温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型属于测厚仪技术领域，尤其为一种用于CPP薄膜的X射线测厚仪探头，包括C型架，所述C型架的内顶壁和内底壁均开有安装仓，所述C型架通过上下两个安装仓安装有升降探头装置，所述升降探头装置包括设置在下侧的安装仓中的升降接收装置和设置在上侧...
该专利属于青岛伟东钧诺新材料有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过青岛伟东钧诺新材料有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。