一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探头制造技术

本实用新型专利技术属于测厚仪技术领域，尤其为一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探头，包括C型架，所述C型架的内顶壁和内底壁均开有安装仓，所述C型架通过上下两个安装仓安装有升降探头装置，所述升降探头装置包括设置在下侧的安装仓中的升降接收装置和设置在上侧的安装仓中的升降X射线发射装置，所述升降接收装置的顶部和升降X射线发射装置的底部均固定安装有封闭板，本装置可大量减少X射线测厚仪探头检修拆卸的工作量，提升维修的便利性。提升维修的便利性。提升维修的便利性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探头


[0001]本技术属于测厚仪
，具体涉及一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探头。

技术介绍

[0002]X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度，在CPP薄膜的生产过程中，需要使用到X射线测厚仪对膜厚进行检测，但现有技术中，当X射线测厚仪的探头发生故障时，需要将探头整个组件全部拆卸进行维修，拆卸工作量较大，很不方便。

技术实现思路

[0003]本技术提供了一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探头，大量减少X射线测厚仪探头检修拆卸的工作量，提升维修的便利性。
[0004]本技术提供如下技术方案：一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探头，包括C型架，所述C型架的内顶壁和内底壁均开有安装仓，所述C型架通过上下两个安装仓安装有升降探头装置，所述升降探头装置包括设置在下侧的安装仓中的升降接收装置和设置在上侧的安装仓中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探头，其特征在于：包括C型架，所述C型架的内顶壁和内底壁均开有安装仓，所述C型架通过上下两个安装仓安装有升降探头装置，所述升降探头装置包括设置在下侧的安装仓中的升降接收装置和设置在上侧的安装仓中的升降X射线发射装置，所述升降接收装置的顶部和升降X射线发射装置的底部均固定安装有封闭板。2.根据权利要求1所述的一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探头，其特征在于：所述升降接收装置包括固定安装在下侧的安装仓中的第一丝杆和第一滑杆，所述第一丝杆的外侧螺纹连接有第一丝杆步进电机，所述第一丝杆步进电机固定安装在接收装置安装盒的左右两侧，所述接收装置安装盒的底部固定安装有第一转轴，所述第一转轴转动安装在第一轴承座中，所述第一轴承座的底部固定安装有第一安装板，所述第一安装板被第一丝杆和第一滑杆贯穿，所述第一安装板与第一滑杆滑动连接且不与第一丝杆接触。3.根据权利要求2所述的一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探头，其特征在于：所述接收装置安装盒的内部固定安装有电离室，所述电离室的顶部固定连接有接收探头窗口，所述接收探头窗口的顶部贯穿接收装置安装盒的顶板，所述接收装置安装盒的内腔中固定安装有屏蔽层。4.根据权利要求3所述的一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探...

【专利技术属性】
技术研发人员：王小吻，于利君，
申请(专利权)人：青岛伟东钧诺新材料有限公司，
类型：新型
国别省市：