一种带限位结构的芯片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于芯片测试设备领域，尤其是一种带限位结构的芯片测试装置，针对现有的芯片测试前不能对芯片进行限位，无法将芯片进行前后左右进行移动，同时芯片和探针的位置对准后，不能对探针的高度进行调节的问题，现提出如下方案，其包括底座和依次位于底座上方的前后移动架、左右移动架以及夹持架，所述前后移动架内设有进行前后移动的前后移动组件，本实用新型专利技术中，通过第二丝杆和第一丝杆的转动，可以对夹持架上方的芯片进行移动，操作起来非常便捷，同时探针的高度进行调节，当探针的高度进行抬升时，便于两个夹持垫板对芯片进行夹持，同时当探针的高度进行下降时，便于使探针和芯片进行对接，使用起来非常便捷。使用起来非常便捷。使用起来非常便捷。

【技术实现步骤摘要】
一种带限位结构的芯片测试装置


[0001]本技术涉及芯片测试设备
，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。

技术介绍

[0002]芯片是半导体元件产品的统称，是一种将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路，随着时代的发展，科技越来越发达，芯片已经成为了现代各种电气设备上不可或缺的部件之一，其直接关系到电气设备的正常运行。
[0003]芯片在使用之前需要对其进行测试，现有的芯片测试装置在使用过程中还存在很多不足：
[0004]1.芯片测试时，需要将芯片和探针对准，现有的测试装置，在使用时不能对芯片进行限位，无法通过对芯片的移动，使芯片和探针对准，以达到对芯片进行测试。
[0005]2.芯片测试时，需要将芯片和探针对齐，然后将探针和芯片对接，现有的测试装置只对芯片的高度进行调节，不能对探针的高度进行调节，使用起来不够方便。

