本实用新型专利技术公开了一种防止光学镜面污染的激光粒度仪，包括激光器、探测器、信号处理电路、进样管和呈圆柱体形状的样品仓，进样管插入样品仓的中心，样品仓的两侧壁上分别设置有平面透镜和反射棱镜，激光器发出的激光依次穿过平面透镜、反射棱镜和平面透镜照射在探测器上，信号处理电路将探测器接收到的光信号转变为电信号，由于进样管上套接有保护气管，通过保护气管向样品仓中输入保护气，保护气的流速大于进样管中的样品流速。保护气管中流出的保护气形成气幕，将进样管喷出的样品气与外界隔离，防止样品气越过气幕流动。保持平面透镜和反射棱镜表面清洁，同时保持了较佳的测试精度。度。度。
【技术实现步骤摘要】
一种防止光学镜面污染的激光粒度仪
[0001]本技术涉及一种防止光学镜面污染的激光粒度仪，属于防止光学镜面污染的激光粒度仪领域。
技术介绍
[0002]随着工业技术的发展，大量新兴产业兴起，各种类型的气体广泛应用，参与工艺流程中，以获得更高质量的产品。当气体中含有颗粒状杂质时，将会降低最终产品的质量。一般地，人们通过使用激光粒度仪对气体检测，以判断气体的品质。然而激光粒度仪都要用到光学玻璃或反光镜、棱镜等光学器件，而这些器件的光学面如果受到颗粒污染，将会严重影响测试精度，得出错误的判断结果。因此，如何避免激光粒度仪中的光学器件受到气体中颗粒的污染是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
[0003]为克服上述缺点，本技术的目的在于提供一种防止光学镜面污染的激光粒度仪。其光学镜面免受气体中颗粒的污染，能够获得更高的测试精度。
[0004]为了达到以上目的，本技术采用的技术方案是：一种防止光学镜面污染的激光粒度仪，包括激光器、探测器、信号处理电路、进样管和呈圆柱体形状的样品仓，进样管插入样品仓的中心，样品仓的两侧壁上分别设置有平面透镜和反射棱镜，激光器发出的激光依次穿过平面透镜、反射棱镜和平面透镜照射在探测器上，信号处理电路将探测器接收到的光信号转变为电信号，所述进样管上套接有保护气管，通过保护气管向样品仓中输入保护气，保护气的流速大于进样管中的样品流速。
[0005]本技术进一步的设置为：所述保护气管伸出样品仓的一端连接有蜗壳，保护气管连接在蜗壳的中心；蜗壳的侧面连接有保护气入口，保护气入口连接在蜗壳边缘切线方向。
[0006]本技术进一步的设置为：所述保护气管与所述进样管同轴设置，保护气管的下段与进样管的下段之间通过若干导流板连接，若干导流板以保护气管的中轴线为中心呈环形阵列分布，上下竖直设置。
[0007]本技术进一步的设置为：所述保护气管的上段连接有第一支管和第二支管，第一支管和第二支管分别倾斜朝向反射棱镜和平面透镜，用以将保护气管中的保护气排出至反射棱镜和平面透镜的表面。
[0008]本技术进一步的设置为：所述样品仓的底部连接有汇集部，汇集部呈圆台形状，汇集部的底端连接有排废气接口。
[0009]本技术进一步的设置为：所述保护气的流速是进样管中的样品流速的两倍。
[0010]本技术进一步的设置为：所述样品仓的直径是所述保护气管直径的3倍。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果是：由于进样管上套接有保护气管，通过保护气管向样品仓中输入保护气，保护气的流速大于进样管中的样品流速。保护气管中流
出的保护气形成气幕，将进样管喷出的样品气与外界隔离，防止样品气越过气幕流动，也能阻止外界气体越过气幕与样品气混杂在一起，保护了样品气状况稳定。由于气幕的存在，样品气中的颗粒无法污染设置在样品仓两侧壁上的平面透镜和反射棱镜。保持平面透镜和反射棱镜表面清洁，同时保持了较佳的测试精度。
[0012]上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
[0013]图1为本技术一较佳实施例所示的防止光学镜面污染的激光粒度仪的结构示意图。
[0014]图中：1、进样管；2、保护气入口；3、第一支管；4、样品仓；5、反射棱镜；6、汇集部；7、排废气接口；8、平面透镜；9、探测器；10、激光器；11、第二支管；12、保护气管；13、蜗壳；14、信号处理电路；15、导流板。
具体实施方式
