用于QFN芯片的自动光学检测设备制造技术

本发明专利技术涉及QFN芯片检测技术领域，具体地说，公开了一种用于QFN芯片的自动光学检测设备，其包括检测设备本体，检测设备本体包括上料部、第一检测工位、第二检测工位以及下料部；上料部用于QFN芯片输送至第一检测工位，第一检测工位用于对QFN芯片进行初步检测并将QFN芯片输送至第二检测工位，第二检测工位用于对第一检测工位检测出的存在缺陷的QFN芯片进行再次检测；第二检测工位还用于将QFN芯片输送至下料部处，下料部用于对QFN芯片进行收集。本发明专利技术避免了对每个QFN芯片进行二次检测，从而较佳的提升了对于QFN芯片的检测效率，同时也实现对于存在缺陷的QFN芯片的详细检测，提升了对于QFN芯片检测效果。了对于QFN芯片检测效果。了对于QFN芯片检测效果。

【技术实现步骤摘要】
用于QFN芯片的自动光学检测设备


[0001]本专利技术涉及QFN芯片检测
，具体地说，涉及一种用于QFN芯片的自动光学检测设备。

技术介绍

[0002]QFN(Quad Flat No
‑
lead Package)是一种较新的芯片封装形式，其采用无引脚封装，呈正方形或矩形，利用封装底部中间焊盘导热，围绕中间焊盘的封装外围四周有实现电气连结的导电焊盘。QFN芯片产品的主要缺陷集中在空洞，外来物污染，溢胶，崩角，切偏，划伤等几个方面，故而在QFN芯片生产完成后需要对QFN芯片进行检测。目前常用的检测方式为有光学视觉检测，在进行光学检测的过程中，目前主流的检测方式为首先对QFN芯片进行大致的检测，如果在检测过程中发现异常则将QFN芯片挑选出来，并通过设备对其进行更为精细的检测，由于对QFN的挑选耗费较多的时间，并且设置更为精细的检测的设备又带来的较大的空间占用。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题，本专利技术通过下述技术方案得以解决：
[0004]一种用于QFN芯片的自动光学检测设备，其包括检测设备本体，检测设备本体包括上料部、第一检测工位、第二检测工位以及下料部；上料部用于QFN芯片输送至第一检测工位，第一检测工位用于对QFN芯片进行初步检测并将QFN芯片输送至第二检测工位，第二检测工位用于对第一检测工位检测出的存在缺陷的QFN芯片进行再次检测；第二检测工位还用于将QFN芯片输送至下料部处，下料部用于对QFN芯片进行收集。
[0005]本专利技术避免了对每个QFN芯片进行二次检测，从而较佳的提升了对于QFN芯片的检测效率，同时也实现对于存在缺陷的QFN芯片的详细检测，提升了对于QFN芯片检测效果。
[0006]作为优选，上料部包括用于输送QFN芯片盒的第一皮带输送机构，第一皮带输送机构沿其输送方向的末端部设有用于抬升QFN芯片盒的第一抬升机构，第一抬升机构包括用于接收QFN芯片盒的第一放置架，第一放置架处设有用于驱动第一放置架沿竖直方向移动的第一丝杆驱动模组，上料部处还设有用于将第一放置架处QFN芯片盒中的QFN芯片顶出的顶出机构；顶出机构包括第二皮带轮组，第二皮带轮组包括2个第二皮带轮，所述2个第二皮带轮之间连接有第二皮带，第二皮带处设有用于将QFN芯片盒中芯片进行顶出的顶板。
[0007]本专利技术中，通过第一抬升机构与顶出机构之间的配合，能够较为稳定的将QFN芯片盒中的芯片抵出。
[0008]作为优选，检测设备本体处设有用于对顶出机构顶出的QFN芯片进行输送的第三皮带输送机构，第三皮带输送机构包括第三输送皮带，第三皮带输送机构处沿其输送方向的末端设有用于对QFN芯片进行阻挡的挡板。
[0009]本专利技术中，通过将QFN芯片传输至第三输送皮带处，方便了将QFN芯片夹取至第一检测工位。其中，挡板的设置，避免了QFN芯片从第三输送皮带处掉落。通过