技术实现思路

[0006]本技术提供了一种带限位结构的芯片测试装置，解决了现有技术中存在芯片测试前不能对芯片进行限位，无法将芯片进行前后左右进行移动，同时芯片和探针的位置对准后，不能对探针的高度进行调节缺点。
[0007]本技术提供了如下技术方案：
[0008]一种带限位结构的芯片测试装置，包括底座和依次位于底座上方的前后移动架、左右移动架以及夹持架，所述前后移动架内设有进行前后移动的前后移动组件；
[0009]所述左右移动架内设有进行左右移动的左右移动组件；
[0010]所述夹持架内设有对芯片进行夹持的夹持组件；
[0011]所述底座的顶部固定连接有升降架，所述升降架内设有进行高度调节的调节组件。
[0012]在一种可能的设计中，所述前后移动组件包括转动连接前后移动架内的第二丝杆，所述第二丝杆的外壁螺纹套设有前后移动螺母，所述前后移动螺母的顶部固定连接有前后移动座，且前后移动架的顶部和前后移动座的底部滑动连接。
[0013]在一种可能的设计中，所述左右移动组件包括转动连接左右移动架内的第一丝杆，所述第一丝杆的外壁螺纹套设有左右移动螺母，所述左右移动螺母的顶部固定连接有左右移动座，且左右移动架的顶部和左右移动座滑动连接，前后移动座的顶部和左右移动架的底部固定连接。
[0014]在一种可能的设计中，所述夹持组件包括转动连接在夹持架内的双向丝杆，所述夹持架内固定连接有两个限定杆，所述双向丝杆的外壁螺纹套设有两个夹持底座，两个夹持底座分别位于双向丝杆的正反螺纹段上，且夹持底座和两个限定杆滑动套设，两个所述
夹持底座的顶部均固定连接有夹持板，两个所述夹持板相互靠近的一侧均固定连接有夹持垫板，所述夹持架的底部内壁固定连接有固定底座，所述夹持架内固定连接承接板，且承接板的两端均滑动贯穿夹持底座，且承接板的一端固定贯穿固定底座，所述夹持架的底部与左右移动座的顶部固定连接。
[0015]在一种可能的设计中，所述所述调节组件包括转动贯穿在升降架内的转动杆，所述转动杆的外壁固定套设有齿轮，所述升降架内滑动连接齿条，且齿轮和齿条相啮合，所述齿条的底部固定连接探针，所述升降架内滑动贯穿有拉杆，所述升降架内设有弹簧槽，所述转动杆的外壁设有多个限定槽，所述拉杆的一端滑动贯穿弹簧槽并和限定槽相配合，所述拉杆的外壁套设有位于弹簧槽内的弹簧，所述弹簧的一端与弹簧槽的一侧内壁固定连接，所述弹簧的另一端和拉杆的外壁固定连接。
[0016]在一种可能的设计中，所述固定底座内转动贯穿双向丝杆，所述固定底座和两个限定杆固定连接，所述固定底座的顶部固定连接放置座。
[0017]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本技术。
[0018]本技术中，设有第二丝杆和第一丝杆，通过第二丝杆和第一丝杆的转动可以对夹持架的位置进行调节，使夹持在夹持架上方的芯片和探针进行对准。
[0019]本技术中，设有齿轮，通过齿轮的转动可以调节齿条在升降架内进行上下移动，通过齿条的上下移动可以带动探针进行移动，便于对芯片进行夹持，也便于探针和芯片进行对接。
[0020]本技术中，方便对芯片位置进行调节，通过第二丝杆和第一丝杆的转动，可以对夹持架上方的芯片进行移动，操作起来非常便捷，同时探针的高度进行调节，当探针的高度进行抬升时，便于两个夹持垫板对芯片进行夹持，同时当探针的高度进行下降时，便于使探针和芯片进行对接，使用起来非常便捷。
附图说明
[0021]图1为本技术实施例所提供的一种带限位结构的芯片测试装置的三维示意图；
[0022]图2为本技术实施例所提供的一种带限位结构的芯片测试装置夹持架的三维剖视图；
[0023]图3为本技术实施例所提供的一种带限位结构的芯片测试装置左右移动架的三维剖视图；
[0024]图4为本技术实施例所提供的一种带限位结构的芯片测试装置前后移动架的三维剖视图；
[0025]图5为本技术实施例所提供的一种带限位结构的芯片测试装置升降架的三维剖视图；
[0026]图6为本技术实施例所提供的一种带限位结构的芯片测试装置升降架的部分三维剖视图。
[0027]附图标记：
[0028]1、底座；2、前后移动架；3、左右移动架；4、夹持架；5、升降架；6、夹持板；7、放置座；
8、固定底座；9、承接板；10、双向丝杆；11、限定杆；12、夹持垫板；13、夹持底座；14、第一丝杆；15、左右移动螺母；16、前后移动座；17、第二丝杆；18、前后移动螺母；19、探针；20、齿条；21、齿轮；22、转动杆；23、左右移动座；24、拉杆；25、弹簧；26、限定槽。
具体实施方式
[0029]下面结合本技术实施例中的附图对本技术实施例进行描述。
[0030]在本技术实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语、“连接”、“安装”应做广义理解，例如，“连接”可以是可拆卸地连接，也可以是不可拆卸地连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接连接。此外“连通”可以是直接连通，也可以通过中间媒介间接连通。其中，“固定”是指彼此连接且连接后的相对位置关系不变。本技术实施例中所提到的方位用语，例如，“内”、“外”、“顶”、“底”等，仅是参考附图的方向，因此，使用的方位用语是为了更好、更清楚地说明及理解本技术实施例，而不是指示或暗指所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术实施例的限制。
[0031]本技术实施例中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
[0032]在本技术实施例中，“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，包括底座(1)和依次位于底座(1)上方的前后移动架(2)、左右移动架(3)以及夹持架(4)，所述前后移动架(2)内设有进行前后移动的前后移动组件；所述左右移动架(3)内设有进行左右移动的左右移动组件；所述夹持架(4)内设有对芯片进行夹持的夹持组件；所述底座(1)的顶部固定连接有升降架(5)，所述升降架(5)内设有进行高度调节的调节组件。2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述前后移动组件包括转动连接前后移动架(2)内的第二丝杆(17)，所述第二丝杆(17)的外壁螺纹套设有前后移动螺母(18)，所述前后移动螺母(18)的顶部固定连接有前后移动座(16)，且前后移动架(2)的顶部和前后移动座(16)的底部滑动连接。3.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述左右移动组件包括转动连接左右移动架(3)内的第一丝杆(14)，所述第一丝杆(14)的外壁螺纹套设有左右移动螺母(15)，所述左右移动螺母(15)的顶部固定连接有左右移动座(23)，且左右移动架(3)的顶部和左右移动座(23)滑动连接，前后移动座(16)的顶部和左右移动架(3)的底部固定连接。4.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述夹持组件包括转动连接在夹持架(4)内的双向丝杆(10)，所述夹持架(4)内固定连接有两个限定杆(11)，所述双向丝杆(10)的外壁螺纹套设有两个夹持底座(13)，两个夹持底座(13...

【专利技术属性】
技术研发人员：牟春乔，沈焱，张改侠，谢根长，
申请(专利权)人：深圳市易赛贝尔科技有限公司，
类型：新型
国别省市：