一种集成电路可靠性分析的测试仪制造技术

技术编号:36554413 阅读:22 留言:0更新日期:2023-02-04 17:08
本实用新型专利技术公开了属于集成电路测试技术领域的一种集成电路可靠性分析的测试仪,包括底板,底板的顶部中心位置设有放置板,放置板的两侧均设有夹具,夹具的内侧设有夹板,夹具的底部两端固定连接有螺纹块,螺纹块的顶部顶端设有夹持电机,夹持电机的输出轴端固定连接有螺杆,螺杆的顶端套设有螺纹套,螺纹套的外部两侧设有限位凸起,通过夹持电机,配合螺杆和螺纹套,来对夹板的升降进行驱动,使其能够与夹具的内壁顶端形成夹持状态,从而来达到对集成电路的边沿进行夹持的目的,这样的夹持固定的方式,能够使得集成电路在测试时更加的稳定。定。定。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路可靠性分析的测试仪


[0001]本技术属于集成电路测试
,具体涉及一种集成电路可靠性分析的测试仪。

技术介绍

[0002]根据专利号CN202210558694.5公开了一种集成电路可靠性分析的测试仪及测试方法,包括测试结构底座,所述测试结构底座的正面固定安装有控制元件,所述测试结构底座的上端固定安装有支撑架,所述支撑架的上端固定安装有液压缸,所述液压缸的输出端固定安装有伸缩柱。
[0003]在对集成电路进行测试的过程中,上述技术方案还存在一定的技术缺陷,在对集成电路进行夹持固定时,夹持的稳定性较差,而且在夹持的过程中,由于集成电路的厚度非常薄,而且弹簧的弹力无法直接控制,可能会导致滑块在对集成电路夹持的过程中向上偏移,对集成电路的侧边以及边缘安装的零部件造成损坏,从而对测试结果造成影响,为此我们提出一种集成电路可靠性分析的测试仪。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种集成电路可靠性分析的测试仪,以解决上述
技术介绍
中提出上述技术方案还存在一定的技术缺陷,在对集成电路进行夹持固定时,夹持的稳定性本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路可靠性分析的测试仪,包括底板(1)、夹具(11)和螺纹套(15),其特征在于:所述底板(1)的顶部中心位置设有放置板(10),所述放置板(10)通过焊接的方式固定设置于底板(1)的顶部中心位置,所述放置板(10)的两侧均设有夹具(11),所述夹具(11)通过设有的滑槽与底板(1)滑动连接,所述夹具(11)的内侧设有夹板(12),所述夹板(12)与夹具(11)的内壁滑动连接,所述夹具(11)的底部两端固定连接有螺纹块(14),所述螺纹块(14)的顶部顶端设有夹持电机(18),所述夹持电机(18)的输出轴端固定连接有螺杆(17),所述螺杆(17)的顶端套设有螺纹套(15),所述螺纹套(15)与螺杆(17)螺旋连接,所述螺纹套(15)的外部两侧设有限位凸起(16),所述螺纹套(15)的顶部穿透夹具(11)的底部与夹板(12)的底部固定连接。2.根据权利要求1所述的集成电路可靠性分析的测试仪,其特征在于:所述底板(1)的内部设有双向螺杆(19),所述双向螺杆(19)的两端通过设有的轴承与底板(1)的内部壳体内壁活动连接,所述双向螺杆(19)的一端设有调节电机(20),所述调节电机(20)的输出轴端与双向螺杆(19)的一端固定连接,所述双向螺杆(19)的两端与螺纹块(14)螺旋连接。3.根据权利要求1所述的集...

【专利技术属性】
技术研发人员:宋鹏
申请(专利权)人:陕西希芯至成半导体科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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