[0010]作为优选，上料部还包括设置于第一皮带输送机构上端部且用于对取出QFN芯片的QFN芯片盒进行放置的第一放置台；上料部设有且用于将第一放置架处抵送至第一放置台处的抵送机构，抵送机构包括设置第一丝杆驱动模组上端部的第一双轴气缸。
[0011]本专利技术中，通过第一双轴气缸的设置，从而可较为方便的实现对于QFN芯片盒的收集。
[0012]作为优选，检测设备本体处设有用于将第三皮带输送机构处的QFN芯片搬运至第一检测工位处的第一搬运机构，第一搬运机构包括设置于第三皮带输送机构上端部的第一手指气缸，第一手指气缸处设有用于QFN芯片进行夹持的第一夹持板，检测设备本体处设有位于第三皮带输送机构处的第一安装架，第一安装架处设有驱动第一手指气缸沿水平方向移动的第二丝杆驱动模组，第二丝杆驱动模组的滑块处设有用于与第一手指气缸相连接且用于驱动第一手指气缸沿竖直方向移动的第二双轴气缸。
[0013]本专利技术中，通过第一搬运机构结构的设置，能够通过第二双轴气缸与第二丝杆驱动模组之间的配合将QFN芯片移动至第一检测工位220处。
[0014]作为优选，第一检测工位包括设置于检测设备本体处的且用于对QFN芯片进行检测的第一检测模块，第一检测模块包括线扫描相机单元以及线激光相机单元；第一检测工位还包括直线电机模块，直线电机模块处设有用于放置QFN芯片的放置平台，直线电机模块用于将放置平台处的QFN芯片输送至第一检测模块处。
[0015]本专利技术中，通过第一检测模块中的线扫描相机单元以及线激光相机单元对QFN芯片进行检测，从而能够实现对于QFN芯片的检测。作为优选，第二检测工位包括设置于检测设备本体处的且用于对QFN芯片进行检测的第二检测模块，第二检测模块包括面阵相机单元；第二检测模块还包括第四皮带输送机构，第四皮带输送机构包括2个平行设置的安装板，所述2个平行设置的安装板之间设有用于将QFN芯片输送至面阵相机单元处的第四输送皮带。
[0016]本专利技术中，通过第二检测工位的设置，从而能够实现对含有缺陷的QFN芯片的检测。
[0017]作为优选，检测设备本体设有用于将第一检测工位处的QFN芯片输送至第四皮带输送机构的第二搬运机构，第二搬运机构包括设置于第四皮带输送机构上端部的第二手指气缸，第二手指气缸处设有用于QFN芯片进行夹持的第二夹持板，检测设备本体处设有位于第四皮带输送机构处的第二安装架，第二安装架处设有驱动第二手指气缸沿水平方向移动的第三丝杆驱动模组，第三丝杆驱动模组的滑块处设有用于与第二手指气缸相连接且用于驱动第二手指气缸沿竖直方向移动的第三双轴气缸。
[0018]本专利技术中，通过第二搬运机构的设置，能够较佳的将一检测工位处的QFN芯片搬运至第四皮带输送机构处。
[0019]作为优选，下料部包括设置于检测设备本体处且位于第四皮带输送机构末端部的端第五皮带输送机构，第五皮带输送机构末端部设有用于放置QFN芯片盒的第二放置架；下料部还包括用于将第五皮带输送机构末端部的QFN芯片抵送至QFN芯片盒中的第六皮带轮组，第六皮带轮组包括两第六皮带轮，两第六皮带轮之间连接有第六皮带，第六皮带处设有用于将QFN芯片抵送至QFN芯片盒中的L型板。
[0020]本专利技术中，通过第六皮带轮组的设置，能够较佳的实现对于检测后的QFN芯片的收
集。
[0021]作为优选，下料部处设有用于将QFN芯片盒输送至第二放置架处的第七皮带输送机构；下料部还包括设置于第七皮带输送机构上端部且用于对QFN芯片盒进行放置的第二放置台；下料部设有用于将第二放置架移动至第二放置台处的第二抬升机构，第二抬升机构包括与第二放置架相连接的第四丝杆驱动模组，第四丝杆驱动模组的上端部设有用于第二放置架处的QFN芯片盒抵送至第二放置台处的第四双轴气缸。
