备的测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据所述参数信息设置测试参数；其中，所述测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用所述测试参数对所述待测试存储设备进行wordline page测试；采集测试过程中的日志信息，基于所述日志信息得到测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参数信息设置测试参数，包括：从所述参数信息中获取所述待测试存储设备的Lun数量、plane数量和存储页容量；利用所述Lun数量、所述plane数量和存储页容量确定所述测试逻辑块大小。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参数信息设置测试参数，包括：从所述参数信息中获取所述待测试存储设备的wordline类型；根据所述wordline类型确定所述测试逻辑块的倍数。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参数信息设置测试参数，包括：从所述参数信息中获取所述待测试存储设备的读写寿命；根据所述读写寿命确定所述读写测试的次数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述测试参数对所述待测试存储设备进行wordline page测试，包括：利用所述测试逻辑块的倍数对所述待测试存储设备中待测试的测试逻辑块进行容量增大；按照所述读写测试的次数对所述wordline page进行读写操作；所述采集测试过程中的日志信息，包括：采集所述读写操作过程中的日志信息。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述wordline page包括lower page、eXtra page和upper page；所述按照所述读写测试的次数对所述wordl...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭上春，梁冬柳，
申请(专利权)人：深圳市江波龙电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：