存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质技术

本申请涉及存储设备测试技术领域，公开了存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质。该方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据参数信息设置测试参数；其中，测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试；采集测试过程中的日志信息，基于日志信息得到测试结果。通过上述方式，能够提高测试结果的准确性和可靠性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质


[0001]本申请涉及存储设备测试
，特别是涉及存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，各种功能的电子设备被设计出来，每一电子设备中均配置有存储设备，或者通过外接存储设备来与电子设备配合，以完成读写操作。
[0003]存储设备的性能也决定了用户的使用体验。通常存储设备在出厂前需要进行测试，以确定存储设备性能。

技术实现思路

[0004]本申请主要解决的技术问题是提供存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质，能够提高测试结果的准确性和可靠性。
[0005]为了解决上述问题，本申请采用的一种技术方案是提供一种存储设备的测试方法，该方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据参数信息设置测试参数；其中，测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试；采集测试过程中的日志信息，基于日志信息得到测试结果。
[0006]其中，根据参数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储设备的测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据所述参数信息设置测试参数；其中，所述测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用所述测试参数对所述待测试存储设备进行wordline page测试；采集测试过程中的日志信息，基于所述日志信息得到测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参数信息设置测试参数，包括：从所述参数信息中获取所述待测试存储设备的Lun数量、plane数量和存储页容量；利用所述Lun数量、所述plane数量和存储页容量确定所述测试逻辑块大小。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参数信息设置测试参数，包括：从所述参数信息中获取所述待测试存储设备的wordline类型；根据所述wordline类型确定所述测试逻辑块的倍数。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参数信息设置测试参数，包括：从所述参数信息中获取所述待测试存储设备的读写寿命；根据所述读写寿命确定所述读写测试的次数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述测试参数对所述待测试存储设备进行wordline page测试，包括：利用所述测试逻辑块的倍数对所述待测试存储设备中待测试的测试逻辑块进行容量增大；按照所述读写测试的次数对所述wordline page进行读写操作；所述采集测试过程中的日志信息，包括：采集所述读写操作过程中的日志信息。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述wordline page包括lower page、eXtra page和upper page；所述按照所述读写测试的次数对所述wordl...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭上春，梁冬柳，
申请(专利权)人：深圳市江波龙电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：