[0022]本专利技术中，通过第二抬升机构的设置，能够与第六皮带轮组进行配合将QFN依次抵入QFN芯片盒中；通过第二放置台与第四双轴气缸的设置，能够实现对于装满QFN芯片的芯片盒的自动收集。
附图说明
[0023]图1为实施例1中用于QFN本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于QFN芯片的自动光学检测设备，其特征在于：包括检测设备本体(100)，检测设备本体(100)包括上料部(210)、第一检测工位(220)、第二检测工位(230)以及下料部(240)；上料部(210)用于QFN芯片输送至第一检测工位(220)，第一检测工位(220)用于对QFN芯片进行初步检测并将QFN芯片输送至第二检测工位(230)，第二检测工位(230)用于对第一检测工位(220)检测出的存在缺陷的QFN芯片进行再次检测；第二检测工位(230)还用于将QFN芯片输送至下料部(240)处，下料部(240)用于对QFN芯片进行收集。2.根据权利要求1所述的用于QFN芯片的自动光学检测设备，其特征在于：上料部(210)包括用于输送QFN芯片盒的第一皮带输送机构(310)，第一皮带输送机构(310)沿其输送方向的末端部设有用于抬升QFN芯片盒的第一抬升机构(330)，第一抬升机构(330)包括用于接收QFN芯片盒的第一放置架(410)，第一放置架(410)处设有用于驱动第一放置架(410)沿竖直方向移动的第一丝杆驱动模组(420)，上料部(210)处还设有用于将第一放置架(410)处QFN芯片盒中的QFN芯片顶出的顶出机构；顶出机构包括第二皮带轮组(320)，第二皮带轮组(320)包括2个第二皮带轮(430)，所述2个第二皮带轮(430)之间连接有第二皮带(440)，第二皮带(440)处设有用于将QFN芯片盒中芯片进行顶出的顶板(450)。3.根据权利要求2所述的用于QFN芯片的自动光学检测设备，其特征在于：检测设备本体(100)处设有用于对顶出机构顶出的QFN芯片进行输送的第三皮带输送机构(510)，第三皮带输送机构(510)包括第三输送皮带(580)，第三皮带输送机构(510)处沿其输送方向的末端设有用于对QFN芯片进行阻挡的挡板(5100)。4.根据权利要求2所述的用于QFN芯片的自动光学检测设备，其特征在于：上料部(210)还包括设置于第一皮带输送机构(310)上端部且用于对取出QFN芯片的QFN芯片盒进行放置的第一放置台(580)；上料部(210)设有且用于将第一放置架(410)处抵送至第一放置台(580)处的抵送机构，抵送机构包括设置第一丝杆驱动模组(420)上端部的第一双轴气缸(470)。5.根据权利要求3所述的用于QFN芯片的自动光学检测设备，其特征在于：检测设备本体(100)处设有用于将第三皮带输送机构(510)处的QFN芯片搬运至第一检测工位(220)处的第一搬运机构(520)，第一搬运机构(520)包括设置于第三皮带输送机构(510)上端部的第一手指气缸(610)，第一手指气缸(610)处设有用于QFN芯片进行夹持的第一夹持板(620)，检测设备本体(100)处设有位于第三皮带输送机构(510)处的第一安装架(620)，第一安装架(620)处设有驱动第一手指气缸(610)沿水平方向移动的第二丝杆驱动模组(630)，第二丝杆驱动模组(630)的滑块处设有用于与第一手指气缸(610)相连接且用于驱动第一手指气缸(610)沿竖直方向移动的第二双轴气缸(640)。6.根据权利要求1所述的用于QFN芯片的自动光学检测设备，其特征在于：第一检测工位(220)包括设置于检测设备本体(100)处的且...

【专利技术属性】
技术研发人员：王孟哲，梁正南，赖勉力，李恩全，
申请(专利权)人：宁波九纵智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：