[0015]下面结合附图对本技术的较佳实施例进行详细阐述，以使本技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。
[0016]参见附图1所示，本实施例中的一种防止光学镜面污染的激光粒度仪，包括激光器10、探测器9、信号处理电路14、进样管1和呈圆柱体形状的样品仓4，进样管1插入样品仓4的中心，样品仓4的两侧壁上分别设置有平面透镜8和反射棱镜5，激光器10发出的激光依次穿过平面透镜8、反射棱镜5和平面透镜8照射在探测器9上，信号处理电路14将探测器9接收到的光信号转变为电信号，所述进样管1上套接有保护气管12，通过保护气管12向样品仓4中输入保护气，保护气的流速大于进样管1中的样品流速。
[0017]由于进样管1上套接有保护气管12，通过保护气管12向样品仓4中输入保护气，保护气的流速大于进样管1中的样品流速。保护气管12中流出的保护气形成气幕，将进样管1喷出的样品气与外界隔离，防止样品气越过气幕流动，也能阻止外界气体越过气幕与样品气混杂在一起，保护了样品气状况稳定。由于气幕的存在，样品气中的颗粒无法污染设置在样品仓4两侧壁上的平面透镜8和反射棱镜5。保持平面透镜8和反射棱镜5表面清洁，同时保持了较佳的测试精度。激光器10发出的激光穿过平面透镜8后，在反射棱镜5中改变方向，再次穿过平面透镜8后照射在探测器9上，信号处理电路14将探测器9接收到的光信号转变为电信号。激光的路径如图1中水平箭头和竖直箭头所示。
[0018]为了使保护气能够平稳均匀地流出，本技术进一步的设置为：所述保护气管12伸出样品仓4的一端连接有蜗壳13，保护气管12连接在蜗壳13的中心；蜗壳13的侧面连接有保护气入口2，保护气入口2连接在蜗壳13边缘切线方向。保护气经过保护气入口2和蜗壳13进入保护气管12中，能够消除紊流，更加平稳均匀地流动。形成的气幕更加稳定。
[0019]为了引导保护气的流动方向，本技术进一步的设置为：所述保护气管12与所述进样管1同轴设置，保护气管12的下段与进样管1的下段之间通过若干导流板15连接，若
干导流板15以保护气管12的中轴线为中心呈环形阵列分布，上下竖直设置。导流板15不仅引导了保护气竖直向下流动，而且将保护气管12与进样管1连接在一起，结构更加稳定。
[0020]偶尔，反射棱镜5和平面透镜8的表面会存在少量颗粒，为了吹脱反射棱镜5和平面透镜8表面的颗粒，本技术进一步的设置为：所述保护气管12的上段连接有第一支管3和第二支管11，第一支管3和第二支管11分别倾斜朝向反射棱镜5和平面透镜8，用以将保护气管12中的保护气排出至反射棱镜5和平面透镜8的表面。第一支管3和第二支管11中吹出的保护气的流动方向如图1中倾斜箭头所示。
[0021]为了便于收集样品仓4中排出的废气，本技术进一步的设置为：所述样品仓4的底部连接有汇集部6，汇集部6呈圆台形状，汇集部6的底端连接有排废气接口7。
[0022]经过试验测试，所述保护气的流速是进样管1中的样品流速的两倍时，所形成的气幕能够较好地隔绝样品气。
[0023]经过试验测试，所述样品仓4的直径是所述保护气管12直径的3倍时，堆积在反射棱镜5和平面透镜8表面的颗粒较少，符合工艺要求。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种防止光学镜面污染的激光粒度仪，包括激光器、探测器、信号处理电路、进样管和呈圆柱体形状的样品仓，进样管插入样品仓的中心，样品仓的两侧壁上分别设置有平面透镜和反射棱镜，激光器发出的激光依次穿过平面透镜、反射棱镜和平面透镜照射在探测器上，信号处理电路将探测器接收到的光信号转变为电信号，其特征在于，所述进样管上套接有保护气管，通过保护气管向样品仓中输入保护气，保护气的流速大于进样管中的样品流速。2.根据权利要求1所述的防止光学镜面污染的激光粒度仪，其特征在于，所述保护气管伸出样品仓的一端连接有蜗壳，保护气管连接在蜗壳的中心；蜗壳的侧面连接有保护气入口，保护气入口连接在蜗壳边缘切线方向。3.根据权利要求2所述的防止光学镜面污染的激光粒度仪，其特征在于，所述保护气管与所述进样管同轴设置，保护气管...
【专利技术属性】
技术研发人员：段小君，
申请(专利权)人：苏州凯硕机电设备工程有限公司，
类型：新型
国别省市：
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