【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷外壳及其封装方法
[0001]本申请属于陶瓷外壳设计加工领域,尤其涉及一种陶瓷外壳及其封装方法。
技术介绍
[0002]对于常规带引线的陶瓷封装陶瓷外壳来说,芯片PAD点到外引脚的导通路线是通过将PAD点键金属丝到键合指上进行连接,再通过陶瓷内部通孔和印刷导体的电路导通,引出到外部焊盘,陶瓷件烧结镀镍后焊接引线,进而完成整个芯片导通电路的引出。相对于键合指镀金后的低电阻率,陶瓷内部印刷导体和连接孔的方阻较大。
技术实现思路
[0003]为克服相关技术中存在的问题,本申请实施例提供了一种陶瓷外壳及其封装方法,能够有效降低电阻,实现降低电阻的要求。
[0004]本申请是通过如下技术方案实现的:
[0005]第一方面,本申请实施例提供了一种陶瓷外壳,包括:
[0006]陶瓷基板,所述陶瓷基板中部用于设置芯片;
[0007]陶瓷墙,设置在所述陶瓷基板上,所述芯片位于所述陶瓷墙围合成的空间内;
[0008]其中,所述陶瓷墙的侧面设置有开口,外部的引线能够通过所述开口引入所 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种陶瓷外壳,其特征在于,包括:陶瓷基板,所述陶瓷基板中部用于设置芯片;陶瓷墙,设置在所述陶瓷基板上,所述芯片位于所述陶瓷墙围合成的空间内;其中,所述陶瓷墙的侧面设置有开口,外部的引线能够通过所述开口引入所述空间内,使得所述芯片能够与所述引线直接键合连接。2.如权利要求1所述的陶瓷外壳,其特征在于,所述开口位于所述陶瓷墙与所述陶瓷基板接触的一侧。3.如权利要求1所述的陶瓷外壳,其特征在于,所述开口的数量为多个。4.如权利要求1所述的陶瓷外壳,其特征在于,所述开口的尺寸与所述引线相匹配,相邻的所述开口的距离与所述引线的节距一致;所述开口的高度大于等于0.15mm。5.如权利要求1所述的陶瓷外壳,其特征在于,所述陶瓷墙的高度大于等于0.40mm,所述陶瓷墙的宽度大于等于0.80mm。6.如权利要求1所述的陶瓷外壳,其特征在于,所述陶瓷...
【专利技术属性】
技术研发人员:于斐,杨振涛,刘林杰,刘旭,张佳琦,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第十三研究所,
类型:发明
国别省市:
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