温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请涉及存储设备测试技术领域，公开了存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质。该方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据参数信息设置测试参数；其中，测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用测试参数对...
该专利属于深圳市江波龙电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市江波龙电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。